[發明專利]目標識別方法和裝置在審
| 申請號: | 201911094850.1 | 申請日: | 2019-11-11 |
| 公開(公告)號: | CN111062414A | 公開(公告)日: | 2020-04-24 |
| 發明(設計)人: | 李柏 | 申請(專利權)人: | 北京京邦達貿易有限公司;北京京東乾石科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/62 | 分類號: | G06K9/62 |
| 代理公司: | 中原信達知識產權代理有限責任公司 11219 | 代理人: | 張效榮;馮培培 |
| 地址: | 100080 北京市海*** | 國省代碼: | 北京;11 |
| 權利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 目標 識別 方法 裝置 | ||
1.一種目標識別方法,其特征在于,所述方法包括:
提取待識別目標的輪廓圖;
獲取預先存儲的對照物輪廓圖的勢能場分布;
基于元啟發算法確定所述對照物輪廓圖的勢能場分布與所述待識別目標的輪廓圖的最優匹配;
在所述最優匹配對應的匹配質量評估值落在預設的取值區間的情況下,將所述待識別目標識別為所述對照物。
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法還包括:
提取對照物的輪廓圖,計算所述對照物的輪廓圖上每個像素點的勢能,以生成所述對照物輪廓圖的勢能場分布,并將所述對照物輪廓圖的勢能場分布進行存儲。
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,根據如下公式計算所述對照物的輪廓圖上每個像素點的勢能:
其中,APF(a,b)表示對照物的輪廓圖上像素點(a,b)處的勢能,(xi,yi)表示對照物的輪廓圖上每一個輪廓點的位置,m、n為設置的常系數。
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述最優匹配操作為使匹配質量評估值最大的匹配操作,所述匹配操作為將所述對照物輪廓圖的勢能場分布經過幾何變換后投放在所述待識別目標的輪廓圖上;其中,所述幾何變換操作包括以下一種或多種:平移、旋轉、縮放;以及,所述方法還包括:根據如下公式計算匹配質量評估值:
其中,Simi表示匹配質量評估值,K表示待識別目標的輪廓圖上的輪廓點個數,APF(ai,bi)表示在匹配操作后所述待識別目標的輪廓圖上的任一輪廓點對應的勢能。
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述待識別目標包括:交通標志。
6.一種目標識別裝置,其特征在于,所述裝置包括:
提取模塊,用于提取待識別目標的輪廓圖;
獲取模塊,用于獲取預先存儲的對照物輪廓圖的勢能場分布;
匹配模塊,用于基于元啟發算法確定所述對照物輪廓圖的勢能場分布與所述待識別目標的輪廓圖的最優匹配;
識別模塊,用于在所述最優匹配對應的匹配質量評估值落在預設的取值區間的情況下,將所述待識別目標識別為所述對照物。
7.根據權利要求6所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:
生成模塊,用于提取對照物的輪廓圖,計算所述對照物的輪廓圖上每個像素點的勢能,以生成所述對照物輪廓圖的勢能場分布,并將所述對照物輪廓圖的勢能場分布進行存儲。
8.根據權利要求7所述的裝置,其特征在于,所述生成模塊根據如下公式計算所述對照物的輪廓圖上每個像素點的勢能:
其中,APF(a,b)表示對照物的輪廓圖上像素點(a,b)處的勢能,(xi,yi)表示對照物的輪廓圖上每一個輪廓點的位置,m、n為設置的常系數。
9.一種電子設備,其特征在于,包括:
一個或多個處理器;
存儲裝置,用于存儲一個或多個程序,
當所述一個或多個程序被所述一個或多個處理器執行,使得所述一個或多個處理器實現如權利要求1至5中任一所述的方法。
10.一種計算機可讀介質,其上存儲有計算機程序,其特征在于,所述程序被處理器執行時實現如權利要求1至5中任一所述的方法。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息,商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于北京京邦達貿易有限公司;北京京東乾石科技有限公司,未經北京京邦達貿易有限公司;北京京東乾石科技有限公司許可,擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作,請聯系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201911094850.1/1.html,轉載請聲明來源鉆瓜專利網。





