[實用新型]一種電子負載式老化測試模塊

有效

• 申請號: 201921153022.6
• 申請日: 2019-07-22
• 公開（公告）號: CN210465570U
• 公開（公告）日: 2020-05-05
• 發明（設計）人: 唐雄華;宋薇薇
• 申請（專利權）人: 赫頂（天津）工業技術有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R1/04
• 代理公司: 天津市尚儀知識產權代理事務所(普通合伙) 12217
• 代理人: 高正方

本實用新型公開了一種電子負載式老化測試模塊，具體涉及電子元件測試領域，包括模塊本體，所述模塊本體包括有底座、固定塊、豎向導電針和側向導電針，所述固定塊兩端均設置有轉向柱，所述轉向柱另一端設置有支撐桿，所述豎向導電針位于固定塊正上方，所述側向導電針位于固定塊兩端。本實用新型通過設有固定塊和螺桿，轉向柱會帶動一側固定連接的固定塊轉動90°，固定塊四個面均安裝有不同大小的測試模塊，使得固定塊轉動時可更換不同大小的測試模塊，操作人員可更具實際情況而選用合適的測試模塊進行檢測，適用性廣，操作人員通過轉動螺桿即可調整兩個豎向導電針之間的間距，使得豎向導電針與不同大小的電子元件的中間電極定位準確。

技術領域

本實用新型涉及電子元件測試領域，更具體地說，本實用涉及一種電子負載式老化測試模塊。

背景技術

隨著電子科技的發展，對于電子元件的穩定性和可靠性要求也越來越高，尤其是應用在航空航天事業中的產品。電子元件產品通過高溫電老化測試可以使元器件內部電極的缺陷和隱患提前暴露，保證出廠的產品能經得起時間的考驗，對于提高產品的穩定性和可靠性有很重要的意義。

專利申請公布號CN206074706U的實用新型專利公開了電子元件老化測試裝置，包括：載板和側導向板。使用該電子元件老化測試裝置，無需將電子元件焊接在PCB板上進行老化測試，只需將電子元件放置于安裝槽中，通過側向導電針和中間導電板分別與電子元件的兩個端電極電連接，然后與外接電源連接即可進行電流老化測試。

但是其在實際使用時，由于不同電子元件之間大小不同，當要測試大小不一的電子元件時，安裝槽的大小不能根據實際情況作出改變，適用性較低，適用起來較為不方便。

實用新型內容

為了克服現有技術的上述缺陷，本實用新型的實施例提供一種電子負載式老化測試模塊，本實用新型通過設有固定塊和螺桿，轉向柱會帶動一側固定連接的固定塊轉動90°，固定塊四個面均安裝有不同大小的測試模塊，使得固定塊轉動時可更換不同大小的測試模塊，操作人員可更具實際情況而選用合適的測試模塊進行檢測。

為實現上述目的，本實用新型提供如下技術方案：一種電子負載式老化測試模塊，包括模塊本體，所述模塊本體包括有底座、固定塊、豎向導電針和側向導電針，所述固定塊兩端均設置有轉向柱，所述轉向柱另一端設置有支撐桿，所述豎向導電針位于固定塊正上方，所述側向導電針位于固定塊兩端；

所述固定塊為截面形狀設置為長方形，所述固定塊四個面均設置有滑槽，所述滑槽內部設置有測試模塊，所述測試模塊與滑槽為滑動連接，所述測試模塊中部設置有導電板，所述測試模塊位于豎向導電針正下方，所述固定塊內部設置有開口，所述開口與側向導電針滑動連接，所述轉向柱外側設置有傳動帶，所述傳動帶底部設置有滾輪，所述滾輪一側設置有減速電機；

所述豎向導電針上方設置有壓板，所述豎向導電針設置為兩個，兩個所述豎向導電針頂部分別設置有第一滑塊和第二滑塊，所述第一滑塊和第二滑塊均與壓板滑動連接，所述第一滑塊和第二滑塊內部均設置有螺桿，所述第一滑塊通過正螺槽與螺桿螺紋連接，所述第二滑塊通過反螺槽與螺桿螺紋連接。

在一個優選地實施方式中，所述壓板頂部設置有第一電動推桿，所述第一電動推桿輸出軸與壓板固定連接，所述第一電動推桿底部設置有支撐架，所述支撐架底部固定在底座上。

在一個優選地實施方式中，所述側向導電針一端設置有支架，所述支架底部設置有第二電動推桿，所述第二電動推桿輸出軸與支架固定連接。

在一個優選地實施方式中，所述轉向柱與支撐桿連接處設置有軸承，所述支撐桿底部固定在底座上。

在一個優選地實施方式中，所述側向導電針、豎向導電針和導電板均通過導線均與外界電源連接。

在一個優選地實施方式中，所述兩個豎向導電針沿著壓板垂直中心對稱分布。

在一個優選地實施方式中，所述測試模塊兩側均設置有凸起。