[實用新型]三相分箱GIS內部導體過熱故障模擬試驗裝置

有效

• 申請號: 201921331490.8
• 申請日: 2019-08-15
• 公開（公告）號: CN211402602U
• 公開（公告）日: 2020-09-01
• 發明（設計）人: 劉凱;彭在興;王頌;金虎;易林;趙林杰;李銳海
• 申請（專利權）人: 南方電網科學研究院有限責任公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12;G01K13/00;G01J5/00
• 代理公司: 廣州三環專利商標代理有限公司 44202
• 代理人: 麥小嬋;郝傳鑫

本實用新型涉及電氣設備技術領域，公開了一種三相分箱GIS內部導體過熱故障模擬試驗裝置及方法，通過將4段母線筒依次連接，以使得在電流源施加電流時，4段所述母線筒的內部導體和4段所述母線筒的外殼形成電流回路，并通過在第二母線筒內設置過熱模擬缺陷觸頭，由于過熱模擬缺陷觸頭的模擬部的橫截面面積小于內部導體的橫截面面積，因此增大了過熱模擬缺陷觸頭的電阻，使得過熱模擬缺陷觸頭在電流作用下發熱，從而模擬實際中三相分箱GIS設備內部導體接觸不良時由于接觸電阻變大引起的發熱現象，同時通過4段所述母線筒的內部導體和4段所述母線筒的外殼形成電流回路，模擬了三相分箱GIS設備在實際運行時在外殼產生環流，因此模擬效果較好。

技術領域

本實用新型涉及電氣設備技術領域，特別是涉及一種三相分箱GIS內部導體過熱故障模擬試驗裝置。

背景技術

GIS設備因其占地面積小，運行可靠，檢修維護周期長等優點，在電力系統中得到了越來越廣泛的應用。然而，當GIS設備內部導體接觸不良時，由于接觸電阻變大，因此在負荷電流流過時會產生過熱現象，而內部導體過熱會引起絕緣老化或者直接熔融破壞GIS設備內部絕緣，從而引發短路，形成重大事故，這種過熱缺陷引發的短路故障定義為載流故障。因此，加強GIS設備內部過熱缺陷的檢測和分析、研究評估其內部熱缺陷嚴重程度的方法，對避免GIS設備發生過熱故障以及保證電網的安全穩定運行具有重要的意義。

三相分箱GIS設備是GIS設備的其中一種類型，現有的三相分箱GIS設備內部導體過熱模擬裝置一般通過增加部分導體的接觸電阻，并施加電流來引起三相分箱GIS設備的內部導體發熱，但是，發明人在實施本發明的過程中，發現三相分箱GIS設備在實際運行時會在外殼產生環流，而現有的三相分箱GIS設備內部導體過熱模擬裝置并未考慮外殼環流是否會影響內部導體發熱，即未模擬外殼環流的情形，因此模擬效果不好。

實用新型內容

本實用新型實施例的目的是提供一種三相分箱GIS內部導體過熱故障模擬試驗裝置及方法，其能夠模擬實際中三相分箱GIS設備內部導體接觸不良時由于接觸電阻變大引起的發熱現象。

為了解決上述技術問題，本實用新型實施例提供一種三相分箱GIS內部導體過熱故障模擬試驗裝置，包括電流源、4段母線筒、多個第一熱敏溫度傳感器、計算機、溫度處理分析儀以及用于檢測所述母線筒的外殼溫度的紅外成像儀，4 段所述母線筒的外殼內均設有內部導體；

4段所述母線筒分別為第一母線筒、第二母線筒、第三母線筒和第四母線筒，所述第一母線筒、所述第二母線筒、所述第三母線筒和所述第四母線筒依次連接，且所述電流源的第一端口與所述第一母線筒的內部導體電連接，所述第四母線筒的內部導體與所述第四母線筒的外殼電連接，所述電流源的第二端口與所述第一母線筒的外殼電連接，以使4段所述母線筒的內部導體和4段所述母線筒的外殼形成電流回路；

其中，所述第二母線筒的內部導體靠近所述第一母線筒的一端上設有過熱模擬缺陷觸頭，所述過熱模擬缺陷觸頭包括模擬部，所述模擬部的橫截面面積小于所述內部導體的橫截面面積，所述第二母線筒的內部導體通過所述模擬部與所述第一母線筒的內部導體電連接；

多個所述第一熱敏溫度傳感器設于所述過熱模擬缺陷觸頭和所述內部導體上，所述第一熱敏溫度傳感器與所述溫度處理分析儀電連接，所述溫度處理分析儀和所述紅外成像儀分別與所述計算機電連接。

作為優選方案，所述多個所述第一熱敏溫度傳感器設于所述過熱模擬缺陷觸頭和所述內部導體上，具體為：

每兩個所述第一熱敏溫度傳感器分別相對設置在所述過熱模擬缺陷觸頭的上下表面和所述內部導體的上下表面。

作為優選方案，所述第二母線筒的外殼的外表面上設有多個第二熱敏溫度傳感器，多個所述第二熱敏溫度傳感器與所述過熱模擬缺陷觸頭相對設置，多個所述第二熱敏溫度傳感器分別與所述溫度處理分析儀電連接。