[發明專利]差分對結構動態柵電容補償電路

有效

• 申請號: 201911381809.2
• 申請日: 2019-12-27
• 公開（公告）號: CN111124033B
• 公開（公告）日: 2021-07-13
• 發明（設計）人: 王粲;彭科;劉軍;熊飛;錢哲弘
• 申請（專利權）人: 芯原微電子（上海）股份有限公司;芯原控股有限公司;芯原微電子（成都）有限公司
• 主分類號: G05F3/26
• 分類號: G05F3/26
• 代理公司: 上海光華專利事務所(普通合伙) 31219
• 代理人: 余明偉

1.一種差分對結構動態柵電容補償電路，其特征在于，所述補償電路包括：采樣電容、誤差放大器、第一電流鏡以及第二電流鏡；

所述采樣電容的輸入端與差分對結構的第一差分輸入端連接，用于采樣所述差分對結構的耦合電流；

所述第一電流鏡的輸入端連接所述采樣電容的輸出端，第一輸出端連接所述第二電流鏡的輸入端，第二輸出端連接所述第二電流鏡的輸出端；

所述誤差放大器的反相輸入端連接參考電壓，正相輸入端連接所述第一電流鏡的第二輸出端；

當所述第一電流鏡由第一P型晶體管、第二P型晶體管以及第三P型晶體管形成時，所述第一P型晶體管、第二P型晶體管以及第三P型晶體管的源極均接電源電壓，所述第一P型晶體管、所述第二P型晶體管以及第三P型晶體管的柵極相連接，所述第一P型晶體管的漏極與柵極短接并連接于所述采樣電容以及所述誤差放大器的輸出端，所述第三P型晶體管的漏極作為第一電流鏡的第一輸出端輸出，所述第二P型晶體管的漏極作為第一電流鏡的第二輸出端輸出；所述第二電流鏡由第一N型晶體管和第二N型晶體管形成，所述第一N型晶體管的源極接地，所述第一N型晶體管的漏極與柵極短接并連接于所述第一電流鏡的第一輸出端，所述第二N型晶體管的漏極連接于所述第一電流鏡的第一輸出端，第二N型晶體管的柵極連接于所述第一N型晶體管的柵極。

2.根據權利要求1所述的差分對結構動態柵電容補償電路，其特征在于，當所述第一電流鏡由第一N型晶體管、第二N型晶體管以及第三N型晶體管形成時，所述第一N型晶體管、第二N型晶體管以及第三N型晶體管的源極均接地，所述第一N型晶體管、所述第二N型晶體管以及所述第三N型晶體管的柵極相連接，所述第一N型晶體管的漏極與柵極短接并連接于所述采樣電容以及所述誤差放大器的輸出端，所述第三N型晶體管的漏極作為第一電流鏡的第一輸出端輸出，所述第二N型晶體管的漏極作為第一電流鏡的第二輸出端輸出；所述第二電流鏡由第一P型晶體管和第二P型晶體管形成，所述第一P型晶體管的源極均接電源電壓，所述第一P型晶體管的漏極與柵極短接并連接于所述第一電流鏡的第一輸出端，所述第二P型晶體管的漏極連接于所述第一電流鏡的第一輸出端，第二P型晶體管的柵極連接于所述第一P型晶體管的柵極。

3.一種差分對結構動態柵補償電路，其特征在于，所述補償電路包括：采樣電容、第一電流鏡、第二電流鏡、第一誤差放大器以及第二誤差放大器；

所述采樣電容的輸入端與差分對結構的第一差分輸入端連接，用于采樣所述差分對結構的耦合電流；

所述第一電流鏡的輸入端連接所述采樣電容的輸出端，輸出端連接所述第二電流鏡的輸出端；

所述第二電流鏡的輸入端連接所述第二誤差放大器的輸出端；

所述第一誤差放大器的反相輸入端連接參考電壓，正相輸入端連接所述第一電流鏡的輸出端；

所述第二誤差放大器的反相輸入端連接所述參考電壓，正相輸入端連接所述第二電流鏡的輸出端；

當所述第一電流鏡由第一N型晶體管和第二N型晶體管形成時，所述第一N型晶體管、第二N型晶體管的源極均接源極接地，所述第一N型晶體管的漏極與柵極短接并連接于所述采樣電容以及所述第一誤差放大器的輸出端，所述第二N型晶體管的柵極連接于所述第一N型晶體管的柵極，所述第二N型晶體管的漏極作為所述第一電流鏡的輸出端輸出；所述第二電流鏡由第一P型晶體管和第二P型晶體管形成，所述第一P型晶體管和第二P型晶體管的源極均接電源電壓，所述第一P型晶體管的漏極與柵極短接并連接于所述第二誤差放大器的輸出端，所述第二P型晶體管的柵極連接于所述第一P型晶體管的柵極，所述第二P型晶體管的漏極作為所述第二電流鏡的輸出端輸出。