[實用新型]一種芯片貼膜裝置有效
| 申請號: | 201921103731.3 | 申請日: | 2019-07-15 |
| 公開(公告)號: | CN209963030U | 公開(公告)日: | 2020-01-17 |
| 發明(設計)人: | 陸海;葉瑾琳 | 申請(專利權)人: | 浙江光特科技有限公司;重慶電子工程職業學院 |
| 主分類號: | H01L21/67 | 分類號: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 33274 紹興普華聯合專利代理事務所(普通合伙) | 代理人: | 韓云涵 |
| 地址: | 312000 浙江省紹興市*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 電動推桿 承片平臺 可伸縮軸 平臺底座 膜環 本實用新型 支撐座 圓弧形結構 磁吸方式 連接固定 芯片貼膜 保護膜 貼膜 | ||
本實用新型公開了一種芯片貼膜裝置,包括平臺底座、承片平臺和電動推桿,所述平臺底座的上方設有承片平臺,所述承片平臺的上方設有支撐座,所述支撐座的頂部為圓弧形結構,所述平臺底座的兩側設有電動推桿,所述電動推桿上設有調節開關,所述電動推桿包括有可伸縮軸,所述可伸縮軸的上方設有磁性擴膜環,所述磁性擴膜環與可伸縮軸通過磁吸方式連接固定,兩個所述磁性擴膜環上放置有保護膜。本實用新型能提高貼膜質量要求,并且成本較低,實用性強。
技術領域
本實用新型涉及半導體封裝貼膜領域,尤其是涉及一種芯片貼膜裝置。
背景技術
單顆管芯進行封裝之前,需要對整半導體芯片進行切割劈裂。一般在切割解理之前會對芯片進行貼膜,使芯片背面貼附在具有一定粘性的藍色或白色PVC保護膜上。在切割劈裂之前做固定芯片作用,在切割劈裂之后做防止單顆管芯脫落的用處。
其中一種傳統的貼膜工藝,分為背面貼膜、正面貼膜。
背面貼膜,在下層放置一張保護膜,粘性面朝上,將芯片背面朝下,水平放置于粘性面上,貼膜后進行其他工序作業。
正面貼膜,將上述背面貼膜的芯片正面朝上,用另一張保護膜粘性面朝下,水平覆蓋于芯片正面,貼膜后使用背面進行其他工序作業。
此種傳統貼膜工藝主要采用人工手動操作,依賴于操作者的熟練程度。因此,有一定的弊端:保護膜未經過適當拉伸,與芯片表面接觸時由于膜表面形變過大易產生空洞,使芯片與膜之間出現密閉的氣泡,影響后面的作業質量。如果采用自動化貼膜機,則大大增加了設備成本。雖然經過相應的工藝改善,在手動操作的條件下沒有得到根本解決,仍然依賴操作的熟練程度。
實用新型內容
本實用新型的目的在于克服上述現有技術的不足,提供一種芯片貼膜裝置,既能最大限度滿足貼膜質量要求,又不用增加過多成本采購自動化設備。
為了實現上述目的,本實用新型采用如下技術方案:
一種芯片貼膜裝置,包括平臺底座、承片平臺和電動推桿,其特征在于:所述平臺底座的上方設有承片平臺,所述承片平臺的上方設有支撐座,所述支撐座的頂部為圓弧形結構,所述平臺底座的兩側設有電動推桿,所述電動推桿上設有調節開關,所述電動推桿包括可伸縮軸,所述可伸縮軸的上方設有磁性擴膜環,所述磁性擴膜環與可伸縮軸通過磁吸方式連接固定,兩個所述磁性擴膜環上放置有保護膜。
所述磁性擴膜環的數量為兩個。
本實用新型的有益效果是:對保護膜進行擴張拉伸后通過磁性擴膜環固定,使保護膜保持拉伸狀態,當保護膜覆蓋在芯片表面進行貼合時,可以減小膜的形變程度;支撐座頂部采用圓弧形結構,加上可調移動距離的伸縮軸,既可以有效減少膜間氣泡的產生和遺留,提高操作質量,又可以減少對人工嫻熟的依賴程度,操作簡便,節約了自動設備的成本。
附圖說明
圖1為本實用新型的結構示意圖;
圖2為本實用新型的芯片背面貼膜示意圖;
圖3本實用新型的芯片正面貼膜示意圖。
圖中:平臺底座1、承片平臺2、支撐座3、調節開關4、電動推桿5、可伸縮軸6、磁性擴膜環7、保護膜8、芯片9
具體實施方式
下面結合附圖和具體實施方式對本實用新型作進一步描述:
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于浙江光特科技有限公司;重慶電子工程職業學院,未經浙江光特科技有限公司;重慶電子工程職業學院許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201921103731.3/2.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇:一種簡易的抽真空裝置
- 下一篇:一種新型芯片清洗裝置
- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





