[發(fā)明專利]一種用于SERS檢測的芯片反饋調(diào)節(jié)裝置在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911384827.6 | 申請日: | 2019-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN111060494A | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 楊良保;汪亞東;董榮錄;林東岳;陳慧;于建強(qiáng) | 申請(專利權(quán))人: | 安徽中科賽飛爾科技有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/65 | 分類號: | G01N21/65;G01N21/01 |
| 代理公司: | 合肥市長遠(yuǎn)專利代理事務(wù)所(普通合伙) 34119 | 代理人: | 程篤慶 |
| 地址: | 230000 安徽省合肥市高新區(qū)創(chuàng)新大*** | 國省代碼: | 安徽;34 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 用于 sers 檢測 芯片 反饋 調(diào)節(jié) 裝置 | ||
1.一種用于SERS檢測的芯片反饋調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,包括:步進(jìn)電機(jī)(2)、支架(10)、螺旋導(dǎo)桿(7)、拉曼檢測儀(5)、檢測盤(6);
支架(10)上設(shè)有豎直延伸的滑軌,滑軌上設(shè)有可滑動(dòng)安裝的滑臺(tái)(3),滑臺(tái)(3)上設(shè)有平行于滑軌方向延伸的螺孔,螺旋導(dǎo)桿(7)可轉(zhuǎn)動(dòng)安裝在支架(10)上且與滑臺(tái)(3)的螺孔螺紋配合,步進(jìn)電機(jī)(2)位于支架(10)一側(cè),步進(jìn)電機(jī)(2)的驅(qū)動(dòng)軸與螺旋導(dǎo)桿(7)同軸布置且與螺旋導(dǎo)桿(7)連接;
拉曼檢測儀(5)安裝在支架(10)上且位于螺旋導(dǎo)桿(7)遠(yuǎn)離步進(jìn)電機(jī)(2)一端,檢測盤(6)位于滑臺(tái)(3)朝向拉曼檢測儀(5)一側(cè)且與拉曼檢測儀(5)相對設(shè)置,檢測盤(6)上設(shè)有芯片安裝位。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于SERS檢測的芯片反饋調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,還包括距離傳感器(4),距離傳感器(4)安裝在支架(10)上且位于螺旋導(dǎo)桿(7)遠(yuǎn)離步進(jìn)電機(jī)(2)一端,距離傳感器(4)用于檢測檢測盤(6)上的芯片位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的用于SERS檢測的芯片反饋調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,還包括控制系統(tǒng),控制系統(tǒng)與距離傳感器(4)和步進(jìn)電機(jī)(2)連接,控制系統(tǒng)用于根據(jù)距離傳感器(4)的檢測信號控制步進(jìn)電機(jī)(2)驅(qū)動(dòng)檢測盤(6)移動(dòng)以調(diào)節(jié)待測芯片與拉曼檢測儀(5)之間的距離。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的用于SERS檢測的芯片反饋調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,還包括控制系統(tǒng),控制系統(tǒng)與拉曼檢測儀(5)和步進(jìn)電機(jī)(2)連接,控制系統(tǒng)用于根據(jù)拉曼檢測儀(5)的檢測強(qiáng)度控制步進(jìn)電機(jī)(2)驅(qū)動(dòng)檢測盤(6)移動(dòng)以調(diào)節(jié)待測芯片與拉曼檢測儀(5)之間的距離。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的用于SERS檢測的芯片反饋調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,控制系統(tǒng)內(nèi)預(yù)設(shè)拉曼強(qiáng)度閾值,控制系統(tǒng)根據(jù)拉曼檢測儀(5)的檢測強(qiáng)度與所述預(yù)設(shè)拉曼強(qiáng)度閾值的比較結(jié)果控制步進(jìn)電機(jī)(2)工作。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的用于SERS檢測的芯片反饋調(diào)節(jié)裝置,其特征在于,控制系統(tǒng)根據(jù)所述檢測強(qiáng)度低于所述預(yù)設(shè)拉曼強(qiáng)度閾值,控制步進(jìn)電機(jī)(2)驅(qū)動(dòng)檢測盤(6)向靠近拉曼檢測儀(5)的方向移動(dòng);
控制系統(tǒng)根據(jù)所述檢測強(qiáng)度高于所述預(yù)設(shè)拉曼強(qiáng)度閾值,控制步進(jìn)電機(jī)(2)驅(qū)動(dòng)檢測盤(6)向遠(yuǎn)離拉曼檢測儀(5)的方向移動(dòng)。
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G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
G01N21-01 .便于進(jìn)行光學(xué)測試的裝置或儀器
G01N21-17 .入射光根據(jù)所測試的材料性質(zhì)而改變的系統(tǒng)
G01N21-62 .所測試的材料在其中被激發(fā),因之引起材料發(fā)光或入射光的波長發(fā)生變化的系統(tǒng)
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G01N21-84 .專用于特殊應(yīng)用的系統(tǒng)





