[實用新型]一種芯片外觀檢測設備

有效

• 申請號: 201920777005.3
• 申請日: 2019-05-28
• 公開（公告）號: CN210207695U
• 公開（公告）日: 2020-03-31
• 發明（設計）人: 韓駿
• 申請（專利權）人: 蘇州市福殷潤自動化設備有限公司
• 主分類號: B07C5/02
• 分類號: B07C5/02;B07C5/34;B07C5/36
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

本實用新型公開了一種芯片外觀檢測設備。本實用新型的技術方案是：包括機架，機架上設置有上料機構、引腳檢測機構、字符檢測機構、挑料機構以及下料機構；引腳檢測機構包括可變距吸嘴模塊以及針腳檢測相機組，可變距吸嘴模塊包括若干個并排設置的吸嘴；字符檢測機構包括能夠夾持住萃盤的X軸輸送模塊以及攜帶有字符檢測相機的Y軸行走模塊；挑料機構包括連接有挑料吸頭的XYZ軸行走模塊、與X軸輸送模塊連通的下料輸送帶以及萃盤放置區；下料機構包括下料輸送帶以及設置在下料輸送帶末端的萃盤收集區，萃盤收集區包括自動復位卡扣以及設置在萃盤收集區下部且能夠頂升萃盤的頂升模塊。本實用新型提供的方案自動化程度高且檢測效率高。

技術領域

本實用新型涉及視覺檢測技術領域，特別涉及一種半導體行業固態硬盤芯片的外觀檢測設備。

背景技術

芯片中IC引腳的平面度和正位度是影響線路板組裝質量的一個重要因素，如何在生產過程中在線檢測IC引腳的平面度和正位度，從而控制和提高產品的表面質量一直是電子行業非常關注的內容。現有技術中采用傳統的檢測方法進行人工檢測，這種方法存在很多的問題：檢測效率不高；檢測結果容易受到人的主觀因素影響；檢測人員的勞動強度大；檢測標準人工很難把握等。因此為了克服這些問題，如何設計一種基于視覺和伺服控制運動系統的芯片外觀自動檢測設備正是本發明人所要解決的問題。

實用新型內容

針對現有技術存在的不足，本實用新型的主要目的在于提供一種檢測效率高且全程自動化運行的芯片外觀檢測設備。

為實現上述目的，本實用新型提供了如下技術方案：一種芯片外觀檢測設備，包括機架，所述機架上設置有上料機構、引腳檢測機構、字符檢測機構、挑料機構以及下料機構，所述上料機構包括設置在機架上的支撐架，所述支撐架上設置有能夠帶動若干個堆疊設置的萃盤升降的升降模塊以及能夠夾緊或松開萃盤兩邊的阻擋模塊，所述升降模塊能夠帶動萃盤進入萃盤下方的雙列輸送帶上，每一萃盤中陣列設置有多個待檢測芯片；所述引腳檢測機構包括可變距吸嘴模塊以及針腳檢測相機組，所述可變距吸嘴模塊包括若干個并排設置的吸嘴，所述雙列輸送帶上設置有能夠固定住萃盤的氣爪；所述字符檢測機構包括能夠夾持住萃盤的X軸輸送模塊以及攜帶有字符檢測相機的Y軸行走模塊；所述挑料機構包括連接有挑料吸頭的XYZ軸行走模塊、與所述X軸輸送模塊連通的下料輸送帶以及萃盤放置區，所述萃盤放置區包括良品放置盤、針腳不良放置盤以及字符不良放置盤；所述下料機構包括下料輸送帶以及設置在下料輸送帶末端的萃盤收集區，所述萃盤收集區包括自動復位卡扣以及設置在萃盤收集區下部且能夠頂升萃盤的頂升模塊。

優選的，所述升降模塊包括伺服電缸以及與伺服電缸連接的頂板，所述伺服電缸設置在雙列輸送帶的中間，所述阻擋模塊包括設置在支撐架上且能夠夾持住雙列輸送帶上的最底部的萃盤的阻擋氣缸。

優選的，所述可變距吸嘴模塊包括驅動動力源、與驅動動力源連接的變距驅動板、直線導柱以及套設在直線導柱上的一排吸嘴，所述變距驅動板上設置有若干個導向槽，相鄰導向槽之間的間距在同一水平方向上相同且從下往上逐漸變大，所述吸嘴上設置有插設在對應導向槽內的導向桿。

優選的，所述頂升模塊包括伺服電缸以及與伺服電缸連接的頂塊。

優選的，所述下料輸送帶上設置有與X軸輸送模塊對應的對齊機構，所述對齊機構包括能夠與X軸輸送模塊上的萃盤抵接的擋塊以及與擋塊相對設置的推料氣缸，所述推料氣缸連接有能夠抵接萃盤拐角處的帶有V形槽的推塊。