[發明專利]光模塊老化測試裝置

在審

• 申請號: 201911370001.4
• 申請日: 2019-12-26
• 公開（公告）號: CN113055086A
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: 秦強;汪紅軍;陳晨;吉昌;劉紅衛;成銳;黃睿
• 申請（專利權）人: 中興通訊股份有限公司
• 主分類號: H04B10/073
• 分類號: H04B10/073
• 代理公司: 北京天昊聯合知識產權代理有限公司 11112
• 代理人: 姜春咸;馮建基

本公開提供一種光模塊老化測試裝置，包括：加熱模塊，所述加熱模塊用于對待測試的光模塊進行加熱，所述光模塊包括光發射子模塊和光接收子模塊；測試信號提供模塊，所述測試信號提供模塊用于向所述光發射子模塊提供測試信號，以供所述光發射子模塊轉換為光信號，且所述光接收子模塊能夠將所述光信號轉換為電信號；監控模塊，所述監控模塊用于根據處于工作狀態的所述光模塊的參數判斷所述光模塊是否合格。所述光模塊老化測試裝置可以對所述光模塊進行在線老化測試，提高了測試結果的精確性。

技術領域

本公開涉及通訊領域，具體地，涉及一種光模塊老化測試裝置。

背景技術

在通訊領域，大量使用光模塊、光纖等元器件進行信號轉換和傳遞。為了確保出廠產品為合格品，需要在出廠前對光模塊進行高溫老化測試。

常用的光模塊老化測試方法包括以下步驟：

將待測試的光模塊放置在溫箱或者高溫房中；

通過加熱器將溫箱或者高溫房的空氣加熱至預定溫度；

預定時間后，將光模塊取出，并冷卻至室溫；

在室溫中對光模塊上電，檢測光模塊是否正常。

上述光模塊老化測試方法為靜態測試方法，在高溫環境中，光模塊并未上電，也部進行業務測試。由于在線實時對光模塊進行業務測試，因此無法檢測出很多故障，導致劣品外發。

因此，如何提高老化測試的檢測精度成為本領域亟待解決的技術問題。

發明內容

本公開的目的在于提供一種光模塊老化測試裝置和一種利用該光模塊老化測試裝置進行的光模塊老化測試方法，利用所述光模塊老化測試方法對光模塊進行老化測試具有較高的檢測精度。

為了實現上述目的，作為本公開的第一個方面，提供一種光模塊老化測試裝置，包括：

加熱模塊，所述加熱模塊用于對待測試的光模塊進行加熱，所述光模塊包括光發射子模塊和光接收子模塊；

測試信號提供模塊，所述測試信號提供模塊用于向所述光發射子模塊提供測試信號，以供所述光發射子模塊轉換為光信號，且所述光接收子模塊能夠將所述光信號轉換為電信號；

監控模塊，所述監控模塊用于根據處于工作狀態的所述光模塊的參數判斷所述光模塊是否合格。

可選地，處于工作狀態的所述光模塊的參數包括誤碼率，所述監控模塊用于根據所述電信號確定所述光模塊的誤碼率，且所述監控模塊用于在所述誤碼率大于預定值時判定所述光模塊不合格。

可選地，處于工作狀態的所述光模塊的參數還包括所述光模塊的電壓、所述光模塊中的電流、所述光模塊的發射功率、所述光模塊的接收功率中的至少一者。

可選地，所述光模塊老化測試裝置還包括通信控制模塊，所述通信控制模塊與所述加熱模塊、所述測試信號提供模塊以及所述監控模塊均通信連接；

所述監控模塊用于通過所述通信控制模塊向所述加熱模塊提供加熱控制信號，以控制所述加熱模塊對所述光模塊進行加熱；

所述監控模塊用于通過所述通信控制模塊向所述測試信號提供模塊提供所述測試信號，并通過所述通信控制模塊獲取所述光模塊的參數。

可選地，所述加熱模塊包括加熱控制單元和加熱件，所述加熱件設置在所述光模塊的金屬外殼上，所述監控模塊用于控制所述加熱控制單元按照預設規則向所述加熱件提供電壓，直至所述加熱件達到第一預設溫度為止。

可選地，所述預設規則包括：

按照第一電壓增幅增加提供給所述加熱件的電壓的絕對值，直至所述光模塊的溫度達到中間溫度；