[實(shí)用新型]光纖式雙模態(tài)成像系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201920457054.9 | 申請日: | 2019-04-04 |
| 公開(公告)號: | CN210071646U | 公開(公告)日: | 2020-02-14 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊少壯;李辰 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市太赫茲科技創(chuàng)新研究院有限公司;深圳市太赫茲科技創(chuàng)新研究院 |
| 主分類號: | G01N21/27 | 分類號: | G01N21/27;G01N21/64 |
| 代理公司: | 44237 深圳中一專利商標(biāo)事務(wù)所 | 代理人: | 李海寶 |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市寶安*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 激光脈沖 熒光 雙模態(tài)成像系統(tǒng) 太赫茲激光脈沖 光纖激光器 太赫茲信號 光纖 太赫茲波 熒光模塊 熒光信號 分束 光纖傳輸模塊 成像模式 成像設(shè)備 傳輸激光 多維信息 高分辨率 緊密耦合 樣品信息 耦合 分束器 脈沖 多維 聚焦 傳輸 | ||
一種光纖式雙模態(tài)成像系統(tǒng),所述光纖式雙模態(tài)成像系統(tǒng)包括:用于發(fā)出激光脈沖的光纖激光器;與光纖激光器連接,用于傳輸激光脈沖的光纖傳輸模塊;用于將激光脈沖進(jìn)行分束得到太赫茲激光脈沖和熒光激光脈沖的第一分束器;用于對太赫茲激光脈沖進(jìn)行分束和傳輸以得到太赫茲波,并將太赫茲波與樣品發(fā)生作用以獲得太赫茲信號的太赫茲模塊;用于接收熒光激光脈沖,并將熒光激光脈沖聚焦在樣品以產(chǎn)生熒光信號的熒光模塊;以及與太赫茲模塊和熒光模塊連接,用于對太赫茲信號和熒光信號進(jìn)行耦合以獲取樣品的多維信息的成像設(shè)備;光纖式雙模態(tài)成像系統(tǒng)將太赫茲和熒光兩種成像模式進(jìn)行緊密耦合,可同時(shí)獲得多維高分辨率樣品信息。
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型屬于太赫茲波成像技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種光纖式雙模態(tài)成像系統(tǒng)。
背景技術(shù)
太赫茲波是一種電磁波,由于太赫茲波具有特定的頻率,許多非極性材料對于太赫茲波的吸收程度較小,通過太赫茲波能夠探測材料的內(nèi)部空間結(jié)構(gòu)以及材料的組成成分,并且在對材料進(jìn)行檢測的過程中不會對于材料的結(jié)構(gòu)造成損壞;因此太赫茲波被廣泛地應(yīng)用在材料的分析和鑒別等各個(gè)工業(yè)技術(shù)領(lǐng)域;太赫茲波與各種物理材料發(fā)生相互作用后,經(jīng)過材料輻射出的太赫茲波攜帶了各種材料的物理信息,進(jìn)而根據(jù)太赫茲波就可實(shí)現(xiàn)對于物理材料的細(xì)微變化進(jìn)行精確監(jiān)控;所述太赫茲波可用于物品鑒定、材料學(xué)、安全檢查等各個(gè)領(lǐng)域,給人們的生活帶來了極大地便利,并且太赫茲波成像技術(shù)也成為目前技術(shù)人員的重點(diǎn)研究方向。
另一方面,熒光成像也是一種應(yīng)用較廣的成像技術(shù),具有成像成本低廉、對于目標(biāo)物的輪廓檢測和成像較為清晰的優(yōu)點(diǎn);然而在傳統(tǒng)技術(shù)對于物品進(jìn)行成像、識別過程中,無論是太赫茲波成像還是熒光成像等,其光傳輸方式都采用自由空間光傳輸,這種光傳輸抖動和光學(xué)鏡片的偏差會導(dǎo)致系統(tǒng)的穩(wěn)定性較差,且光成像系統(tǒng)偏于臃腫,集成化程度較低,電路系統(tǒng)的集成化程度較低,不利于實(shí)際應(yīng)用;另外,傳統(tǒng)的太赫茲波成像系統(tǒng)和熒光成像系統(tǒng)均為獨(dú)立系統(tǒng),無法同時(shí)滿足實(shí)際應(yīng)用過程中的大尺度和高分辨率的需求,且獲得的樣品信息單一,進(jìn)而極大地限制了太赫茲波成像技術(shù)和熒光成像技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用,并且對于材料的結(jié)構(gòu)檢測精度和效率較低。
實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此,本實(shí)用新型實(shí)施例提供了一種光纖式雙模態(tài)成像系統(tǒng),旨在解決傳統(tǒng)的技術(shù)方案對于物體進(jìn)行太赫茲波成像或者熒光成像時(shí),光成像系統(tǒng)偏于臃腫、穩(wěn)定性差、集成化程度較低、檢測精度和成像分辨率較低、以及無法同時(shí)獲取多維信息等方面的問題。
本實(shí)用新型實(shí)施例的第一方面提供了一種光纖式雙模態(tài)成像系統(tǒng),包括:
用于發(fā)出激光脈沖的光纖激光器;
與所述光纖激光器連接,用于傳輸所述激光脈沖的光纖傳輸模塊;
與所述光纖傳輸模塊連接,用于將所述激光脈沖進(jìn)行分束得到太赫茲激光脈沖和熒光激光脈沖的第一分束器;
與所述第一分束器連接,用于對所述太赫茲激光脈沖進(jìn)行分束和傳輸以得到太赫茲波,并將所述太赫茲波與樣品發(fā)生作用以獲得太赫茲信號的太赫茲模塊;
與所述第一分束器連接,用于接收所述熒光激光脈沖,并將所述熒光激光脈沖聚焦在所述樣品以產(chǎn)生熒光信號的熒光模塊;以及
與所述太赫茲模塊和所述熒光模塊連接,用于對所述太赫茲信號和所述熒光信號進(jìn)行耦合以獲取所述樣品的多維信息的成像設(shè)備。
在其中的一個(gè)實(shí)施例中,所述光纖傳輸模塊包括:多條依次連接的、用于傳輸所述激光脈沖的第一傳輸光纖;
所述太赫茲模塊包括:多條依次連接的,用于傳輸所述太赫茲激光脈沖的第二傳輸光纖;
所述熒光模塊包括:多條依次連接的,用于傳輸所述熒光激光脈沖的第三傳輸光纖。
在其中的一個(gè)實(shí)施例中,所述光纖傳輸模塊還包括:
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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