[實用新型]一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備有效
| 申請號: | 201921931363.1 | 申請日: | 2019-11-08 |
| 公開(公告)號: | CN211587570U | 公開(公告)日: | 2020-09-29 |
| 發明(設計)人: | 賀佑華 | 申請(專利權)人: | 深圳市聚力能源科技有限公司 |
| 主分類號: | B07C5/34 | 分類號: | B07C5/34;B07C5/02;B07C5/38 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 518100 廣東省深圳*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 壽命 太陽能 led 燈具 導電 結構 檢測 設備 | ||
1.一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備,其特征在于,包括,
機殼(2),機殼(2)包裹在設備外圍,所述機殼(2)內設有機殼內腔(5),所述機殼內腔(5)陳放檢測設備部件,所述機殼(2)起到保護的作用;
滑板(3),滑板(3)為凸狀長板,所述滑板(3)設置在機殼內腔(5)中間偏上的部位,所述滑板(3)下端連接一號氣缸(13)和檢測裝置(11),所述滑板(3)右側連接伸縮軸(4),所述滑板(3)帶動檢測裝置(11)和一號氣缸(13)一起水平移動;
一號驅動電機(6),一號驅動電機(6)固定在機殼(2)上部右側壁上,所述一號驅動電機(6)連接伸縮軸(4)另一端,所述一號驅動電機(6)驅動伸縮軸(4)以帶動滑板(3)運動;
殘次品收集盒(10),殘次品收集盒(10)為長方形凹槽結構,所述殘次品收集盒(10)設置在機殼內腔(5)的底部,所述殘次品收集盒(10)收集不合格的導電片;
檢測盒(9),檢測盒(9)設置在殘次品收集盒(10)的正上方,所述檢測盒(9)包括,
檢測盒殼(91),所述檢測盒殼(91)由長方形板垂直交叉組成,所述長方形板將檢測盒(9)分隔成81個小空間,所述檢測盒殼(91)方便將導電片送入檢測區;
轉板(93),轉板(93)為方形薄板,所述轉板(93)設置在檢測盒殼(91)中的小空間內,所述轉板(93)通過轉軸(94)連接在檢測盒殼(91)壁上,所述轉板(93)的目的是將檢測不合格的導電片轉入到殘次品收集盒(10)內;
導電片陳放槽(92),導電片陳放槽(92)由轉板(93)和上部檢測盒殼(91)圍成的凹槽,所述導電片陳放槽(92)陳放待檢測的導電片送入檢測區。
2.根據權利要求1所述的一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備,其特征在于:所述機殼(2)頂部外壁的左側設置有電源按鈕(1),所示電源按鈕(1)控制電源;所述機殼(2)頂部外壁的右側設置有提示燈(14),所述提示燈(14)提醒使用者檢測完成。
3.根據權利要求1所述的一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備,其特征在于:所述機殼內腔(5)頂部設置有線路盒(15),所述線路盒(15)陳放電路板和線路,所述線路盒(15)對電路板和線路起到保護的作用。
4.根據權利要求1所述的一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備,其特征在于:所述滑板(3)下方連接九組一號氣缸(13)和檢測裝置(11),所述九組一號氣缸(13)和檢測裝置(11)縱向均勻排列在滑板(3)上,所述每組一號氣缸(13)和檢測裝置(11)與底部檢測盒(9)的導電片陳放槽(92)一一對應。
5.根據權利要求1所述的一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備,其特征在于:所述滑板(3)下側的機殼內腔(5)內壁的前后側有凸起長板,所述凸起長板為滑行軌道(7),所述滑行軌道(7)支撐滑板(3)滑行。
6.根據權利要求4所述的一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備,其特征在于:所述每組一號氣缸(13)和檢測裝置(11)包括,一個一號氣缸(13),一號氣缸(13)設置在滑板(3)左側,所述一號氣缸(13)目的是推壓轉板(93),將不合格的導電片轉入殘次品收集盒(10);一個檢測裝置(11),檢測裝置(11)設置在滑板(3)的右側,所述檢測裝置(11)檢測導電片結構是否合格。
7.根據權利要求6所述的一種長壽命太陽能LED燈具導電片結構檢測設備,其特征在于:所述檢測裝置(11)包括,保護外殼(111),保護外殼(111)包裹在檢測裝置(11)的上部外圍,所述保護外殼(111)頂部連接滑板(3),內側上部固定二號驅動電機(112),所述保護外殼(111)保護檢測裝置(11)內部結構;二號氣缸(113),二號氣缸(113)設置在保護外殼(111)的內部空腔中,所述二號氣缸(113)頂部通過轉軸與二號驅動電機(112)相連,所述二號氣缸(113)驅動檢測頭(114)上下移動;檢測頭(114),檢測頭(114)設置在檢測裝置(11)下部,所訴檢測頭(114)頂部連接二號氣缸(113),所述檢測頭(114)探入導電片陳放槽(92)中檢測導電片結構是否正確。
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