[實用新型]一種小基站測試裝置和系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201920728796.0 | 申請日: | 2019-05-20 |
| 公開(公告)號: | CN209526892U | 公開(公告)日: | 2019-10-22 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 肖凱;馮健;李志祺 | 申請(專利權(quán))人: | 武漢虹信通信技術(shù)有限責任公司 |
| 主分類號: | H04W24/06 | 分類號: | H04W24/06;H04B17/00 |
| 代理公司: | 北京路浩知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11002 | 代理人: | 苗青盛;張睿 |
| 地址: | 430073 湖北省*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 小基站 測試裝置 上行測試 試驗盒 屏蔽 下行 測試 測試鏈路 鏈路模塊 本實用新型 測試平臺 測試數(shù)據(jù) 測試誤差 測試效率 連接信號 人工操作 人員培養(yǎng) 頻譜儀 節(jié)約 | ||
本實用新型實施例提供一種小基站測試裝置和系統(tǒng),其中,小基站測試裝置包括屏蔽試驗盒,以及屏蔽試驗盒內(nèi)設(shè)置的上行測試鏈路模塊和下行測試鏈路模塊;上行測試鏈路模塊用于連接信號源對屏蔽試驗盒內(nèi)部的待測小基站進行上行測試;下行測試鏈路模塊用于連接頻譜儀對待測小基站進行下行測試。本實用新型實施例提供的小基站測試裝置和系統(tǒng),避免了因干擾造成的測試誤差,確保測試數(shù)據(jù)的準確性。此外,該裝置在屏蔽試驗盒中設(shè)置了上行測試鏈路模塊和下行測試鏈路模塊,簡化了小基站測試平臺的搭建步驟,提高了測試效率,節(jié)約了測試時間,降低了測試人員的操作步驟,避免了由于人工操作造成的誤差,降低了對測試人員的要求,縮短了測試人員培養(yǎng)周期。
技術(shù)領(lǐng)域
本實用新型涉及移動通信技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種小基站測試裝置和系統(tǒng)。
背景技術(shù)
小基站(small cell)是一種從產(chǎn)品形態(tài)、發(fā)射功率、覆蓋范圍等方面,都小于傳統(tǒng)宏基站的基站設(shè)備。小基站體積小,部署靈活,不用局限于宏基站的站址問題,可以靈活部署在人群建筑密集的地方,有針對性地補充宏基站信號弱覆蓋區(qū)域、覆蓋盲點,保證信號質(zhì)量,并在熱點區(qū)域?qū)嵭蓄l率復用,提升容量,幫助宏基站分流。
當前的小基站測試規(guī)范中,小基站的射頻測試包括發(fā)射機和接收機的測試,即對應基站信號的前向鏈路測試和反向鏈路測試。對于射頻測試,其一,不管是傳統(tǒng)的直放站,還是目前新型的小基站,測試人員不僅要非常清楚行業(yè)標準中的測試規(guī)范和測試方法,而且還必須極其熟練地掌握對測試儀表的操作以及各種復雜測試環(huán)境的搭建,射頻測試對于測試人員具有較高的專業(yè)要求;其二,測試環(huán)境的搭建需要耗費大量時間,特別是上下行測試環(huán)境的切換;其三,在小基站射頻測試中,有用信號容易受到周遭環(huán)境的影響,導致測試數(shù)據(jù)不準確。
實用新型內(nèi)容
本實用新型實施例提供一種小基站測試裝置和系統(tǒng),用以解決現(xiàn)有的小基站測試對測試人員要求高、環(huán)境搭建耗時、有用信號容易受到環(huán)境影響的問題。
第一方面,本實用新型實施例提供一種小基站測試裝置,包括屏蔽試驗盒,以及所述屏蔽試驗盒內(nèi)設(shè)置的上行測試鏈路模塊和下行測試鏈路模塊;
所述上行測試鏈路模塊用于連接信號源對所述屏蔽試驗盒內(nèi)部的待測小基站進行上行測試;所述下行測試鏈路模塊用于連接頻譜儀對所述待測小基站進行下行測試。
優(yōu)選地,所述屏蔽試驗盒內(nèi)還設(shè)置有包括測試切換開關(guān);
所述測試切換開關(guān)分別與所述上行測試鏈路模塊、所述下行測試鏈路模塊與所述待測小基站連接;
所述測試切換開關(guān)用于控制所述待測小基站與所述上行測試鏈路模塊和所述下行測試鏈路模塊之間的連接。
優(yōu)選地,所述上行測試鏈路模塊包括第一上行測試鏈路模塊,所述第一上行測試鏈路模塊包括隔離器和第一上行衰減器;
所述隔離器的一端用于連接主信號源,所述隔離器的另一端與所述第一上行衰減器的一端連接,所述第一上行衰減器的另一端與所述測試切換開關(guān)連接。
優(yōu)選地,所述上行測試鏈路模塊還包括第二上行測試鏈路模塊和功分器;
所述第二上行測試鏈路模塊包括干擾信號源開關(guān)、第二上行衰減器、第三上行衰減器、上行帶阻濾波器和上行鏈路選擇開關(guān);其中,所述干擾信號源開關(guān)用于控制干擾信號源與所述第二上行衰減器和所述第三上行衰減器之間的連接,所述第二上行衰減器與所述上行鏈路選擇開關(guān)連接,所述第三上行衰減器通過所述上行帶阻濾波器與所述上行鏈路選擇開關(guān)連接;
所述功分器的一端分別與所述第一上行衰減器與所述上行鏈路選擇開關(guān)連接,所述功分器的另一端與所述測試切換開關(guān)連接。
優(yōu)選地,所述下行測試鏈路模塊包括頻譜儀連接開關(guān)、下行衰減器、下行帶阻濾波器和下行鏈路選擇開關(guān);
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