[發(fā)明專利]航天器對(duì)接電位控制試驗(yàn)方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911420401.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-31 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111060773A | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 梁曉鋒;王宏佳;王林濤;王志瑩 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 北京空間技術(shù)研制試驗(yàn)中心 |
| 主分類號(hào): | G01R31/00 | 分類號(hào): | G01R31/00;B64G5/00 |
| 代理公司: | 北京謹(jǐn)誠(chéng)君睿知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 11538 | 代理人: | 陸鑫;延慧 |
| 地址: | 100094 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 航天器 對(duì)接 電位 控制 試驗(yàn) 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種航天器對(duì)接電位控制試驗(yàn)方法,包括步驟:a.搭建電位控制試驗(yàn)系統(tǒng);b.模擬航天器在軌充電;c.模擬航天器在軌對(duì)接;d.測(cè)試放電電流特性。根據(jù)本發(fā)明的航天器對(duì)接電位控制試驗(yàn)方法,對(duì)航天器在軌對(duì)接時(shí)電位控制在地面進(jìn)行了試驗(yàn)驗(yàn)證,其相關(guān)研究成果經(jīng)工程轉(zhuǎn)化后,可應(yīng)用于未來(lái)航天器對(duì)接電位控制的試驗(yàn)驗(yàn)證,保證航天器對(duì)接電位控制性能滿足要求。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及航天電氣領(lǐng)域,尤其涉及一種航天器對(duì)接電位控制試驗(yàn)方法。
背景技術(shù)
在空間運(yùn)行的航天器與周圍等離子體、太陽(yáng)輻射、高能帶電粒子等環(huán)境因素的相互作用下,導(dǎo)致電荷在航天器表面上積累,使航天器表面與空間等離子體間出現(xiàn)相對(duì)電位差。低軌道航天器的絕對(duì)電位對(duì)獨(dú)立運(yùn)行的航天器造成的影響不大,但當(dāng)兩個(gè)攜帶不等量電荷的航天器在LEO軌道對(duì)接時(shí),積累在兩個(gè)航天器表面的電荷會(huì)瞬間在兩個(gè)帶電體之間發(fā)生轉(zhuǎn)移,產(chǎn)生瞬間放電。這種瞬間放電產(chǎn)生的電脈沖會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)烈的寬帶電磁輻射,造成航天器陷入工作異常。
針對(duì)此情況,采用不同電壓等級(jí)的兩個(gè)航天器對(duì)接時(shí),需要對(duì)對(duì)接時(shí)的瞬間放電進(jìn)行抑制,最大限度的降低瞬間放電電流,確保航天器對(duì)接時(shí)工作正常。目前采用的方法為兩個(gè)航天器對(duì)接時(shí),首先通過(guò)一個(gè)電阻對(duì)放電的能量進(jìn)行抑制,消耗掉絕大部分能量,從而通過(guò)兩個(gè)航天器艙體的能量減小,確保了航天器對(duì)接時(shí)的工作安全。
考慮到無(wú)法采用真實(shí)的航天器艙體及真空環(huán)境對(duì)對(duì)接電位控制方法進(jìn)行驗(yàn)證,因此需要在地面采用一種試驗(yàn)方法,根據(jù)航天器的設(shè)計(jì),模擬航天器的帶電容量、航天器接觸過(guò)程,選擇合適的對(duì)接電阻阻值,驗(yàn)證對(duì)接時(shí)放電電流幅值及放電時(shí)長(zhǎng),以確保選擇的電阻阻值合理,放電時(shí)電流幅值、時(shí)長(zhǎng)滿足要求,可以保證對(duì)接時(shí)兩個(gè)航天器工作正常。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于解決上述無(wú)法采用真實(shí)的航天器艙體及真空環(huán)境對(duì)對(duì)接電位控制方法進(jìn)行試驗(yàn)的問(wèn)題,提供一種航天器對(duì)接電位控制試驗(yàn)方法。
為實(shí)現(xiàn)上述發(fā)明目的,本發(fā)明提供一種航天器對(duì)接電位控制試驗(yàn)方法,包括以下步驟:
a.搭建電位控制試驗(yàn)系統(tǒng);
b.模擬航天器在軌充電;
c.模擬航天器在軌對(duì)接;
d.測(cè)試放電電流特性。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,在所述a步驟中,包括:
搭建對(duì)在軌航天器在軌充電情況進(jìn)行模擬的在軌航天器子系統(tǒng);
搭建對(duì)來(lái)訪航天器在軌充電情況進(jìn)行模擬的在軌來(lái)訪航天器子系統(tǒng);
搭建對(duì)航天器對(duì)接過(guò)程進(jìn)行模擬的對(duì)接子系統(tǒng)。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,在所述b步驟中,包括:模擬在軌航天器在軌充電和模擬來(lái)訪航天器在軌充電;
模擬在軌航天器在軌充電時(shí),設(shè)置直流電源電壓與航天器供電電壓相同,電阻值為1kΩ,電容值與在軌航天器的等效電容值相同;
模擬來(lái)訪航天器在軌充電時(shí),設(shè)置直流電源電壓與來(lái)訪航天器供電電壓相同,電阻值為1kΩ,電容值與在軌航天器的等效電容值相同。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,在所述c步驟中,通過(guò)設(shè)置對(duì)接頭裝置進(jìn)行航天器在軌對(duì)接,對(duì)接頭裝置根據(jù)實(shí)際航天器對(duì)接接觸時(shí)的接觸特性進(jìn)行配置,航天器對(duì)接接觸時(shí)為一個(gè)點(diǎn)對(duì)一個(gè)面的接觸,對(duì)接頭裝置一端為尖狀的金屬體、另外一端為柱狀的金屬體。
根據(jù)本發(fā)明的一個(gè)方面,在所述d步驟中,配置開關(guān)及泄放電阻,對(duì)對(duì)接放電進(jìn)行控制,泄放電阻的選值與對(duì)接放電系統(tǒng)中實(shí)際使用的電阻值相同,同時(shí)在泄放電阻與在軌航天器之間使用示波器測(cè)試放電瞬間的電流波形。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于北京空間技術(shù)研制試驗(yàn)中心,未經(jīng)北京空間技術(shù)研制試驗(yàn)中心許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911420401.1/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 對(duì)接焊接裝置、對(duì)接焊接方法及對(duì)接焊接制品
- 氣管對(duì)接口自動(dòng)對(duì)接機(jī)
- 氣管對(duì)接口自動(dòng)對(duì)接機(jī)
- 光纜對(duì)接裝置及對(duì)接方法
- 管道對(duì)接設(shè)備及其對(duì)接工藝
- 衛(wèi)星對(duì)接結(jié)構(gòu)、對(duì)接衛(wèi)星及對(duì)接方法
- 衛(wèi)星對(duì)接結(jié)構(gòu)及對(duì)接衛(wèi)星
- 精準(zhǔn)對(duì)接組件、精準(zhǔn)對(duì)接裝置及對(duì)接方法
- 對(duì)接頭及信號(hào)對(duì)接裝置
- 對(duì)接頭和對(duì)接盤





