[實用新型]一種在線式測量設備有效
| 申請號: | 201921564069.1 | 申請日: | 2019-09-19 |
| 公開(公告)號: | CN211122593U | 公開(公告)日: | 2020-07-28 |
| 發明(設計)人: | 吳鵬輝;胡孝楠;張也;李彬;王興;陳列坤 | 申請(專利權)人: | 廣東正業科技股份有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/956 | 分類號: | G01N21/956;G01N21/892;G01B21/08 |
| 代理公司: | 北京集佳知識產權代理有限公司 11227 | 代理人: | 李赫 |
| 地址: | 523808 廣東省東*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 在線 測量 設備 | ||
本實用新型公開了一種在線式測量設備,包括入料定位機構、圖像采集機構、銅厚測試機構、Y軸移動機構、出料傳送機構和控制臺;圖像采集機構包括視覺組件和光源組件;光源組件設置在入料定位機構的下方,用于對入料定位機構上傳送的待測量的PCB板進行打光;視覺組件設置在入料定位機構的上方且位于光源組件的正上方,用于對入料定位機構上傳送的待測量的PCB板進行圖像采集;控制臺用于對視覺組件采集的圖像進行分析,并選取最佳測量點。本實用新型利用機器智能選點替代了現有的人工手動選點,無需依賴操作人員的經驗,可避免出現選錯點或漏選點的情況,對PCB板的銅厚測試提供了有力的保障,從而能夠保證PCB板的出貨質量。
技術領域
本實用新型涉及銅厚測量技術領域,尤其涉及一種在線式測量設備。
背景技術
隨著電子技術的發展和PCB板制程工藝的提高,市場對PCB板的要求也隨之提高。比如由于實際應用時發現鍍銅的效果會影響PCB板的性能,因此市場對鍍銅厚層的均勻性提出了更高的要求,因此PCB生廠商需要在PCB板的制作過程中,對PCB板的鍍銅厚度進行均勻性檢測。
目前,在檢測過程中對測量點進行選取時,傳統做法是通過操作人員在控制臺上進行手動選取,這種選取方式不僅中斷了PCB板在線測量的流暢性,且還完全依賴操作人員的經驗,有大概率的出錯風險,比如選錯點或漏選點,從而無法保證PCB板的出貨質量。
實用新型內容
本實用新型提供一種在線式測量設備,以解決現有技術的不足。
為實現上述目的,本實用新型提供以下的技術方案:
一種在線式測量設備,包括入料定位機構、圖像采集機構、銅厚測試機構、Y軸移動機構、出料傳送機構和控制臺;
所述控制臺通過通訊線纜連接所述入料定位機構、圖像采集機構、銅厚測試機構、Y軸移動機構和出料傳送機構,用于控制各機構之間的協調運作;
所述入料定位機構和出料傳送機構在同一水平面按照作業工序依次設置;
所述入料定位機構用于傳送待測量的PCB板,并對待測量的PCB板進行整板定位;
所述出料傳送機構用于傳送測量后的PCB板;
所述圖像采集機構包括視覺組件和光源組件;
所述光源組件設置在所述入料定位機構的下方,用于對所述入料定位機構上傳送的待測量的PCB板進行打光;
所述視覺組件設置在所述入料定位機構的上方且位于所述光源組件的正上方,用于對所述入料定位機構上傳送的待測量的PCB板進行圖像采集;
所述控制臺還用于對所述視覺組件采集的圖像進行分析,并選取最佳測量點;
所述銅厚測試機構設置在所述入料定位機構和出料傳送機構之間,用于移動至所述控制臺選取的最佳測量點,并對待測量的PCB板的上、下端面的銅厚數據進行測量。
進一步地,所述在線式測量設備中,所述視覺組件包括CMOS相機、鏡頭和相機支架;
所述鏡頭安裝在所述CMOS相機上,且朝向所述光源組件的方向;
所述CMOS相機固定在所述相機支架上。
進一步地,所述在線式測量設備中,所述銅厚測試機構包括上測試探頭組件和下測試探頭組件;
所述上測試探頭組件設置在所述入料定位機構和出料傳送機構之間的上方且設置在所述Y軸移動機構上,可沿XYZ三軸進行移動,用于測量待測量的PCB板的上端面的銅厚數據;
所述下測試探頭組件設置在所述入料定位機構和出料傳送機構之間的下方,可沿XZ兩軸進行移動,用于測量待測量的PCB板的下端面的銅厚數據。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于廣東正業科技股份有限公司,未經廣東正業科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201921564069.1/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種化學發光分析儀中測量室的避光密封機構
- 下一篇:一種便于換水的律動加濕器





