[實用新型]一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具

有效

• 申請號: 201921402807.2
• 申請日: 2019-08-27
• 公開（公告）號: CN210719114U
• 公開（公告）日: 2020-06-09
• 發明（設計）人: 郭舒婷
• 申請（專利權）人: 橫店集團東磁股份有限公司
• 主分類號: G01B21/22
• 分類號: G01B21/22
• 代理公司: 杭州杭誠專利事務所有限公司 33109
• 代理人: 尉偉敏

1.一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具，包括裝在機殼(1)下端口的底座（8），其特征是，底座（8）上設有外壁帶有用于定位的凹槽的檢測芯軸（9），與機殼（1）的缺口對應處設有定位結構；檢具結構頂部設有帶有插孔和限位凹槽的蓋板（7）。

2.根據權利要求1所述的一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具，其特征是，所述定位結構包括上定位塊（5）和下定位塊（6）；上定位塊（5）為一端稍窄的塊狀，用于定位機殼（1）的上缺口（3）；下定位塊（6）和橫截面為梯形的下缺口（4）相適配。

3.根據權利要求1所述的一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具，其特征是，在蓋板（7）上與機殼（1）底部缺口對應的位置處設有用于插入上定位塊（5）的插孔，在底座（8）上與機殼（1）頂部缺口對應的位置處設有用于插入下定位塊（6）的插孔。

4.根據權利要求1所述的一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具，其特征是，檢測芯軸（9）為空心圓柱體，檢測芯軸（9）中間空心處為回彈槽（10），回彈柱（11）位于回彈槽（10）內，回彈柱（11）側面設有限位平面，回彈柱（11）下部設有彈簧（13）；回彈槽（10）與回彈柱（11）形狀相適配。

5.根據權利要求4所述的一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具，其特征是，回彈柱（11）側面的限位平面上設有限位滑槽（12）；回彈槽（10）的上端開口處設有和限位滑槽（12）相適配的限位凸起（14）。

6.根據權利要求5所述的一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具，其特征是，限位滑槽（12）的長度較回彈柱（11）更短，限位滑槽（12）位于回彈柱（11）靠上位置。

7.根據權利要求1至6中任一項所述的一種檢測特定機殼凸點和缺口角度的檢具，其特征是，蓋板（7）為帽狀結構，蓋板（7）邊緣設有可插入上定位塊（5）的插孔，蓋板（7）底面設有與回彈柱（11）頂部形狀相適配的圓柱狀凹槽。