[實用新型]一種用于檢測空間二孔中心距的檢具組有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201921947742.X | 申請日： | 2019-11-12 |
| 公開（公告）號： | CN211503947U | 公開（公告）日： | 2020-09-15 |
| 發(fā)明（設計）人： | 謝岳軍;包益鋒;徐春英;陳林琴 | 申請（專利權）人： | 浙江萬向系統(tǒng)有限公司;萬向集團公司 |
| 主分類號： | G01B5/14 | 分類號： | G01B5/14;G01B3/26 |
| 代理公司： | 杭州九洲專利事務所有限公司 33101 | 代理人： | 陳繼亮 |
| 地址： | 311215 浙江省*** | 國省代碼： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 檢測 空間 中心 檢具組 | ||
【權利要求書】：
1.一種用于檢測空間二孔中心距的檢具組，其特征在于：包括橫桿插銷(3)、中心距塞規(guī)(4)，橫桿插銷(3)外圓尺寸為孔B(2)的基本尺寸，中心距塞規(guī)(4)的外圓尺寸為孔A(1)的基本尺寸，中心距塞規(guī)(4)上設置有通端(41)和止端(42)。
2.根據(jù)權利要求1所述的用于檢測空間二孔中心距的檢具組，其特征在于：所述中心距塞規(guī)(4)的通端(41)平頭尺寸為19.15mm，止端(42)平頭尺寸為18.95mm。
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