[實用新型]顯微透過率測試儀及顯微透過率測試支架

有效

• 申請號: 201920152121.6
• 申請日: 2019-01-28
• 公開（公告）號: CN209471041U
• 公開（公告）日: 2019-10-08
• 發明（設計）人: 魯玉俠;李香莉
• 申請（專利權）人: 廣州玉科儀器有限公司
• 主分類號: G01N21/27
• 分類號: G01N21/27;G01N21/01;G01N21/59
• 代理公司: 廣州華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 李丹

1.一種顯微透過率測試支架，其特征在于，包括：

安裝架，形成有安裝口，所述安裝口用于安裝發射測試光的測試光源；

產品臺，開設有通光孔；

背景光源，用于發射背景光，所述背景光源位于所述產品臺背向于所述安裝口的一側，所述背景光源能夠相對于所述產品臺移動，以使所述背景光通過所述通光孔；及

光接收件，位于所述產品臺背向于所述安裝口的一側，所述光接收件能夠相對于所述產品臺移動，以使所述光接收件接收通過所述通光孔的所述測試光。

2.根據權利要求1所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，還包括遮光筒，所述遮光筒罩設于所述背景光源外，所述遮光筒靠近所述產品臺的一端上開設有出光口。

3.根據權利要求1所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，所述光接收件包括積分球，所述積分球上開設有用于使所述測試光進入的收光口，所述積分球用于與光譜儀連接。

4.根據權利要求1至3任一項所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，還包括底座及可移動地設置于所述底座上的移動平臺，所述背景光源及所述光接收件均設置于所述移動平臺上。

5.根據權利要求4所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，還包括設置于所述底座上的限位件，所述限位件包括分別位于所述移動平臺相對兩側的第一限位部及第二限位部，所述第一限位部及所述第二限位部均用于與所述移動平臺相抵，以對所述移動平臺限位。

6.根據權利要求5所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，還包括第一磁吸件及第二磁吸件，所述第一磁吸件及所述第二磁吸件均用于吸合所述移動平臺，所述第一磁吸件設置于所述第一限位部上，所述第二磁吸件設置于所述第二限位部上。

7.根據權利要求1至3任一項所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，所述安裝架包括導光筒及物鏡，所述物鏡設置于所述導光筒的一端上，所述導光筒的另一端形成所述安裝口。

8.根據權利要求7所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，還包括遮光套，所述遮光套套設于所述物鏡外，所述遮光套至所述產品臺的距離小于所述物鏡至所述產品臺的距離。

9.根據權利要求7所述的顯微透過率測試支架，其特征在于，所述導光筒包括外筒及內筒，所述內筒的一端伸入所述外筒內，所述內筒伸入所述外筒內的長度可改變。

10.一種顯微透過率測試儀，其特征在于，包括：

如權利要求1至9任一項所述的顯微透過率測試支架；

測試光源，安裝于所述安裝口處；

光譜儀，與所述光接收件連接；及

相機，設置于所述安裝架上，所述相機朝向所述通光孔。