[發(fā)明專(zhuān)利]一種多功能測(cè)試平臺(tái)

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911336798.6
• 申請(qǐng)日: 2019-12-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN110836854A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-02-25
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 吳陽(yáng);嚴(yán)振中
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 赫智科技（蘇州）有限公司
• 主分類(lèi)號(hào): G01N21/01
• 分類(lèi)號(hào): G01N21/01;G01N21/3586
• 代理公司: 北京同輝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11357
• 代理人: 劉洪勛

本發(fā)明涉及一種多功能測(cè)試平臺(tái)，包括光學(xué)面包板，光學(xué)面包板上設(shè)置有安裝座支架，安裝座支架的一側(cè)上設(shè)置有帶有旋轉(zhuǎn)電機(jī)的安裝座，安裝座上設(shè)置有鏡架支撐板，鏡架支撐板的一端與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相驅(qū)動(dòng)連接，另一端上設(shè)置有第一鏡架支架和第二鏡架支架，第二鏡架支架上設(shè)置有太赫茲信號(hào)探測(cè)器，第一鏡架支撐架和第二鏡架支撐架上分別設(shè)置有第三鏡架支架和第四鏡架支架，第四鏡架支架上設(shè)置有太赫茲發(fā)射器，第一鏡架支架、第二鏡架支架、第三鏡架支架和第四鏡架支架位于同一平面設(shè)置，在所述第一鏡架支架和第三鏡架支架之間設(shè)置有樣品支架。本發(fā)明可有三種測(cè)試模式，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品從紫外到太赫茲波段的測(cè)試，提高了集成度，達(dá)到了降低成本的目的。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及一種多功能測(cè)試平臺(tái)。

背景技術(shù)

太赫茲波是頻率為0.3THz-30THz(波長(zhǎng)約10μm-1mm光子能量約1.2meV-120meV)的電磁波，它處于紅外波與毫米波之間，是電磁波譜中一個(gè)很重要的波段。室溫下的黑體輻射、宇宙的背景電磁輻射、自然界中的許多有機(jī)大分子特別是生物分子的振動(dòng)和旋轉(zhuǎn)特征頻率都在太赫茲波段范圍里。因此物質(zhì)在太赫茲波頻段的發(fā)射、反射和透射光譜中包含有豐富的物理和化學(xué)信息。與傳統(tǒng)光源相比，太赫茲波輻射源具有相干、低能、穿透力強(qiáng)等獨(dú)特、優(yōu)異的特性，所以它在物理、化學(xué)、天文學(xué)、生命科學(xué)和醫(yī)藥科學(xué)等基礎(chǔ)研究領(lǐng)域，以及安全檢查、醫(yī)學(xué)成像、環(huán)境監(jiān)測(cè)、食品檢驗(yàn)、射電天文、衛(wèi)星通信和武器制導(dǎo)等應(yīng)用研究領(lǐng)域均具有巨大的科學(xué)研究?jī)r(jià)值和廣闊的應(yīng)用前景。近年來(lái)，隨著真空電子技術(shù)、半導(dǎo)體微電子技術(shù)、超快激光技術(shù)以及非線(xiàn)性光學(xué)頻率變換技術(shù)的飛速發(fā)展，太赫茲科學(xué)與應(yīng)用技術(shù)已經(jīng)成為國(guó)際研究的熱點(diǎn)。

在太赫茲領(lǐng)域中，太赫茲的測(cè)試模型通常可以分為透射式和反射式，而且這兩種方式的太赫茲光入射方向與樣品是垂直的，反射或透射的太赫茲光也是與樣品的方向相垂直的。這種測(cè)試方法形式單一，無(wú)法滿(mǎn)足對(duì)角度依賴(lài)關(guān)系的測(cè)試。

發(fā)明內(nèi)容

為解決上述技術(shù)問(wèn)題，本發(fā)明的目的是提供一種多功能測(cè)試平臺(tái)，滿(mǎn)足太赫茲測(cè)試中最基本的透射和反射測(cè)試，同時(shí)增加了散射模式測(cè)試。

為實(shí)現(xiàn)上述目的，本發(fā)明采用如下技術(shù)方案：

一種多功能測(cè)試平臺(tái)，包括光學(xué)面包板，所述光學(xué)面包板上設(shè)置有安裝座支架，所述安裝座支架的一側(cè)上設(shè)置有帶有旋轉(zhuǎn)電機(jī)的安裝座，所述安裝座上設(shè)置有鏡架支撐板，所述鏡架支撐板呈L型結(jié)構(gòu)設(shè)置，L型結(jié)構(gòu)的所述鏡架支撐板的一端與旋轉(zhuǎn)電機(jī)相驅(qū)動(dòng)連接，其另一端上設(shè)置有第一鏡架支架和第二鏡架支架，兩者相對(duì)間隔設(shè)置，所述第二鏡架支架上設(shè)置有太赫茲信號(hào)探測(cè)器，所述安裝座支架的另一側(cè)設(shè)置有第一鏡架支撐架和第二鏡架支撐架，兩者相對(duì)設(shè)置，所述第一鏡架支撐架和第二鏡架支撐架上分別設(shè)置有第三鏡架支架和第四鏡架支架，所述第四鏡架支架上設(shè)置有太赫茲發(fā)射器，所述第一鏡架支架、第二鏡架支架、第三鏡架支架和第四鏡架支架位于同一平面設(shè)置，在所述第一鏡架支架和第三鏡架支架之間設(shè)置有樣品支架，當(dāng)太赫茲發(fā)射器發(fā)出的太赫茲光經(jīng)過(guò)安裝有反射鏡的第三鏡架支架和第四鏡架支架的反射聚焦在樣品支架上的樣品后，透過(guò)樣品進(jìn)入安裝有反射鏡的第一鏡架支架和第二鏡架支架于太赫茲信號(hào)探測(cè)器接收設(shè)置。

優(yōu)選地，所述的一種多功能測(cè)試平臺(tái)，所述太赫茲信號(hào)探測(cè)器和太赫茲發(fā)射器可對(duì)調(diào)設(shè)置。

優(yōu)選地，所述的一種多功能測(cè)試平臺(tái)，所述旋轉(zhuǎn)電機(jī)內(nèi)嵌在安裝座內(nèi)。

優(yōu)選地，所述的一種多功能測(cè)試平臺(tái)，所述樣品支架插接在安裝座上。

借由上述方案，本發(fā)明至少具有以下優(yōu)點(diǎn)：

1、本發(fā)明可分為反射模式、透射模式和散射模式三種測(cè)試模式，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品從紫外到太赫茲波段的測(cè)試，為一種多功能測(cè)試平臺(tái)，并將其集成化設(shè)置，提高了集成度，達(dá)到了降低成本的目的。