[實(shí)用新型]玻璃基板表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201920834383.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-06-04 |
| 公開(公告)號(hào): | CN210015060U | 公開(公告)日: | 2020-02-04 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 洪亞德;陳松巖;潘書萬 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 廈門福信光電集成有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01N21/958 | 分類號(hào): | G01N21/958 |
| 代理公司: | 35224 廈門致群專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人: | 劉兆慶;鄧貴琴 |
| 地址: | 361000 福建省廈門*** | 國省代碼: | 福建;35 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 光源 相機(jī) 光源控制器 數(shù)據(jù)采集卡 玻璃基板 主計(jì)算機(jī) 玻璃基板表面 缺陷檢測(cè)系統(tǒng) 時(shí)鐘分配模塊 數(shù)據(jù)處理單元 信號(hào)同步單元 本實(shí)用新型 模擬信號(hào)端 千兆交換機(jī) 并行方式 等距排列 同步采集 圖像數(shù)據(jù) 相機(jī)視野 透射型 計(jì)算機(jī) 基板 前級(jí) 垂直 采集 | ||
本實(shí)用新型公開了一種玻璃基板表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),包括相機(jī)及光源,還包括:數(shù)據(jù)處理單元,其包括主計(jì)算機(jī)及M臺(tái)通過千兆交換機(jī)與主計(jì)算機(jī)相連的從計(jì)算機(jī);M個(gè)光源控制器,每個(gè)光源控制器控制N個(gè)光源;各光源控制器控制N個(gè)光源;M個(gè)與M臺(tái)從計(jì)算機(jī)一一對(duì)應(yīng)的數(shù)據(jù)采集卡,各數(shù)據(jù)采集卡連接N個(gè)相機(jī)的模擬信號(hào)端,其以并行方式獲取N個(gè)相機(jī)所采集的圖像數(shù)據(jù);信號(hào)同步單元,其通過一前級(jí)時(shí)鐘分配模塊為各數(shù)據(jù)采集卡提供同步采集信號(hào);M×N個(gè)相機(jī)沿垂直于玻璃基板的輸送方向等距排列在玻璃基板的上方;各光源均為透射型光源,其對(duì)應(yīng)于相機(jī)分布在玻璃基板的下方;M與N滿足以下關(guān)系:M×N×W相機(jī)視野>W(wǎng)基板寬度。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及機(jī)器視覺領(lǐng)域,具體涉及一種玻璃基板表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng)。
背景技術(shù)
液晶顯示器的應(yīng)用日趨廣泛,已經(jīng)逐步替代了CRT顯示器。玻璃基板作為液晶顯示器的載體,其對(duì)表面質(zhì)量的要求非常高,要求表面無明顯劃傷、污點(diǎn),缺陷應(yīng)在微米級(jí)。
傳統(tǒng)的玻璃基板多通過激光掃描或多組靜態(tài)傳感器來實(shí)現(xiàn)檢測(cè),其多采用人工比對(duì)缺陷分析光束圖和標(biāo)準(zhǔn)缺陷光束圖而識(shí)別缺陷,速度較慢,主觀性強(qiáng),同時(shí)受聚光燈的分辨率影響較大,影響檢測(cè)效率與結(jié)果。
因此,采用多相機(jī)構(gòu)建機(jī)器視覺系統(tǒng)是可行性較高的一種方案,與傳統(tǒng)機(jī)器視覺系統(tǒng)相比,其要解決的核心問題有:
1、如何保證每一個(gè)攝像機(jī)采集的圖像的位置在基板的前進(jìn)方向上是精確同步的,否則會(huì)由于采集圖像的錯(cuò)位而帶來誤判;
2、由于玻璃基板的幅面很寬,需檢出的缺陷等級(jí)精度高,導(dǎo)致了需要采用較高分辨率的相機(jī),因而其數(shù)據(jù)量很大,如何防止所采集的圖像數(shù)據(jù)發(fā)生擁堵,實(shí)時(shí)地將圖像數(shù)據(jù)輸送到數(shù)據(jù)處理單元進(jìn)行處理;
3、玻璃基板為高反射體,采用傳統(tǒng)的照明系統(tǒng)易導(dǎo)致圖像失真,如何提高檢測(cè)精度。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于提供一種可同步采集圖像且實(shí)時(shí)傳輸?shù)牟AЩ灞砻嫒毕輽z測(cè)系統(tǒng)。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型采用以下技術(shù)方案:
玻璃基板表面缺陷檢測(cè)系統(tǒng),包括相機(jī)及光源,還包括:
數(shù)據(jù)處理單元,其包括主計(jì)算機(jī)、千兆交換機(jī)及M臺(tái)從計(jì)算機(jī),所述M臺(tái)從計(jì)算機(jī)通過千兆交換機(jī)與所述主計(jì)算機(jī)相連;
M個(gè)光源控制器,其通過CAN總線與所述主計(jì)算機(jī)相連;每個(gè)光源控制器控制N個(gè)光源;
M個(gè)數(shù)據(jù)采集卡,其與所述M臺(tái)從計(jì)算機(jī)一一對(duì)應(yīng)相連,每個(gè)數(shù)據(jù)采集卡連接N個(gè)相機(jī)的模擬信號(hào)端;所述數(shù)據(jù)采集卡以并行方式獲取所述N個(gè)相機(jī)所采集的圖像數(shù)據(jù);
信號(hào)同步單元,其通過一前級(jí)時(shí)鐘分配模塊為各數(shù)據(jù)采集卡提供同步采集信號(hào);
M×N個(gè)相機(jī)沿垂直于玻璃基板的輸送方向等距排列在玻璃基板的上方;M×N個(gè)光源均為透射型光源,其對(duì)應(yīng)于M×N個(gè)相機(jī)分布在玻璃基板的下方;
M與N滿足以下關(guān)系:M×N×W相機(jī)視野>W(wǎng)基板寬度。
進(jìn)一步地,各數(shù)據(jù)采集卡包括PCI接口、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、邏輯控制模塊、后級(jí)時(shí)鐘分配模塊及多路A/D轉(zhuǎn)換器;所述PCI接口、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、邏輯控制模塊及多路A/D轉(zhuǎn)換器依次相連,所述后級(jí)時(shí)鐘分配模塊分別與邏輯控制模塊及多路A/D轉(zhuǎn)換器相連;各數(shù)據(jù)采集卡通過其PCI接口與其對(duì)應(yīng)的從計(jì)算機(jī)相連,各數(shù)據(jù)采集卡通過其多路A/D轉(zhuǎn)換器與N個(gè)相機(jī)的模擬信號(hào)端相連,各數(shù)據(jù)采集卡通過其后級(jí)時(shí)鐘分配模塊與所述前級(jí)時(shí)鐘分配模塊相連。
進(jìn)一步地,所述邏輯控制模塊為FPGA模塊,所述數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊為雙口RAM。
進(jìn)一步地,所述相機(jī)為雙線掃描相機(jī)。
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- 同類專利
- 專利分類
G01N 借助于測(cè)定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測(cè)試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測(cè)試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測(cè)試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測(cè)試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測(cè)試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長(zhǎng)發(fā)生變化的系統(tǒng)
G01N21-75 .材料在其中經(jīng)受化學(xué)反應(yīng)的系統(tǒng),測(cè)試反應(yīng)的進(jìn)行或結(jié)果
G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)
- 一種基于多相機(jī)的產(chǎn)品全方位觀察和測(cè)量方法及裝置
- 一種基于多相機(jī)的產(chǎn)品全方位觀察和測(cè)量裝置
- 車載相機(jī)校正裝置、圖像生成裝置、車載相機(jī)校正方法、圖像生成方法
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