[實用新型]一種射頻測試裝置

有效

• 申請號: 201920197124.1
• 申請日: 2019-02-14
• 公開（公告）號: CN209151175U
• 公開（公告）日: 2019-07-23
• 發明（設計）人: 李福民
• 申請（專利權）人: 歌爾智能科技有限公司
• 主分類號: H04B17/15
• 分類號: H04B17/15;H04B17/29
• 代理公司: 青島聯智專利商標事務所有限公司 37101
• 代理人: 張翠紅

1.一種射頻測試裝置，用于具有分離的射頻饋電點和接地點的主板的測試，其特征在于，包括射頻測試板和射頻連接器；所述射頻測試板上布設有饋電微帶線且具有過孔金屬化地；所述射頻連接器連接至所述饋電微帶線的一端且匹配成與所述饋電微帶線的阻抗一致的阻抗，所述主板的射頻饋電點連接至所述饋電微帶線的另一端且匹配成與所述饋電微帶線的阻抗一致的阻抗，所述主板的接地點連接至所述過孔金屬化地且匹配成與所述饋電微帶線的阻抗一致的阻抗。

2.根據權利要求1所述的射頻測試裝置，其特征在于，所述饋電微帶線的阻抗為50歐姆。

3.根據權利要求1所述的射頻測試裝置，其特征在于，還包括所述射頻測試板設置在內的金屬屏蔽盒、饋電點探針、接地點探針、第一射頻絕緣子和第二射頻絕緣子；所述射頻連接器安裝在所述金屬屏蔽盒上且其饋針穿過所述金屬屏蔽盒的一側壁與所述饋電微帶線的一端連接；第一射頻絕緣子和第二射頻絕緣子分別嵌入在金屬屏蔽盒的一側壁上開設的通孔內；所述饋電點探針的一端與所述饋電微帶線的另一端連接，另一端穿插所述第一射頻絕緣子伸出所述金屬屏蔽盒與所述主板上的射頻饋電點連接；所述接地點探針的一端與所述過孔金屬化地連接，另一端穿插第二射頻絕緣子伸出所述金屬屏蔽盒與所述主板的接地點連接。

4.根據權利要求3所述的射頻測試裝置，其特征在于，所述金屬屏蔽盒為方形盒；所述射頻連接器安裝在所述金屬屏蔽盒上且其饋針穿過所述金屬屏蔽盒的第一側壁與所述饋電微帶線的一端連接；所述金屬屏蔽盒上的第二側壁上開設有第一通孔和第二通孔；所述第一側壁不同于第二側壁；所述第一射頻絕緣子嵌入所述第一通孔，所述第二射頻絕緣子嵌入所述第二通孔。

5.根據權利要求3所述的射頻測試裝置，其特征在于，在所述饋電微帶線的另一端畫有第一焊錫邊框，且在所述過孔金屬化地處畫有第二焊錫邊框，所述饋電點探針的一端焊接至所述第一焊錫邊框內，所述接地點探針的一端焊接至所述第二焊錫邊框內。

6.根據權利要求3-5中任一項所述的射頻測試裝置，其特征在于，所述金屬屏蔽盒包括金屬屏蔽蓋和金屬屏蔽本體，所述金屬屏蔽蓋通過螺釘安裝至所述金屬屏蔽本體。

7.根據權利要求3-5中任一項所述的射頻測試裝置，其特征在于，所述射頻連接器為SMA射頻連接器，其通過所述SMA射頻連接器的法蘭盤安裝在所述金屬屏蔽盒上。

8.根據權利要求7所述的射頻測試裝置，其特征在于，所述SMA射頻連接器的型號為SMA-KFD164XL。

9.根據權利要求3-5中任一項所述的射頻測試裝置，其特征在于，所述射頻測試板上開設安裝孔，螺釘穿過所述安裝孔將所述射頻測試板固定在所述金屬屏蔽盒內。