[實(shí)用新型]一種產(chǎn)品測(cè)試裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201921248068.6 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-02 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN210514532U | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-05-12 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 付超;黃蘇芳;周楊帆;李婷;朱信偉 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 杭州萬(wàn)高科技股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/28 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/28;G05D27/02 |
| 代理公司: | 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227 | 代理人: | 張欣然 |
| 地址: | 310053 浙江省杭州市濱江*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 產(chǎn)品 測(cè)試 裝置 | ||
本實(shí)用新型公開(kāi)了一種產(chǎn)品測(cè)試裝置,包括:控制系統(tǒng)、至少一個(gè)測(cè)試單元、用于調(diào)節(jié)待測(cè)產(chǎn)品測(cè)試環(huán)境溫度和濕度的溫濕度控制箱;測(cè)試單元包括至少一個(gè)用于與待測(cè)產(chǎn)品連接的接口、用于測(cè)試測(cè)試單元所在位置溫度和濕度的基準(zhǔn)傳感器以及用于控制基準(zhǔn)傳感器工作并接收、傳遞信息的控制器;接口、基準(zhǔn)傳感器均與控制器連接,控制器和溫濕度控制箱均與控制系統(tǒng)連接。相比于現(xiàn)有技術(shù),本實(shí)用新型所提供的產(chǎn)品測(cè)試裝置中設(shè)置有基準(zhǔn)傳感器,可以精確獲得溫濕度控制箱內(nèi)部的環(huán)境溫度和環(huán)境濕度,并通過(guò)控制系統(tǒng)對(duì)溫濕度控制箱的參數(shù)進(jìn)行調(diào)整,避免了溫濕度控制箱的設(shè)定溫度和濕度與其內(nèi)部真實(shí)的溫度和濕度不一致的情況,使產(chǎn)品的測(cè)試結(jié)果更加準(zhǔn)確。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及產(chǎn)品測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,更具體地說(shuō),涉及一種產(chǎn)品測(cè)試裝置。
背景技術(shù)
隨著物聯(lián)網(wǎng)行業(yè)的蓬勃發(fā)展越來(lái)越多的嵌入式芯片被開(kāi)發(fā)出來(lái),且要求芯片在特定環(huán)境下的測(cè)試符合既定標(biāo)準(zhǔn)。目前在指定環(huán)境溫度以及指定環(huán)境濕度的條件下的芯片測(cè)試,設(shè)備昂貴,響應(yīng)緩慢。在批量測(cè)試時(shí),很難做到芯片間環(huán)境一致。
現(xiàn)有技術(shù)中,在對(duì)芯片進(jìn)行特定環(huán)境溫度、濕度的測(cè)試時(shí),一般直接將需要測(cè)試的產(chǎn)品放置于溫濕度控制箱中,溫濕度控制箱溫度調(diào)節(jié)存在嚴(yán)重滯后,且溫濕度控制箱的精度有限,在溫度和濕度的調(diào)解過(guò)程中,溫濕度控制箱內(nèi)的溫度和濕度并不一定等于所設(shè)定的溫度和濕度,且設(shè)定溫度和濕度不能代表箱內(nèi)某個(gè)點(diǎn)實(shí)時(shí)的溫度和濕度;另外,現(xiàn)有溫濕度控制箱只可以同時(shí)對(duì)有限數(shù)量系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試,當(dāng)需要對(duì)大批量的芯片測(cè)試時(shí),不能做到待測(cè)芯片環(huán)境實(shí)時(shí)同步,因此會(huì)使測(cè)試結(jié)果不準(zhǔn)確。
綜上所述,如何提高產(chǎn)品測(cè)試過(guò)程中的測(cè)試精度和效率,是目前本領(lǐng)域技術(shù)人員亟待解決的問(wèn)題。
實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此,本實(shí)用新型的目的是提供一種產(chǎn)品測(cè)試裝置,可以使產(chǎn)品在特定環(huán)境濕度和特定環(huán)境溫度下產(chǎn)品特性的測(cè)試更加精準(zhǔn)。
為了實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供如下技術(shù)方案:
一種產(chǎn)品測(cè)試裝置,包括:控制系統(tǒng)、至少一個(gè)測(cè)試單元、用于調(diào)節(jié)待測(cè)產(chǎn)品測(cè)試環(huán)境溫度和濕度的溫濕度控制箱;
所述測(cè)試單元包括至少一個(gè)用于與所述待測(cè)產(chǎn)品連接的接口、用于測(cè)試所述測(cè)試單元所在位置溫度和濕度的基準(zhǔn)傳感器以及用于控制所述基準(zhǔn)傳感器工作并接收、傳遞信息的控制器;
所述接口、所述基準(zhǔn)傳感器均與所述控制器連接,所述控制器和所述溫濕度控制箱均與所述控制系統(tǒng)連接。
優(yōu)選的,所述測(cè)試單元還包括用于測(cè)試所述待測(cè)產(chǎn)品所在位置溫度的溫度測(cè)試探頭,所述溫度測(cè)試探頭可移動(dòng)的設(shè)置于所述測(cè)試基體;
所述溫度測(cè)試探頭與所述控制器連接。
優(yōu)選的,所述測(cè)試單元還包括測(cè)試單元基體,所述測(cè)試單元基體為PCB板,所述接口、所述基準(zhǔn)傳感器和所述控制器均設(shè)置于所述PCB板上。
優(yōu)選的,所述基準(zhǔn)傳感器包括溫度傳感器和濕度傳感器,且所述溫度傳感器和所述濕度傳感器均與所述控制器連接。
優(yōu)選的,所述控制系統(tǒng)包括用于接收所述控制器及所述溫濕度控制箱信息的集中器、以及用于控制所述溫濕度控制箱工作并處理所述集中器所接收到的數(shù)據(jù)的人機(jī)交互終端;
所述集中器與所述溫濕度控制箱、所述控制器均連接,所述人機(jī)交互終端與所述集中器、所述溫濕度控制箱均連接。
優(yōu)選的,所述人機(jī)交互終端包括:
校正系數(shù)模塊:用于獲取所述溫濕度控制箱的設(shè)定溫度與其內(nèi)部實(shí)際溫度,并計(jì)算待測(cè)系統(tǒng)的校正系數(shù);
所述校正系數(shù)模塊與所述集中器及所述溫濕度控制器均連接。
優(yōu)選的,所述接口包括用于放置芯片的老化座、以及用于放置除芯片之外的產(chǎn)品的測(cè)試接口;所述老化座和所述測(cè)試接口均與所述控制器連接。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
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- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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