[發明專利]一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法

在審

• 申請號: 201911128857.0
• 申請日: 2019-11-18
• 公開（公告）號: CN110826249A
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 楊懷杰;喬寶強;馮延強
• 申請（專利權）人: 核工業北京地質研究院
• 主分類號: G06F30/20
• 分類號: G06F30/20;E21B49/00;G06F111/10
• 代理公司: 核工業專利中心 11007
• 代理人: 閆兆梅

1.一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：包括如下步驟：步驟(1)建立井筒模型；步驟(2)建立自然伽馬測井曲線的校正圖版和校正公式；步驟(3)建立補償密度測井曲線的校正圖版和校正公式；步驟(4)建立聲波時差測井曲線的校正圖版和校正公式；步驟(5)建立三側向電阻率測井曲線的校正圖版和校正公式；步驟(6)編寫砂巖鈾礦綜合測井曲線可視化環境校正軟件。

2.根據權利要求1所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述步驟(1)中，井筒模型包括三大類：一類是井筒直徑大于測井探頭直徑1mm；二類是井筒直徑均勻變化，并在井筒內放置水；三類是井筒直徑均勻變化，并在井筒內放置不同密度和礦化度的泥漿液體。

3.根據權利要求2所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述步驟(2)的具體步驟為，將采集自然伽馬測井曲線的探頭放置在三種類型的井筒模型中，分別采集自然伽馬測井數據，剔除異常值，取平均值，建立自然伽馬校正圖版，并根據自然伽馬校正圖版中曲線的擬合得到的校正公式。

4.根據權利要求3所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述校正公式為

GR_c＝A·GR·exp[0.0358·ρ_m·(d-d_i)-0.6021] (1)

式中，GR和GR_c分別表示環境校正前和校正后的伽馬測井值，單位CPS；d和d_i分別表示井筒直徑和儀器外徑，單位為mm；ρ_m為鉆孔內泥漿密度，單位為g/cm³；A是復合參數，它與儀器的外徑、擴徑率和地區地質背景有關。

5.根據權利要求3所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述步驟(3)的具體步驟為，將采集補償密度測井曲線的探頭放置在三種類型的井筒模型中，分別采集補償密度測井數據，剔除異常值，取平均值，建立補償密度校正圖版，并根據補償密度校正圖版中曲線的擬合得到的校正公式。

6.根據權利要求5所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述校正公式為

DEN_c＝DEN+A·(d-BIT)·(DEN_t-ρ_m) (2)

式中，DEN和DEN_c分別表示環境校正前和校正后的密度測井值，單位為g/cm³；BIT表示鉆頭直徑，單位mm；d為井筒直徑，單位mm；DEN_t為純砂巖地層密度，單位為g/cm³；ρ_m為鉆孔內泥漿密度，單位為g/cm³；A為受地區限制的校正比例系數。

7.根據權利要求5所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述步驟(4)的具體步驟為，將采集聲波時差測井曲線的探頭放置在一類和二類井筒模型中，采集聲波時差測井數據，剔除異常值，取平均值，建立聲波時差校正圖版，并根據聲波時差校正圖版中曲線的擬合得到的校正公式。

8.根據權利要求7所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述校正公式為

AC_c＝AC-A·((d-BIT)/12)·BIT (3)

式中，AC和AC_c分別表示環境校正前和校正后的密度測井值，單位為μs/m；BIT表示鉆頭直徑，單位mm；d為井筒直徑，單位mm；A為受地區限制的校正比例系數。

9.根據權利要求7所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述步驟(5)的具體步驟為，將采集三側向電阻率測井曲線的探頭放置在三種類型的井筒模型中，采集三側向電阻率測井數據，剔除異常值，取平均值，建立三側向電阻率校正圖版，并根據三側向電阻率校正圖版中曲線的擬合得到的校正公式。

10.根據權利要求9所述一種鈾礦綜合測井曲線井眼環境校正方法，其特征在于：所述校正公式為

R_t_corre/R_t＝1.22-0.039·lg(R_t/R_m+1.983) (4)

式中，R_t和R_t_corre分別為校正前、后的三側向電阻率和淺側向電阻率，R_m為泥漿電阻率。