[實用新型]一種用于碳化硅晶圓測試的載物臺有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201920400600.5 | 申請日: | 2019-03-27 |
| 公開(公告)號: | CN209471932U | 公開(公告)日: | 2019-10-08 |
| 發(fā)明(設計)人: | 王翼;李赟;趙志飛;李忠輝 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第五十五研究所 |
| 主分類號: | H01L21/66 | 分類號: | H01L21/66;H01L21/673;H01L21/68 |
| 代理公司: | 南京理工大學專利中心 32203 | 代理人: | 陳鵬 |
| 地址: | 210016 *** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 定距桿 碳化硅 晶圓 載物臺臺面 晶圓測試 滑道 轉軸 定位槽 載物臺 同心圓 本實用新型 電機驅動 固定螺絲 基座連接 平行線段 位置誤差 中心連接 定位邊 滑動 夾取 載物 背面 升降 | ||
1.一種用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,包括載物臺臺面(1)、定距桿(2)、定距桿滑道(3)、定位槽(4)、轉軸(6)和基座(7);載物臺臺面(1)上設置有多個同心圓,定距桿(2)配有固定螺絲(5),定距桿可在對應的定距桿滑道(3)上滑動,對碳化硅晶圓進行定位,定距桿滑道(3)上標有刻度;所述定位槽(4)刻有多條平行線段;轉軸(6)頂部與載物臺臺面(1)背面中心連接,通過電機驅動載物臺臺面(1)升降和旋轉,轉軸(6)底部與基座(7)連接。
2.根據(jù)權利要求1所述的用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,定距桿(2)和定距桿滑道(3)數(shù)量均為4個,定距桿滑道(3)均勻分布在載物臺臺面(1)上,相鄰定距桿滑道(3)的夾角為90°。
3.根據(jù)權利要求1或2所述的用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,固定螺絲(5)設置在載物臺背面或者側面,和定距桿(2)連接。
4.根據(jù)權利要求1所述的用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,基座(7)上配有傳送帶(12),由電機驅動,帶動轉軸(6)移動。
5.根據(jù)權利要求1所述的用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,所示定位槽(4)設置在兩個定距桿滑道(3)之間。
6.根據(jù)權利要求5所述的用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,定位槽(4)的平行線段至少為5條,平行線段間隔不大于3mm。
7.根據(jù)權利要求1、5或6所述的用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,定位槽(4)的寬度為10-30mm,深度為5mm。
8.根據(jù)權利要求1所述的用于碳化硅晶圓測試的載物臺,其特征在于,定距桿(2)的高度為2-5mm,直徑為1mm。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





