[實(shí)用新型]雙向劃痕檢測(cè)結(jié)構(gòu)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201921410332.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-28 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN210487634U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-08 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 王巖松;韓飛;陳莉華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 征圖新視(江蘇)科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/892 | 分類號(hào): | G01N21/892 |
| 代理公司: | 常州品益專利代理事務(wù)所(普通合伙) 32401 | 代理人: | 喬楠 |
| 地址: | 213161 江蘇省常*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 雙向 劃痕 檢測(cè) 結(jié)構(gòu) | ||
本實(shí)用新型涉及一種雙向劃痕檢測(cè)結(jié)構(gòu),包括相機(jī)組件以及光源,所述的光源與產(chǎn)品表面的水平延長(zhǎng)面之間具有夾角;所述的光源具有殼體,所述的殼體內(nèi)設(shè)置有多個(gè)發(fā)光體,所述的發(fā)光體以殼體的中心軸線為對(duì)稱軸均勻的對(duì)稱分布在殼體底部,發(fā)光體從殼體的中心軸線的兩側(cè)向內(nèi)向下照射,發(fā)光體的照射方向與殼體的中心軸線之間具有夾角。本實(shí)用新型通過(guò)多個(gè)方向的光源照射產(chǎn)品,可以呈現(xiàn)多個(gè)方向上的劃痕,提高了使用品檢機(jī)產(chǎn)品的適用性,滿足單光源解決雙方向上的劃痕檢測(cè)。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及圖像檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域,尤其是一種雙向劃痕檢測(cè)結(jié)構(gòu)。
背景技術(shù)
現(xiàn)有的劃痕成像方式和結(jié)構(gòu)只能呈現(xiàn)一個(gè)方向上的劃痕,對(duì)于工作方向的劃痕和垂直于工作方向上的劃痕不能兼顧呈現(xiàn)。這是由于劃痕是條狀的,光照從一個(gè)方向平行照射到劃痕上呈現(xiàn)的是一個(gè)方向上的漫反射,而另一個(gè)方向上由于沒(méi)有光照,將不會(huì)有劃痕形成的漫反射光線進(jìn)入到相機(jī);并且劃痕可分為縱向和橫向兩種,而單個(gè)方向照射的光源只能呈現(xiàn)單方向的劃痕,因其改變了光路方向,導(dǎo)致原本應(yīng)該向相機(jī)反射的光線反射到了其它的地方,在相機(jī)上的成像就不均勻。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型要解決的技術(shù)問(wèn)題是:提供一種雙向劃痕檢測(cè)結(jié)構(gòu),解決了可見(jiàn)光圖像中的多個(gè)方向的細(xì)淺劃痕的檢測(cè)。
本實(shí)用新型解決其技術(shù)問(wèn)題所采用的技術(shù)方案是:一種雙向劃痕檢測(cè)結(jié)構(gòu),包括相機(jī)組件以及光源,所述的光源與產(chǎn)品表面的水平延長(zhǎng)面之間具有夾角;所述的光源具有殼體,所述的殼體內(nèi)設(shè)置有多個(gè)發(fā)光體,所述的發(fā)光體以殼體的中心軸線為對(duì)稱軸均勻的對(duì)稱分布在殼體底部,發(fā)光體從殼體的中心軸線的兩側(cè)向內(nèi)向下照射,發(fā)光體的照射方向與殼體的中心軸線之間具有夾角。
進(jìn)一步的說(shuō),本實(shí)用新型所述的產(chǎn)品放置于傳輸皮帶上,所述光源的中心軸線與皮帶的夾角為15°。
進(jìn)一步的說(shuō),本實(shí)用新型所述的發(fā)光體為L(zhǎng)ED光珠。
再進(jìn)一步的說(shuō),本實(shí)用新型所述的LED光珠的照射方向呈45°角對(duì)稱設(shè)置在殼體的中心軸線的兩側(cè)。
本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)不僅向物體射入工作方向的平行光,同時(shí)也向物體射入垂直于工作方向的平行光,物體表面的劃痕得到來(lái)自兩個(gè)方向上的平行光,會(huì)向兩個(gè)方向發(fā)出漫射光線,相機(jī)可以采集到這些光線。
本實(shí)用新型的有益效果是,解決了背景技術(shù)中存在的缺陷,通過(guò)多個(gè)方向的光源照射產(chǎn)品,可以呈現(xiàn)多個(gè)方向上的劃痕,提高了使用品檢機(jī)產(chǎn)品的適用性,滿足單光源解決雙方向上的劃痕檢測(cè)。
附圖說(shuō)明
圖1是本實(shí)用新型的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖2是本實(shí)用新型光源的結(jié)構(gòu)示意圖;
圖中:1、相機(jī);2、光源;3、皮帶;4、殼體;5、光珠;6、中心軸線。
具體實(shí)施方式
現(xiàn)在結(jié)合附圖和優(yōu)選實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步詳細(xì)的說(shuō)明。這些附圖均為簡(jiǎn)化的示意圖,僅以示意方式說(shuō)明本實(shí)用新型的基本結(jié)構(gòu),因此其僅顯示與本實(shí)用新型有關(guān)的構(gòu)成。
如圖1所示的一種雙向劃痕檢測(cè)結(jié)構(gòu),包括相機(jī)1組件以及光源2,所述的光源2與產(chǎn)品表面的水平延長(zhǎng)面之間具有夾角;產(chǎn)品放置于傳輸皮帶3上,所述光源的中心軸線6與皮帶3的夾角為15°。
光源2具有殼體4,所述的殼體4內(nèi)設(shè)置有多個(gè)發(fā)光體,發(fā)光體為大顆粒LED光珠5,圖2中所示的光珠呈圓柱型。發(fā)光體以殼體的中心軸線為對(duì)稱軸均勻的對(duì)稱分布在殼體底部,LED光珠的照射方向呈45°角對(duì)稱設(shè)置在殼體的中心軸線的兩側(cè),發(fā)光體從殼體的中心軸線的兩側(cè)向內(nèi)向下照射。
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G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
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