[實(shí)用新型]一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201920121413.3 | 申請(qǐng)日: | 2019-01-24 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN209590217U | 公開(kāi)(公告)日: | 2019-11-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 汪良恩;黃亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 安徽安芯電子科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/28 | 分類號(hào): | G01R31/28;G01R1/04 |
| 代理公司: | 上海華誠(chéng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 31300 | 代理人: | 陳國(guó)俊 |
| 地址: | 247100 安徽省池州市*** | 國(guó)省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 盒體 氮?dú)?/a> 氮?dú)膺M(jìn)氣管 測(cè)試芯片 測(cè)試盒 電性 本實(shí)用新型 測(cè)試 側(cè)面設(shè)置 測(cè)試領(lǐng)域 打火現(xiàn)象 電性測(cè)試 盒體頂部 芯片電性 芯片燒壞 氮?dú)夤?/a> 底面 通孔 銅盤(pán) 體內(nèi) 芯片 透明 外部 失敗 | ||
1.一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒,其特征在于,包括盒體(1),所述盒體(1)為透明設(shè)置且不設(shè)置底面,盒體(1)的側(cè)面設(shè)置通孔,盒體(1)頂部設(shè)置氮?dú)膺M(jìn)氣管(6),所述氮?dú)膺M(jìn)氣管(6)與外部氮?dú)夤襁B接,盒體(1)內(nèi)設(shè)置測(cè)試銅盤(pán)(7)。
2.如權(quán)利要求1所述的一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒,其特征在于,所述盒體(1)為透明亞克力板材質(zhì)。
3.如權(quán)利要求2所述的一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒,其特征在于,所述盒體(1)側(cè)面的通孔數(shù)量為兩個(gè),分別為第一通孔(2)和第二通孔(4),第一通孔(2)為矩形,其長(zhǎng)和寬分別為2厘米和1.5厘米,第二通孔(4)為圓形,其直徑為9厘米。
4.如權(quán)利要求3所述的一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒,其特征在于,所述第一通孔(2)上設(shè)置第一海綿(3),所述第一海綿(3)的周邊與第一通孔(2)固接,第一海綿(3)的中心位置處設(shè)置第一海綿通孔(31),所述第一海綿通孔(31)的長(zhǎng)和寬分別為1.6厘米和1.3厘米。
5.如權(quán)利要求3所述的一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒,其特征在于,所述第二通孔(4)上設(shè)置第二海綿(5),所述第二海綿(5)的周邊與第二通孔(4)固接,第二海綿(5)的中心位置處設(shè)置第二海綿通孔(51),所述第二海綿通孔(51)的直徑為7.3厘米。
6.如權(quán)利要求1-5任一所述的一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒,其特征在于,所述盒體(1)的側(cè)面底部設(shè)置密封條(8)。
7.如權(quán)利要求6所述的一種用于測(cè)試芯片電性的氮?dú)鉁y(cè)試盒,其特征在于,所述密封條(8)為熱塑性三元乙丙橡膠密封條。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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