[發明專利]一種數據確定方法、裝置及電子設備

在審

• 申請號: 201911132812.0
• 申請日: 2019-11-19
• 公開（公告）號: CN112907758A
• 公開（公告）日: 2021-06-04
• 發明（設計）人: 李逸;韋青;宋磊;祝凱
• 申請（專利權）人: 北京暢游天下網絡技術有限公司
• 主分類號: G06T19/20
• 分類號: G06T19/20;G06T15/00
• 代理公司: 北京集佳知識產權代理有限公司 11227
• 代理人: 趙煥

1.一種數據確定方法，其特征在于，包括：

獲取目標物體以及所述目標物體的物理參數；所述目標物體由3D模型以及與所述3D模型對應的貼圖組成；所述物理參數表征所述目標物體的屬性信息；

依據所述物理參數，確定所述目標物體的高光參數和漫反射參數；

使用所述高光參數和所述漫反射參數進行所述目標物體的高光繪制和漫反射繪制。

2.根據權利要求1所述的數據確定方法，其特征在于，所述貼圖包括用于描述所述3D模型法線信息的法線貼圖、用于描述所述3D模型表面金屬度的金屬度灰度圖、用于描述所述3D模型表面粗糙度的粗糙度灰度圖、用于描述所述3D模型表面適用高光區域范圍的高光區域灰度圖以及用于描述所述3D模型所處環境的環境貼圖。

3.根據權利要求2所述的數據確定方法，其特征在于，所述物理參數包括所述3D模型的物理參數、所述法線貼圖的物理參數、所述金屬度灰度圖的物理參數、所述粗糙度灰度圖的物理參數、所述高光區域灰度圖的物理參數以及所述環境貼圖的物理參數。

4.根據權利要求1所述的數據確定方法，其特征在于，依據所述物理參數，確定所述目標物體的高光參數和漫反射參數，包括：

獲取所述目標物體的高光參數的計算規則和漫反射參數的計算規則；

依據所述物理參數、高光參數的計算規則和漫反射參數的計算規則，確定所述目標物體的高光參數和漫反射參數。

5.根據權利要求1所述的數據確定方法，其特征在于，在獲取目標物體以及所述目標物體的物理參數之前，還包括：

設置一補充光源；所述補充光源以當前攝像機的位置為位置基準，以所述當前攝像機到所述目標物體的方向為朝向的光源。

6.一種數據確定裝置，其特征在于，包括：

數據獲取模塊，用于獲取目標物體以及所述目標物體的物理參數；所述目標物體由3D模型以及與所述3D模型對應的貼圖組成；所述物理參數表征所述目標物體的屬性信息；

參數計算模塊，用于依據所述物理參數，確定所述目標物體的高光參數和漫反射參數；

光繪制模塊，用于使用所述高光參數和所述漫反射參數進行所述目標物體的高光繪制和漫反射繪制。

7.根據權利要求6所述的數據確定裝置，其特征在于，所述貼圖包括用于描述所述3D模型法線信息的法線貼圖、用于描述所述3D模型表面金屬度的金屬度灰度圖、用于描述所述3D模型表面粗糙度的粗糙度灰度圖、用于描述所述3D模型表面適用高光區域范圍的高光區域灰度圖以及用于描述所述3D模型所處環境的環境貼圖。

8.根據權利要求7所述的數據確定裝置，其特征在于，所述物理參數包括所述3D模型的物理參數、所述法線貼圖的物理參數、所述金屬度灰度圖的物理參數、所述粗糙度灰度圖的物理參數、所述高光區域灰度圖的物理參數以及所述環境貼圖的物理參數。

9.根據權利要求6所述的數據確定裝置，其特征在于，所述參數計算模塊用于依據所述物理參數，確定所述目標物體的高光參數和漫反射參數時，具體用于：

獲取所述目標物體的高光參數的計算規則和漫反射參數的計算規則，依據所述物理參數、高光參數的計算規則和漫反射參數的計算規則，確定所述目標物體的高光參數和漫反射參數。

10.根據權利要求6所述的數據確定裝置，其特征在于，還包括：

光源設置模塊，用于設置一補充光源；所述補充光源以當前攝像機的位置為位置基準，以所述當前攝像機到所述目標物體的方向為朝向的光源。

11.一種電子設備，其特征在于，包括：存儲器和處理器；

其中，所述存儲器用于存儲程序；

處理器調用程序并用于：

獲取目標物體以及所述目標物體的物理參數；所述目標物體由3D模型以及與所述3D模型對應的貼圖組成；所述物理參數表征所述目標物體的屬性信息；

依據所述物理參數，確定所述目標物體的高光參數和漫反射參數；

使用所述高光參數和所述漫反射參數進行所述目標物體的高光繪制和漫反射繪制。