[發明專利]基于測角法的長焦距激光三維成像儀畸變測試裝置與方法

在審

• 申請號: 201911124504.3
• 申請日: 2019-11-18
• 公開（公告）號: CN110806572A
• 公開（公告）日: 2020-02-18
• 發明（設計）人: 王欣;劉強;竇永昊;黃庚華;舒嶸;何志平
• 申請（專利權）人: 中國科學院上海技術物理研究所
• 主分類號: G01S7/497
• 分類號: G01S7/497
• 代理公司: 上海滬慧律師事務所 31311
• 代理人: 郭英

1.一種基于測角法的長焦距激光三維成像儀畸變測試裝置，包括平行光管焦面靶標裝置(1)、平行光管(2)、激光三維成像儀(3)、二維轉臺(4)、輔助平面鏡(5)、光電自準直儀(6)、隔振平臺(7)、數據處理系統(8)，其特征在于，

所述的測試裝置中被均勻照明系統照亮的平行光管焦面靶標裝置(1)經平行光管(2)準直后由激光三維成像儀(3)光學系統聚焦到成像探測器上，形成靶標影像，轉動激光三維成像儀(3)下面支撐二維轉臺(4)，轉臺上放置有輔助平面鏡(5)，轉臺外采用光電自準直儀(6)監測二維轉臺(4)轉動角度，所有設備均放置于隔振平臺(7)上；輸入激光三維成像儀(3)靶標影像質心位置和光電自準直儀(6)監測角度，經過數據處理系統(8)計算獲取激光三維成像儀(3)的畸變結果。

2.一種基于權利要求1所述的基于測角法的長焦距激光三維成像儀畸變測試裝置的畸變測試的方法，其特征在于方法步驟如下：

1)平行光管焦面靶標裝置(1)采用星點，星點大小計算為激光三維成像儀(3)單個探測器成像像元尺寸的5倍；

2)采用光電自準直儀(6)監測二維轉臺(4)轉動Wi角，平行光管焦面靶標裝置(1)星點在激光三維成像儀(3)焦面探測器上相應移動Li距離，測試視場點i根據視場大小總數量N不少于50個；

3)將二維轉臺(4)轉動角Wi和激光三維成像儀(3)焦面星點位置Li輸入到數據處理系統(8)中，首先處理激光三維成像儀(3)焦面星點位置Li數據，將每個i視場點采集的多副數據進行質心計算，排序，剔除兩端各10％數據，再平均計算質心，獲取最終Li數據；其次按照公式(1)計算激光三維成像儀(3)主距f；最后按照公式(2)計算畸變Di，繪制畸變隨視場變化曲線，然后對畸變曲線進行高斯擬合，獲得面陣探測器所有像元的畸變測試數據；

D_i＝L_i-f tan W_i。 (2)