[發(fā)明專利]一種微小電阻的測試裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911303051.0
• 申請日: 2019-12-17
• 公開（公告）號: CN110954751A
• 公開（公告）日: 2020-04-03
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 湯平;鄧秉杰;林德超;吳煌麒;陳言祥;陳興;邱子凡;楊耀榮
• 申請（專利權(quán)）人: 福建星云電子股份有限公司
• 主分類號: G01R27/14
• 分類號: G01R27/14
• 代理公司: 福州市鼓樓區(qū)京華專利事務(wù)所(普通合伙) 35212
• 代理人: 宋連梅

1.一種微小電阻的測試裝置，其特征在于：包括一輸出基準(zhǔn)電路、一方波產(chǎn)生增強(qiáng)電路、一交流恒流源控制電路、一繼電器控制電路、一儀表差分放大電路、一帶通濾波電路、一放大電路、一單電源全波整流電路以及一MCU；

所述方波產(chǎn)生增強(qiáng)電路的輸入端與輸出基準(zhǔn)電路的輸出端連接，輸出端與所述交流恒流源控制電路的輸入端連接；所述繼電器控制電路的輸入端與交流恒流源控制電路的輸出端連接，輸出端與所述儀表差分放大電路的輸入端連接；所述帶通濾波電路的輸入端與儀表差分放大電路的輸出端連接，輸出端與所述放大電路的輸入端連接；所述單電源全波整流電路的輸入端與放大電路的輸出端連接，輸出端與所述MCU的輸入端連接；所述方波產(chǎn)生增強(qiáng)電路以及繼電器控制電路均分別與MCU連接。

2.如權(quán)利要求1所述的一種微小電阻的測試裝置，其特征在于：所述輸出基準(zhǔn)電路包括一高精密基準(zhǔn)電壓芯片U1、一電阻R1以及一運(yùn)放U2A；

所述電阻R1的一端與高精密基準(zhǔn)電壓芯片U1的引腳6連接，另一端與所述運(yùn)放U2A的引腳3連接；所述運(yùn)放U2A的引腳1以及2均與方波產(chǎn)生增強(qiáng)電路連接。

3.如權(quán)利要求1所述的一種微小電阻的測試裝置，其特征在于：所述方波產(chǎn)生增強(qiáng)電路包括一模擬開關(guān)芯片U3、一運(yùn)放U4A、一運(yùn)放U4B、一電阻R2、一電阻R3、一電阻R4、一電阻R5、一電阻R6、一電阻R7、一電阻R8、一電阻R9、一電阻R10以及一電容C1；

所述電阻R2的一端與模擬開關(guān)芯片U3的引腳2以及7連接，另一端與所述輸出基準(zhǔn)電路連接；所述電阻R3的一端與模擬開關(guān)芯片U3的引腳4以及8連接，另一端與所述MCU連接；所述電阻R4的一端與模擬開關(guān)芯片U3的引腳5以及10連接，另一端接地；所述模擬開關(guān)芯片U3的引腳6接地；所述電阻R5的一端與模擬開關(guān)芯片U3的引腳9連接，另一端與所述電阻R7以及運(yùn)放U4A的引腳3連接；所述電阻R7接地；所述電阻R6的一端與模擬開關(guān)芯片U3的引腳3連接，另一端與所述電阻R8以及運(yùn)放U4A的引腳2連接；所述電阻9的一端與電阻R8以及運(yùn)放U4A的引腳1連接，另一端與所述運(yùn)放U4B的引腳5連接；所述電阻R10的一端與運(yùn)放U4B的引腳6連接，另一端與所述電容C1以及運(yùn)放U4B的引腳7連接；所述電容C1與交流恒流源控制電路連接。

4.如權(quán)利要求1所述的一種微小電阻的測試裝置，其特征在于：所述交流恒流源控制電路包括一運(yùn)放U5A、一運(yùn)放U5B、一R11、一R12、一R13、一R14、一R15、一R16、一R17、一R18、一電容C2以及一電容C3；

所述電阻R12的一端與方波產(chǎn)生增強(qiáng)電路連接，另一端與所述運(yùn)放U5A的引腳2以及電阻R18連接；所述電阻R11的一端與運(yùn)放U5A的引腳3以及電阻R13連接，另一端接地；所述電阻R17的一端與運(yùn)放U5A的引腳1以及電阻R18連接，另一端與所述電阻R15、電阻R16以及電容C2連接；所述電容C2與繼電器控制電路連接；所述電容C3的一端與繼電器控制電路連接，另一端接地；所述電阻R14的一端與電阻R13以及運(yùn)放U5B的引腳7連接，另一端與所述運(yùn)放U5B的引腳6連接；所述電阻R15與運(yùn)放U5B的引腳5連接；所述電阻R16接地。

5.如權(quán)利要求1所述的一種微小電阻的測試裝置，其特征在于：所述繼電器控制電路包括至少一繼電器組、一二極管D1、一二極管D2、一電阻R41、一電阻R42、一高精密低溫漂基準(zhǔn)電阻R44以及一MOS管Q1；所述繼電器組包括一繼電器K1以及一繼電器K2；

所述繼電器K1的引腳ACRi-以及ACRi+均分別與儀表差分放大電路連接，引腳TIRI+以及TIRI-均分別與待測電阻連接，引腳Ri+以及Ri-分別與高精密低溫漂基準(zhǔn)電阻R44連接，引腳1與所述二極管D1的輸出端連接，引腳2與所述二極管D1的輸入端、MOS管Q1的漏極、二極管D2的輸入端以及繼電器K2的引腳2連接；所述電阻R42的一端與MOS管Q1的源極連接并接地，另一端與所述MOS管Q1的柵極以及電阻R41連接；所述電阻R41與MCU連接；所述二極管D2的輸出端與繼電器K2的引腳1連接；所述繼電器K2的引腳Ri+以及Ri-分別與高精密低溫漂基準(zhǔn)電阻R44連接，引腳TIRo+以及TIRo-均分別與待測電阻連接，引腳ACRo-以及ACRo+均分別與交流恒流源控制電路連接。