[發明專利]一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置

在審

• 申請號: 201911413410.8
• 申請日: 2019-12-31
• 公開（公告）號: CN111014219A
• 公開（公告）日: 2020-04-17
• 發明（設計）人: 朱袁正;占四兵;朱久桃;王效勇
• 申請（專利權）人: 無錫電基集成科技有限公司
• 主分類號: B08B15/02
• 分類號: B08B15/02;B23K26/16;B23K26/362
• 代理公司: 無錫市匯誠永信專利代理事務所(普通合伙) 32260
• 代理人: 朱曉林

1.一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：包括吸塵組件和集塵組件；

所述吸塵組件包括吸塵腔體及其支架，所述吸塵腔體右側面下部設有真空接口，頂面上設有開口，底面上設有吸塵口，所述開口上設有透明密封蓋且開口的縱向中心線與吸塵口的縱向中心線位于同一直線上，所述吸塵腔體內設有吸塵管路和真空管路，所述吸塵管路的底端與吸塵口連通，中部與真空管路的左端連通，上端延伸至吸塵腔體內部上部，所述真空接口的一端與真空管路的右端連通；

所述集塵組件包括相匹配的蓋板和箱體，所述蓋板與箱體的接合面上設有密封結構，所述蓋板與箱體通過鎖緊結構鎖緊，所述箱體的左側面上設有進氣口，右側面上設有出氣口，所述進氣口通過軟管與真空接口的另一端相連，所述出氣口與工廠真空動力管路相連，所述箱體內部位于進氣口與出氣口之間的相對的兩個側面上設有相對的插槽，所述插槽用于鑲嵌初效過濾器，所述初效過濾器頂部抵接在蓋板上，底部抵接在箱體底部。

2.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述支架的高度可調且與吸塵腔體的連接角度可調。

3.根據權利要求2所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述支架包括水平底板、伸縮連接桿、角度調節板和水平連接板，所述伸縮連接桿豎直設置且固定部安裝于水平底板上，所述角度調節板豎直設置，上部開設有安裝孔，下部開設有弧形滑槽，頂部固定于水平連接板底面上，所述伸縮連接桿的伸縮部頂部抵接在水平連接板的底面上且伸縮部自上而下設有第一固定孔和第二固定孔，所述第一固定孔與安裝孔相匹配，所述第二固定孔與弧形滑槽相匹配，通過第一螺栓與第一固定孔、安裝孔相配合，第二螺栓與第二固定孔、弧形滑槽相配合，實現伸縮連接桿與角度調節板的連接和連接角度調整，所述水平連接板的頂部與吸塵腔體的底部連接。

4.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述開口的面積≤吸塵腔體頂面面積。

5.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述吸塵口上匹配有用于調節吸塵口大小的擋板，所述擋板中部開孔，四周與吸塵口密封連接。

6.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述吸塵腔體頂面為從左向右傾斜的斜面，相應地設有吸塵口的吸塵腔體底面處為斜面。

7.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述吸塵腔體的左側面上部設有用于清潔透明密封蓋的吹氣除塵口，所述吹氣除塵口通過管路與氣源相連，所述管路上設置有電磁閥。

8.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述密封結構為密封墊圈。

9.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述鎖緊結構包括相匹配的卡槽和插片，所述卡槽設于箱體相對的兩個外側面上，相應地所述插片設于蓋板相對的兩個外側面上。

10.根據權利要求1所述的一種用于半導體測試分選機的激光打標粉塵收集裝置，其特征在于：所述進氣口有多個，相應地所述吸塵組件有多個。