[發明專利]一種顯示面板及顯示裝置

有效

• 申請號: 201911415562.1
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN111126342B
• 公開（公告）日: 2022-10-28
• 發明（設計）人: 林孚銀;林少庭;王海亮;劉博智
• 申請（專利權）人: 廈門天馬微電子有限公司
• 主分類號: G06V10/147
• 分類號: G06V10/147;G06V40/13
• 代理公司: 北京允天律師事務所 11697
• 代理人: 王萌

1.一種顯示面板，其特征在于，包括：

相對設置的陣列基板和保護蓋板，所述保護蓋板位于所述陣列基板的出光面一側；

位于所述陣列基板朝向或背離所述保護蓋板一側的指紋識別單元，所述指紋識別單元用于根據接收的探測光線進行指紋檢測；

位于所述保護蓋板背離所述陣列基板一側的光學結構，所述光學結構用于增加所述指紋識別單元接收的探測光線的反射量；

所述光學結構的折射率大于空氣的折射率，且小于預設折射率，所述預設折射率為操作體的折射率；所述操作體包括指紋圖案，所述指紋圖案包括指紋谷和指紋脊；

所述光學結構的厚度為第一預設厚度，所述第一預設厚度為使所述探測光線在所述光學結構中的光程滿足第一預設條件的厚度，所述第一預設條件為所述探測光線的波長的正整數倍；

當所述光學結構的折射率大于所述保護蓋板的折射率時，所述第一預設厚度為n為大于0的正整數，λ表示預設波長；

當所述探測光線為單色光時，所述預設波長為所述探測光線的波長；

當所述探測光線為復色光時，所述預設波長的取值范圍為所述探測光線的波長范圍；

或，

所述光學結構的折射率大于空氣的折射率，且小于預設折射率，所述預設折射率為操作體的折射率；所述操作體包括指紋圖案，所述指紋圖案包括指紋谷和指紋脊；

所述光學結構的厚度為第一預設厚度，所述第一預設厚度為使所述探測光線在所述光學結構中的光程滿足第一預設條件的厚度，所述第一預設條件為所述探測光線的半波長的正整數倍；

當所述光學結構的折射率小于所述保護蓋板的折射率時，所述第一預設厚度為n為大于0的正整數，λ表示預設波長；

當所述探測光線為單色光時，所述預設波長為所述探測光線的波長；

當所述探測光線為復色光時，所述預設波長的取值范圍為所述探測光線的波長范圍；

或，

所述探測光線包括多個不同波長的探測子光線，多個所述探測子光線的從1開始依次編號；

所述光學結構包括從所述保護蓋板表面起，依次堆疊的多層第四光學膜，多層所述第四光學膜從1開始依次編號；

多層所述第四光學膜的折射率均大于空氣的折射率，且小于所述預設折射率，所述預設折射率為操作體的折射率；所述操作體包括指紋圖案，所述指紋圖案包括指紋谷和指紋脊；

多層所述第四光學膜的折射率自所述保護蓋板表面起依次遞減或依次遞增；

編號為i的第四光學膜的厚度為第二預設厚度，所述第二預設厚度為使編號為i的探測子光線在所述光學結構中的光程滿足第二預設條件的厚度，所述第二預設條件為編號為i的探測子光線的波長的正整數倍，i＝1、2……；

當所述光學結構的等效折射率大于所述保護蓋板的折射率時，所述第二預設厚度為n為大于0的正整數，λ表示編號為i的探測子光線的波長；

或，

所述探測光線包括多個不同波長的探測子光線，多個所述探測子光線的從1開始依次編號；

所述光學結構包括從所述保護蓋板表面起，依次堆疊的多層第四光學膜，多層所述第四光學膜從1開始依次編號；

多層所述第四光學膜的折射率均大于空氣的折射率，且小于所述預設折射率，所述預設折射率為操作體的折射率；所述操作體包括指紋圖案，所述指紋圖案包括指紋谷和指紋脊；

多層所述第四光學膜的折射率自所述保護蓋板表面起依次遞減或依次遞增；

編號為i的第四光學膜的厚度為第二預設厚度，所述第二預設厚度為使編號為i的探測子光線在所述光學結構中的光程滿足第二預設條件的厚度，所述第二預設條件為編號為i的探測子光線的半波長的正整數倍，i＝1、2……；

當所述光學結構的等效折射率小于所述保護蓋板的折射率時，所述第二預設厚度為n為大于0的正整數，λ表示編號為i的探測子光線的波長。

2.根據權利要求1所述的顯示面板，其特征在于，所述光學結構的折射率大于所述保護蓋板的折射率。

3.根據權利要求2所述的顯示面板，其特征在于，所述光學結構為單層膜結構或多層膜結構。

4.根據權利要求3所述的顯示面板，其特征在于，當所述光學結構為多層膜結構時；

所述光學結構包括多層依次堆疊的第一光學膜，且所述光學結構中相鄰所述第一光學膜的折射率不同；

所述多層第一光學膜的等效折射率大于所述保護蓋板的折射率。