[發(fā)明專利]一種磁矩校正方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201911335870.3
• 申請(qǐng)日: 2019-12-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111077488A
• 公開(kāi)（公告）日: 2020-04-28
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 衛(wèi)榮漢;許雁雅
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 鄭州大學(xué)
• 主分類號(hào): G01R35/00
• 分類號(hào): G01R35/00;G01R33/02;G01R33/12
• 代理公司: 北京科億知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 11350
• 代理人: 湯東鳳

1.一種磁矩校正方法，其特征在于，包括以下步驟：

S1：制作沒(méi)有磁矩異向性的磁性微粒；

S2：將S1所制作的磁性微粒均勻分散于非磁性介質(zhì)中，制成校正樣品混合物，所述校正樣品混合物為能夠形成任意形狀的固體；

S3：通過(guò)量測(cè)和計(jì)算得到所述校正樣品混合物單位重量的磁矩值；

S4：以所述校正樣品混合物制作各種形狀的校正樣品并量測(cè)其重量，計(jì)算所述校正樣品的磁矩值；

S5：利用校正樣品的磁矩值，對(duì)磁性量測(cè)設(shè)備的測(cè)量信號(hào)進(jìn)行校正；

S6：量測(cè)實(shí)際待測(cè)樣品的信號(hào)值，并將所述信號(hào)值透過(guò)校正結(jié)果轉(zhuǎn)換成實(shí)際待測(cè)樣品的磁矩值。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S1中，所述磁性微粒為固體粉狀或液體狀的順磁或超順磁納米顆粒，所述磁性微粒內(nèi)部的磁矩能夠隨時(shí)順著外加磁場(chǎng)方向。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S2中，所述非磁性介質(zhì)為非磁性材料的定型輔料。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的磁矩校正方法，其特征在于，所述非磁性介質(zhì)為高分子材料、水泥、石膏、黏土或其他可塑形材料。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S3的具體過(guò)程如下：將所述校正樣品混合物制成標(biāo)準(zhǔn)球，所述標(biāo)準(zhǔn)球與原始設(shè)備上所用的校正球尺寸形狀一致或相近，在已經(jīng)通過(guò)校正的磁性量測(cè)設(shè)備上量測(cè)出所述標(biāo)準(zhǔn)球?qū)?yīng)的磁滯回線，由磁滯回線能夠得知某一磁場(chǎng)下標(biāo)準(zhǔn)球的磁矩，選用飽和磁化區(qū)間內(nèi)的磁場(chǎng)所對(duì)應(yīng)磁矩值為參考依據(jù)，再用磁矩除以所述標(biāo)準(zhǔn)球的重量，得到標(biāo)準(zhǔn)球在對(duì)應(yīng)磁場(chǎng)中的單位重量磁矩值。

6.根據(jù)權(quán)利要求1或5所述的磁矩校正方法，其特征在于，S4的具體過(guò)程如下：將所述校正樣品混合物制成與實(shí)際待測(cè)樣品形狀及尺寸相同或相似的校正樣品，并量測(cè)所述校正樣品的重量，用校正樣品的重量乘以S3中得到的單位重量的磁矩值，得到對(duì)應(yīng)磁場(chǎng)中所述校正樣品的磁矩值。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁矩校正方法，其特征在于，S4中，將校正樣品混合物制成與實(shí)際待測(cè)樣品形狀及尺寸相同或相似的校正樣品，所采用的方式為模具定型或切割或3D打印或其他定型技術(shù)。

8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的磁矩校正方法，其特征在于，S5的具體過(guò)程如下：將所述校正樣品在即將量測(cè)實(shí)際待測(cè)樣品的磁性量測(cè)設(shè)備上進(jìn)行校正量測(cè)過(guò)程，并記錄所述磁性量測(cè)設(shè)備量測(cè)到的原始信號(hào)值，得到所述信號(hào)值與S4中所得到的磁矩值的比值關(guān)系。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的磁矩校正方法，其特征在于，S5中，所述校正樣品與實(shí)際待測(cè)樣品在量測(cè)過(guò)程中的放置位置與擺放方式相同或相似。

10.根據(jù)權(quán)利要求8所述的磁矩校正方法，其特征在于，S6的具體過(guò)程如下：采用S5中的所述磁性量測(cè)設(shè)備量測(cè)實(shí)際待測(cè)樣品，并通過(guò)S5中的比值關(guān)系將量測(cè)到的實(shí)際待測(cè)樣品對(duì)應(yīng)的信號(hào)值轉(zhuǎn)換成實(shí)際待測(cè)樣品的磁矩值。

11.根據(jù)權(quán)利要求10所述的磁矩校正方法，其特征在于，所述S4、S5和S6中校正樣品與實(shí)際待測(cè)樣品形狀均為球形、圓盤形薄膜、方形薄膜、矩形薄膜、三角形薄膜、圓柱形、三角柱形、正方體、長(zhǎng)方體或其他任意形狀。