[發明專利]一種雙分辨率光纖氣壓測量傳感器及方法有效
| 申請號: | 201911119973.6 | 申請日: | 2019-11-15 |
| 公開(公告)號: | CN110793710B | 公開(公告)日: | 2021-04-23 |
| 發明(設計)人: | 蔣奇;李龍超 | 申請(專利權)人: | 山東大學 |
| 主分類號: | G01L11/02 | 分類號: | G01L11/02 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 趙敏玲 |
| 地址: | 250061 山東*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 分辨率 光纖 氣壓 測量 傳感器 方法 | ||
1.一種雙分辨率光纖氣壓測量傳感器的測量方法,所述雙分辨率光纖氣壓測量傳感器包括襯底、內部的傳感部件和單模光纖;
所述的傳感部件包括薄膜、空芯光纖和套管,所述空芯光纖的一部分插在所述的套管內,一部分位于套管外,其在位于套管外的空芯光纖外壁上設有與空芯光纖內部連通的氣孔,作為氣壓進出的通道,且該部分空芯光纖與單模光纖相連;位于套管內的空芯光纖部分的端面與套管的端面平齊,且在該端面設有一層薄膜,插裝在襯底內;
其特征在于,所述的單模光纖與空芯光纖之間形成端面的反射面M1、所述的薄膜作為反射面M2,M1、M2為第一種模式光,用于kPa級氣壓測量,通過反射面M1、M2,形成雙光干涉;當外界氣壓改變后,壓強的變化通過氣孔進入,致使M2面發生位移,從而導致M1,M2兩光干涉條紋中心波長的偏移,中心波長其中L為M1和M2端面之間的距離,nair為空氣的折射率,m為自然數,據此解調出壓強變化;
所述的空芯光纖的內表面為反射面M3,空芯光纖的外表面反射面M4,M3,M4為第二種模式光,用于MPa級氣壓測量,中心波長其中d為空芯光纖的壁厚,n1,nair分別為空芯光纖、空氣的折射率,m`為自然數。
2.如權利要求1所述的一種雙分辨率光纖氣壓測量傳感器的測量方法,其特征在于,所述的單模光纖與空芯光纖之間形成端面的反射面M1、所述的薄膜作為反射面M2,M1、M2用于kPa級氣壓測量。
3.如權利要求1所述的一種雙分辨率光纖氣壓測量傳感器的測量方法,其特征在于,所述的空芯光纖的內表面為反射面M3,空芯光纖的外表面反射面M4,M3、M4為用于MPa級氣壓測量。
4.如權利要求1所述的一種雙分辨率光纖氣壓測量傳感器的測量方法,其特征在于,所述的薄膜為錫紙。
5.如權利要求1所述的一種雙分辨率光纖氣壓測量傳感器的測量方法,其特征在于,所述的薄膜還包裹套管的側面。
6.如權利要求1所述的一種雙分辨率光纖氣壓測量傳感器的測量方法,其特征在于,所述的薄膜黏貼在套管上。
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