[發(fā)明專利]服務(wù)器的測試方法與裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201711189552.1 | 申請日： | 2017-11-24 |
| 公開（公告）號： | CN108052423A | 公開（公告）日： | 2018-05-18 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 胡仕偉 | 申請（專利權(quán)）人： | 英業(yè)達科技有限公司;英業(yè)達股份有限公司 |
| 主分類號： | G06F11/22 | 分類號： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京國昊天誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11315 | 代理人： | 許志勇;李有財 |
| 地址： | 201114 上海市閔*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 服務(wù)器 測試 方法 裝置 | ||
本發(fā)明公開了一種服務(wù)器的測試方法，包括下列步驟。建立PCIE裝置的預(yù)設(shè)裝置標(biāo)識符和預(yù)設(shè)傳輸速度。對PCIE裝置進行重新啟動測試及上電循環(huán)測試，以取得測試裝置識別符和測試傳輸速度。將預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符比對。當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符不相同時，產(chǎn)生第一錯誤檢測結(jié)果。當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符相同時，將預(yù)設(shè)傳輸速度與測試傳輸速度比對，以產(chǎn)生測試結(jié)果。通過本發(fā)明，以解決現(xiàn)有技術(shù)存在的無法有效地檢測出PCIE裝置是否存在其他缺陷的問題。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及服務(wù)器測試的技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種服務(wù)器的測試方法與裝置。
背景技術(shù)
一般來說，在PCIE裝置在制作完成后，會對PCIE進行測試，以便確認(rèn)PCIE裝置是否有異常狀態(tài)。對于檢測PCIE裝置的現(xiàn)行做法來說，只是單獨的用供貨商提供的工具或者linux系統(tǒng)自帶的工具，檢測PCIE裝置在循環(huán)測試中是否存在，盤符及位置順序是否有改變。
然而，僅檢測PCIE的盤符和位置順序，這樣的檢測方式過于簡單，無法有效地檢測出PCIE裝置是否存在其他缺陷，如此將會降低出貨質(zhì)量且會造成終端用戶使用異常而降低用戶的體驗觀感。因此，對PCIE裝置進行檢測仍有改善的空間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的主要目的在于提供一種服務(wù)器的測試方法與裝置，以解決現(xiàn)有技術(shù)存在的無法有效地檢測出PCIE裝置是否存在其他缺陷的問題。
為解決上述問題，本發(fā)明實施例提供一種服務(wù)器的測試方法，包括下列步驟。建立PCIE裝置的預(yù)設(shè)裝置標(biāo)識符和預(yù)設(shè)傳輸速度。對PCIE裝置進行重新啟動測試及上電循環(huán)測試，以取得測試裝置識別符和測試傳輸速度。將預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符比對。當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符不相同時，產(chǎn)生第一錯誤檢測結(jié)果。當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符相同時，將預(yù)設(shè)傳輸速度與測試傳輸速度比對，以產(chǎn)生測試結(jié)果。
在一實施例中，將預(yù)設(shè)傳輸速度與測試傳輸速度比對，以產(chǎn)生測試結(jié)果的步驟包括下列步驟。當(dāng)預(yù)設(shè)傳輸速度與測試傳輸速度不相同時，產(chǎn)生第二錯誤檢測結(jié)果。當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符相同時，產(chǎn)生成功檢測結(jié)果。
在一實施例中，所述上電測試包括直流測試、交流測試或直流和交流測試。
在一實施例中，對所述PCIE裝置進行重新啟動測試及上電循環(huán)測試還包括對PCIE裝置進行一預(yù)設(shè)次數(shù)的重新啟動測試及上電循環(huán)測試。
在一實施例中，所述PCIE裝置包括SATA硬盤、SAS硬盤、顯示卡。
本發(fā)明實施例還提供一種服務(wù)器的測試裝置，包括建立單元、檢測單元與比對單元。建立單元建立PCIE裝置的預(yù)設(shè)裝置標(biāo)識符和預(yù)設(shè)傳輸速度。檢測單元耦接PCIE裝置，對PCIE裝置進行重新啟動測試及上電循環(huán)測試，以取得測試裝置識別符和測試傳輸速度。比對單元耦接建立單元與檢測單元，接收預(yù)設(shè)裝置標(biāo)識符、預(yù)設(shè)傳輸速度、測試裝置識別符和測試傳輸速度，并將預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符比對，當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符不相同時，產(chǎn)生第一錯誤檢測結(jié)果，以及當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符相同時，將預(yù)設(shè)傳輸速度與測試傳輸速度比對，以產(chǎn)生測試結(jié)果。
在一實施例中，當(dāng)預(yù)設(shè)傳輸速度與測試傳輸速度不相同，單元產(chǎn)生第二錯誤檢測結(jié)果；當(dāng)預(yù)設(shè)裝置識別符與測試識別符相同時，比對單元產(chǎn)生成功檢測結(jié)果。
在一實施例中，所述上電測試包括直流測試、交流測試或直流和交流測試。
在一實施例中，所述檢測單元對PCIE裝置進行重新啟動測試及上電循環(huán)測試還包括對PCIE裝置進行一預(yù)設(shè)次數(shù)的重新啟動測試及上電循環(huán)測試。
在一實施例中，所述PCIE裝置包括SATA硬盤、SAS硬盤、顯示卡。
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