[發明專利]磁盤裝置及磁盤裝置的讀錯誤重試方法有效
| 申請號: | 201911377466.2 | 申請日: | 2019-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN112447193B | 公開(公告)日: | 2022-02-08 |
| 發明(設計)人: | 千葉寬幸 | 申請(專利權)人: | 株式會社東芝;東芝電子元件及存儲裝置株式會社 |
| 主分類號: | G11B5/02 | 分類號: | G11B5/02;G11B20/18 |
| 代理公司: | 北京市中咨律師事務所 11247 | 代理人: | 萬利軍;段承恩 |
| 地址: | 日本*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 磁盤 裝置 錯誤 重試 方法 | ||
1.一種磁盤裝置,具備:
磁盤;
讀頭,從所述磁盤讀數據;
讀通道,具有處理來自所述讀頭的輸出的電路;以及
控制部,在從所述讀通道的輸出中檢測到讀錯誤的情況下,對設定所述讀通道的參數時成為訓練讀的對象的預定的扇區進行搜索,對該搜索到的預定的扇區進行訓練讀,通過訓練讀而使所述電路的參數變化,再次讀錯誤扇區,
所述預定的扇區是測定包含所述錯誤扇區的磁道內的各扇區的誤碼率值而具有相對于所述錯誤扇區的誤碼率值為一定范圍內的誤碼率值、且按預定扇區數以上連續配置的扇區。
2.根據權利要求1所述的磁盤裝置,
所述控制部,
在所述連續配置的扇區在所述磁道內位于比配置所述錯誤扇區的位置靠利用所述讀頭后讀的一側時,進行所述訓練讀,在所述磁盤的下一圈由所述讀頭從所述錯誤扇區進行數據的讀,
在所述連續配置的扇區在所述磁道內位于比配置所述錯誤扇區的位置靠利用所述讀頭先讀的一側時,進行所述訓練讀,在所述磁盤的這一圈由所述讀頭從所述錯誤扇區進行數據的讀。
3.根據權利要求1所述的磁盤裝置,
所述控制部,在不存在具有相對于所述錯誤扇區的誤碼率值為一定范圍內的誤碼率值、且按預定扇區數以上連續配置的扇區的情況下,搜索具有相對于所述錯誤扇區的誤碼率值為一定范圍內的誤碼率值、且預定扇區數以上的扇區,對該搜索到的扇區執行所述訓練讀。
4.根據權利要求1所述的磁盤裝置,
所述控制部,在不存在具有相對于所述錯誤扇區的誤碼率值為一定范圍內的誤碼率值、且按預定扇區數以上連續配置的扇區的情況下,擴大所述一定范圍,搜索具有相對于所述錯誤扇區的誤碼率值為所述擴大后的一定范圍內的誤碼率值、且按所述預定扇區數以上連續配置的扇區。
5.根據權利要求1所述的磁盤裝置,
所述控制部,在不存在具有相對于所述錯誤扇區的誤碼率值為一定范圍內的誤碼率值、且按預定扇區數以上連續配置的扇區的情況下,增加對包含所述錯誤扇區的磁道內的各扇區的誤碼率值進行測定的次數,來搜索所述按預定扇區數以上連續配置的扇區。
6.根據權利要求1所述的磁盤裝置,
所述控制部,在存在多個所述搜索到的所述連續配置的扇區的情況下,基于預先設定的優先順序,選擇1個所述搜索到的所述連續配置的扇區。
7.根據權利要求1~6中任一項所述的磁盤裝置,
所述讀通道具有通過所述訓練讀而使所述參數變化的第1電路群和通過所述訓練讀而不使所述參數變化的第2電路群。
8.一種磁盤裝置的讀錯誤重試方法,
從具有處理來自讀頭的輸出的電路的讀通道的輸出中檢測讀錯誤,所述讀頭從磁盤讀數據;
對設定所述讀通道的參數時成為訓練讀的對象的預定的扇區進行搜索;
對該搜索到的預定的扇區進行訓練讀;
通過所述訓練讀而使所述電路的參數變化;
再次讀錯誤扇區;
所述預定的扇區是測定包含所述錯誤扇區的磁道內的各扇區的誤碼率值而具有相對于所述錯誤扇區的誤碼率值為一定范圍內的誤碼率值、且按預定扇區數以上連續配置的扇區。
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