[實用新型]帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201920243693.5 | 申請日： | 2019-02-26 |
| 公開（公告）號： | CN209233023U | 公開（公告）日： | 2019-08-09 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 王志艷 | 申請（專利權(quán)）人： | 深圳市金豐達電子有限公司 |
| 主分類號： | H01R13/405 | 分類號： | H01R13/405;H01R13/627;H01R13/629;H01R13/502 |
| 代理公司： | 北京和信華成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11390 | 代理人： | 胡劍輝 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 電路板 老化測試 觸點孔 膠芯座 后殼 連接設(shè)備 插頭殼 觸點 前管 嵌入 連接器 本實用新型 一體成型的 布局形式 布線問題 可拆卸的 螺釘固定 使用壽命 塑膠外殼 端子組 接觸點 可插入 可拆卸 內(nèi)電路 扁形 兩排 銅柱 置入 對稱 | ||
1.帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，其包括基體及USB插頭，所述USB插頭包括膠芯座、端子組及塑膠制成的、可拆卸更換的外殼，所述端子組嵌入于膠芯座內(nèi)，所述膠芯座包括扁形的前管以及方塊，所述前管與方塊一體成型，所述外殼包括一體成型的插頭殼和后殼，所述膠芯座的前管嵌入到插頭殼中，所述方塊置入固定在后殼內(nèi)，所述后殼通過螺釘固定在基體上；所述基體內(nèi)設(shè)置一電路板，所述電路板正面的一側(cè)邊的中間位置設(shè)有觸點A1至A12，所述電路板背面的對應(yīng)位置設(shè)有觸點B1至B12；所述觸點A1至A12及觸點B1至B12用于焊接并電連接USB插頭；所述電路板的中間設(shè)有兩排可插入銅柱的對稱的觸點孔，觸點孔電連接觸點A1至A12和觸點B1至B12，所述觸點孔貫穿電路板正面與背面并連通電路板正面與背面；第一排觸點孔依次序為CC1、S-、S+、Vbus、GND和CC2，第二排觸點孔依次為D+、D-、BNC+和BNC-。
2.如權(quán)利要求1所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，所述端子組由若干金屬端子組成，所述金屬端子呈長條片狀，所述金屬端子的前端設(shè)有板狀凸起的觸點，所述觸點凸起方向垂直于金屬端子的長度方向，所述金屬端子的尾端用于點焊在電路板上，在靠近金屬端子尾端處設(shè)有一個方形凸臺板，所述凸臺板的凸起方向垂直于金屬端子長度方向并與觸點凸起方向相反。
3.如權(quán)利要求2所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，所述金屬端子的前端嵌入于前管內(nèi)，所述金屬端子的凸臺板嵌入于所述方塊內(nèi)，所述金屬端子的尾端外露于方塊之外。
4.如權(quán)利要求2所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，所述前管設(shè)有通道，所述方塊設(shè)有方形腔，所述通道與方形腔連通，所述金屬端子前端置入于通道中，所述金屬端子的凸臺板嵌入于方形腔中并且凸臺板抵頂于方形腔靠近前管的內(nèi)壁。
5.如權(quán)利要求1所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，所述觸點孔CC1與觸點A5電連接，觸點孔S-分別與觸點A1和觸點孔BNC-電連接，觸點孔S+分別與觸點A4、觸點孔BNC+和觸點孔Vbus電連接，觸點孔Vbus分別與觸點A9、觸點孔BNC+和觸點孔S+電連接，觸點孔GND與觸點孔BNC-電連接，觸點孔CC2與觸點B5電連接，觸點孔D+與觸點A6電連接，觸點孔D-與觸點A7電連接；觸點A1穿過電路板并與觸點B12電連接，觸點A12穿過電路板并與觸點B1電連接。
6.如權(quán)利要求5所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，觸點A1穿過電路板并通過電阻R107與觸點B12電連接，觸點A12穿過電路板并通過電阻R110與觸點B1電連接；所述觸點孔BNC-通過電阻R105與觸點孔GND電連接，所述觸點孔BNC-通過電阻R106與觸點孔S-電連接；所述觸點孔BNC+通過電阻R102與觸點孔S+電連接，所述觸點孔BNC+通過電阻R103與觸點孔Vbus電連接，所述觸點孔Vbus通過電阻R108與觸點孔S+電連接。
7.如權(quán)利要求1所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，所述基體還包括蓋板和底板，所述電路板夾在蓋板與底板之間，電路板正面朝向于蓋板，電路板背面朝向于底板，所述電路板上插接的銅柱均貫穿蓋板并外露于蓋板之外。
8.如權(quán)利要求7所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，所述蓋板上對應(yīng)觸點A1至A12的位置上設(shè)有讓位槽；所述底板上對應(yīng)觸點B1至B12的位置上同樣設(shè)有讓位槽。
9.如權(quán)利要求7所述的帶有可換外殼USB插頭的老化測試連接設(shè)備，其特征在于，第二排觸點孔下方中間的位置穿入一個主螺釘和一個等高銅套，所述主螺釘穿入等高銅套中，所述等高銅套貫穿蓋板、電路板和底板，所述主螺釘末端外露于底板之外。
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