[發明專利]一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置

有效

• 申請號: 201911345128.0
• 申請日: 2019-12-24
• 公開（公告）號: CN111025114B
• 公開（公告）日: 2021-10-19
• 發明（設計）人: 游詩勇
• 申請（專利權）人: 福建福順半導體制造有限公司
• 主分類號: G01R31/26
• 分類號: G01R31/26;G01R31/327
• 代理公司: 北京科億知識產權代理事務所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置，包括測試機和測試板卡，測試板卡與測試機相連接，其特征在于，所述測試板卡包括CD4069反相器、三極管Q1、三極管Q2和CD4541計數器，CD4069反相器的引腳1連接電阻R1，電阻R1的另一端連接電容C1和電阻R2，電阻R2的另一端連接CD4069反相器的引腳2和CD4069反相器的引腳3，電容C1的另一端連接CD4069反相器的引腳4和CD4069反相器的引腳5，CD4069反相器的引腳6連接三極管Q1的基極和三極管Q2的基極，CD4069反相器的引腳14連接電源VCC，CD4069反相器的引腳8-13均接地，三極管Q1的集電極連接三極管Q2的集電極和電源VCC，三極管Q1的發射極連接三極管Q2的發射極、電阻R4和電阻R5，電阻R4的另一端接地，電阻R5的另一端連接MOS管NMOS-2的柵極，MOS管NMOS-2的源極接地，MOS管NMOS-2的漏極連接電阻R6和CD4541計數器的引腳3，CD4541計數器的引腳5-7均接地，CD4541計數器的引腳12-14均連接電源VCC，CD4541計數器的引腳8輸出測試結果信號到測試機。

2.根據權利要求1所述的一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置，其特征在于，所述測試機采用DTS-1000量產測試機。

3.根據權利要求2所述的一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置，其特征在于，所述DTS-1000量產測試機包括用于測試IC各項電性參數的主機和Interface通訊卡。

4.根據權利要求1所述的一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置，其特征在于，所述三極管Q1的型號為2N7002Z_TO92。

5.根據權利要求1所述的一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置，其特征在于，所述三極管Q2的型號為2N7002Z_TO92。

6.根據權利要求1所述的一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置，其特征在于，所述CD4069反相器的輸出信號為1Mhz高頻驅動信號。

7.根據權利要求2所述的一種集成電路高頻電參數特性全自動測試裝置，其特征在于，上電后，通過CD4069反相器產生1Mhz高頻驅動信號，通過三極管Q1、三極管Q2輸出，提高驅動能力以驅動MOS管NMOS-2，MOS管NMOS-2正常輸出方波信號，經CD4541計數器計數后再PIN8輸出高電平，反饋到DTS-1000量產測試機，若CD4541計數器無法接收到高電平，則說明MOS管NMOS-2無法在1MHZ下正常進行開關動作。