[發(fā)明專利]一種鉭掩模的制備方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201911302722.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-12-17 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111009462B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-11-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 高建峰;李俊杰;劉衛(wèi)兵;李俊峰;王文武 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 中國(guó)科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號(hào): | H01L21/033 | 分類號(hào): | H01L21/033;H01L43/12 |
| 代理公司: | 北京天達(dá)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所有限公司 11386 | 代理人: | 楊光 |
| 地址: | 100029 *** | 國(guó)省代碼: | 北京;11 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 鉭掩模 制備 方法 | ||
1.一種鉭掩模的制備方法,其特征在于,包括以下步驟:
步驟1.在基體上依次形成鉭掩模、SOC和SOG;
步驟2.將圖案通過(guò)光刻工藝轉(zhuǎn)移到SOG的頂部;
步驟3.刻蝕SOG;
步驟4.刻蝕SOC,刻蝕后,SOC的尺寸小于SOG掩模的尺寸;
步驟5.去除SOG;
步驟6.利用SOC做掩模刻蝕鉭掩模;
所述步驟1中,沉積鉭掩模后,依次旋涂SOC和SOG;
旋涂SOC后100-200度熱板軟烘0.5-2分鐘;250-350度熱板硬烘2-10分鐘;
旋涂SOG后100-200度熱板軟烘0.5-2分鐘;250-350度熱板硬烘2-10分鐘;
所述步驟4中,刻蝕工藝為:溫度為室溫,壓力為5-20mTorr,刻蝕氣體為Ar、O2和CH4,Ar流量為100-300sccm,O2流量為20-80sccm,CH4流量為10-30sccm,射頻電源為150-350W,偏壓電源為100-200W;
所述步驟6中,利用SOC做掩模刻蝕鉭掩模分兩步刻蝕:
步驟601.刻蝕SOC與鉭的反應(yīng)界面;
步驟602.刻蝕鉭掩模;
所述步驟601刻蝕工藝為:溫度為20-60℃,壓力為5-15mTorr,刻蝕氣體為O2和CF4,O2流量為2-10sccm,CF4流量為50-150sccm,射頻電源為200-400W;偏壓電源為20-50W;刻蝕時(shí)間10-30秒;
所述步驟602刻蝕工藝為:溫度為20-60℃,壓力為5-15mTorr,刻蝕氣體為Ar、Cl2和CH2F2,Ar流量為100-300sccm,Cl2流量為30-50sccm,CH2F2流量為50-150sccm,射頻電源為100-300W,偏壓電源為20-50W;
SOC厚度為50-150nm。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鉭掩模的制備方法,其特征在于,所述步驟1中,所述基體包括從下至上依次設(shè)置的晶圓襯底、底電極層、種子層、反鐵磁層、釘扎層、隧穿層和自由層。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的鉭掩模的制備方法,其特征在于,所述步驟3中,利用光刻膠做掩模采用反應(yīng)離子束刻蝕SOG。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的鉭掩模的制備方法,其特征在于,所述步驟3的刻蝕工藝為:溫度為室溫,壓力為30-90mTorr,刻蝕氣體為Ar、CHF3和CF4,Ar的流量為100-300sccm,CHF3流量為2-10sccm,CF4流量為10-60sccm,27MHz射頻電源為100-500W,2MHz射頻電源為50-150W。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的鉭掩模的制備方法,其特征在于,所述步驟4中,利用光刻膠和SOG做掩模ICP刻蝕SOC。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門(mén)適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門(mén)適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門(mén)適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門(mén)適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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