[發(fā)明專利]一種硅片檢測系統(tǒng)在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201911139211.2 | 申請日: | 2019-11-20 |
| 公開(公告)號: | CN110736754A | 公開(公告)日: | 2020-01-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 賈永前;樊歡歡;董慧 | 申請(專利權(quán))人: | 晶海洋半導(dǎo)體材料(東海)有限公司 |
| 主分類號: | G01N21/94 | 分類號: | G01N21/94 |
| 代理公司: | 31300 上海華誠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 徐穎聰 |
| 地址: | 222000 江蘇省連*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 皮帶 皮帶輪 反光罩 硅片 光源 間隔空間 下表面 油污 反光 上套 相機(jī) 硅片檢測系統(tǒng) 硅片表面 檢測 反射 投射 傳送 陰影 鏡頭 拍攝 | ||
本發(fā)明提供一種硅片檢測系統(tǒng),包括:第一皮帶輪和第二皮帶輪,第一皮帶輪和第二皮帶輪間隔開設(shè)置形成間隔空間,第一皮帶輪上套設(shè)有第一皮帶,第二皮帶輪上套設(shè)有第二皮帶,第一皮帶能夠傳送硅片至第二皮帶上;在第一皮帶和第二皮帶的下方分別設(shè)置至少一個光源;具有反光縫反光罩,反光罩設(shè)在光源的下方且間隔空間位于反光罩的上方;相機(jī)設(shè)在反光罩的下方且相機(jī)的鏡頭朝向反光縫以拍攝經(jīng)過間隔空間的硅片的表面。將光源設(shè)在皮帶的下方,避免產(chǎn)生皮帶陰影,光源發(fā)出的光線經(jīng)過反光罩的反射后投射向硅片的下表面,能產(chǎn)生均勻亮度,當(dāng)有硅片的下表面有油污時,便于精確地檢測,提高硅片表面油污檢測的精確度。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及硅片領(lǐng)域,具體涉及一種硅片檢測系統(tǒng)。
背景技術(shù)
金剛線切割的硅片表面呈現(xiàn)金屬光澤,對基于光學(xué)檢測原理的分選機(jī)形成較大挑戰(zhàn)。金剛線硅片分選機(jī)在硅片檢測領(lǐng)域市場占有率達(dá)90%以上,是目前光伏領(lǐng)域主流的硅片檢測手段,但是,金剛線硅片分選機(jī)油污檢測模組仍存在一系列問題導(dǎo)致無法正常使用。在檢測過程中,LED(Light-Emitting Diode,發(fā)光二極管)光源的光線經(jīng)過反光罩反射后投射在硅片的表面,由于皮帶遮擋了光源的部分光線,位于皮帶下方的光線的亮度弱于其他位置,當(dāng)光源的光線經(jīng)過反光罩反射后投射在硅片的表面上時,在硅片表面產(chǎn)生兩道暗紋,暗紋經(jīng)常被誤認(rèn)為是油污,通過調(diào)整油污模組參數(shù)的對比度無法優(yōu)化,由于皮帶投影和硅片色差、線痕的影響,導(dǎo)致油污檢測模組誤判率較高,基本無法正常使用。
發(fā)明內(nèi)容
有鑒于此,本發(fā)明提供一種硅片檢測系統(tǒng),用以解決由于皮帶投影和硅片色差、線痕的影響,導(dǎo)致硅片的表面油污檢測誤判率較高的問題。
為解決上述技術(shù)問題,本發(fā)明采用以下技術(shù)方案:
根據(jù)本發(fā)明實(shí)施例的硅片檢測系統(tǒng),包括:
第一皮帶輪和第二皮帶輪,所述第一皮帶輪和所述第二皮帶輪間隔開設(shè)置形成間隔空間,所述第一皮帶輪上套設(shè)有第一皮帶,所述第二皮帶輪上套設(shè)有第二皮帶,所述第一皮帶能夠傳送硅片至所述第二皮帶上;
多個光源,在所述第一皮帶和所述第二皮帶的下方分別設(shè)置至少一個所述光源;
反光罩,所述反光罩設(shè)在所述光源的下方且所述間隔空間位于所述反光罩的上方,所述反光罩上形成有反光縫;
相機(jī),所述相機(jī)設(shè)在所述反光罩的下方且所述相機(jī)的鏡頭朝向所述反光縫以拍攝經(jīng)過所述間隔空間的硅片的表面。
其中,所述第一皮帶輪和所述第二皮帶輪分別包括兩組,每組所述第一皮帶輪包括兩個所述第一皮帶輪,每組中的兩個所述第一皮帶輪沿傳輸方向間隔開設(shè)置,兩組所述第一皮帶輪沿垂直于所述傳輸方向的方向間隔開設(shè)置;
每組所述第二皮帶輪包括兩個所述第二皮帶輪,每組中的兩個所述第二皮帶輪沿傳輸方向間隔開設(shè)置,兩組所述第二皮帶輪沿垂直于所述傳輸方向的方向間隔開設(shè)置。
其中,所述第一皮帶和所述第二皮帶的下方分別設(shè)置一個所述光源,所述第一皮帶和所述第二皮帶下方的所述光源關(guān)于所述間隔空間的在豎直方向的中心線對稱。
其中,所述反光罩限定有一側(cè)開口的腔室且所述腔室的開口朝向所述光源。
其中,所述反光罩的中心線與所述間隔空間的在豎直方向的中心線共線。
其中,所述反光縫位于所述反光罩的底部且沿垂直于傳輸方向的方向延伸。
其中,所述反光縫從所述反光罩的底部延伸至所述反光罩的側(cè)壁。
其中,所述檢測系統(tǒng)還包括:
支撐架,所述第一皮帶輪和所述第二皮帶輪分別設(shè)在所述支撐架上,所述光源設(shè)在所述支撐架上。
其中,所述相機(jī)的鏡頭的中心線與所述間隔空間的中心線形成有夾角,所述夾角為0-16度。
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- 專利分類
G01N 借助于測定材料的化學(xué)或物理性質(zhì)來測試或分析材料
G01N21-00 利用光學(xué)手段,即利用紅外光、可見光或紫外光來測試或分析材料
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