[發明專利]一種電磁波吸收比值的控制方法及電子設備

在審

• 申請號: 201911392340.2
• 申請日: 2019-12-30
• 公開（公告）號: CN111064485A
• 公開（公告）日: 2020-04-24
• 發明（設計）人: 于恒源;胡兆偉;陳曦
• 申請（專利權）人: 聯想（北京）有限公司
• 主分類號: H04B1/3827
• 分類號: H04B1/3827
• 代理公司: 北京金信知識產權代理有限公司 11225
• 代理人: 韓岳松

1.一種電磁波吸收比值的控制方法，其特征在于，所述方法應用于一電子設備，所述電子設備具有一雙向定向耦合器和天線，所述雙向定向耦合器與所述天線通信連接，所述方法包括如下步驟：

利用雙向定向耦合器耦合獲得前向耦合功率和反向耦合功率；

利用所述前向耦合功率和反向耦合功率計算獲得天線駐波比；

將所述天線駐波比與預設的閾值進行比較，判斷是否有物體靠近天線，以獲得判斷結果；

根據所述判斷結果，調整天線的發射功率，以對電磁波吸收比值進行控制。

2.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用雙向定向耦合器耦合獲得前向耦合功率和反向耦合功率，具體包括：

檢測天線的輸入功率和反射功率；

利用雙向定向耦合器根據所述輸入功率和所述反射功率分別耦合獲得前向耦合功率和反向耦合功率。

3.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述前向耦合功率和反向耦合功率計算獲得天線駐波比，具體包括：

利用前向耦合功率和反向耦合功率計算獲得第一系數；

利用所述第一系數計算獲得天線駐波比。

4.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述將所述天線駐波比與預設的閾值進行比較，以判斷是否有物體靠近天線，獲得判斷結果，具體包括：

將所述天線駐波比與預設的閾值進行比較；

當所述天線駐波比大于或等于所述預設閾值時，判斷有物體靠近天線；否則，判斷沒有物體靠近天線；

或者，當所述天線駐波比小于或等于所述預設閾值時，判斷有物體靠近天線；否則，判斷沒有物體靠近天線。

5.如權利要求1所述的方法，其特征在于，所述根據所述判斷結果，調整天線的發射功率，以對電磁波吸收比值進行控制，具體包括：

當判斷有物體靠近天線時，對天線的發射功率進行功率回退處理，以降低電磁波吸收比值；

當判斷沒有物體靠近天線時，不對天線的發射功率進行功率回退處理。

6.一種電子設備，所述電子設備具有一雙向定向耦合器和天線，所述雙向定向耦合器與所述天線通信連接，其特征在于，還包括：

獲取模塊，用于利用雙向定向耦合器耦合獲得前向耦合功率和反向耦合功率；

計算模塊，用于利用所述前向耦合功率和反向耦合功率計算獲得天線駐波比；

判斷模塊，用于將所述天線駐波比與預設的閾值進行比較，判斷是否有物體靠近天線，以獲得判斷結果；

控制模塊，用于根據所述判斷結果，調整天線的發射功率，以對電磁波吸收比值進行控制。

7.如權利要求6所述的電子設備，其特征在于，所述獲取模塊具體用于：

檢測天線的輸入功率和反射功率；

利用雙向定向耦合器根據所述輸入功率和所述反射功率分別耦合獲得前向耦合功率和反向耦合功率。

8.如權利要求6所述的電子設備，其特征在于，所述計算模塊具體用于：利用前向耦合功率和反向耦合功率計算獲得第一系數；

利用所述第一系數計算獲得天線駐波比。

9.如權利要求6所述的電子設備，其特征在于，所述判斷模塊具體用于：將所述天線駐波比與預設的閾值進行比較；

當所述天線駐波比大于或等于所述預設閾值時，判斷有物體靠近天線；否則，判斷沒有物體靠近天線；

或者，當所述天線駐波比小于或等于所述預設閾值時，判斷有物體靠近天線；否則，判斷沒有物體靠近天線。

10.如權利要求6所述的電子設備，其特征在于，所述控制模塊具體用于：當判斷有物體靠近天線時，對天線的發射功率進行功率回退處理，以降低電磁波吸收比值；

當判斷沒有物體靠近天線時，不對天線的發射功率進行功率回退處理。