[發明專利]帶質量校正的電感耦合等離子體質譜儀

在審

• 申請號: 201911060015.6
• 申請日: 2019-11-01
• 公開（公告）號: CN111146071A
• 公開（公告）日: 2020-05-12
• 發明（設計）人: 杉山尚樹;A·利巴;M·L·克林斯克;G·D·伍茲
• 申請（專利權）人: 安捷倫科技有限公司
• 主分類號: H01J49/10
• 分類號: H01J49/10;H01J49/26;H01J49/42
• 代理公司: 北京坤瑞律師事務所 11494
• 代理人: 封新琴

1.一種用于控制對通過電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)的離子束中的多原子離子的質量過濾的方法，所述方法包括：

確定表示具有靶同位素的多原子離子的精確質量的多原子離子質量數據；

基于所確定的多原子離子質量數據生成第一控制信號；以及

將所述第一控制信號輸出到ICP-MS，以基于質量對通過所述ICP-MS到達離子檢測器的所述離子束中的所述多原子離子進行過濾。

2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述多原子離子質量數據包括具有所述靶同位素的所述多原子離子的精確質量。

3.根據權利要求1或2中任一項所述的方法，其進一步包括將質量數據存儲在存儲器中，包括存儲所述多原子離子質量數據。

4.根據權利要求1-3中任一項所述的方法，其中，所述確定包括訪問存儲在存儲器中的所述多原子離子質量數據。

5.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其中，所述確定包括計算具有所述靶同位素的所述多原子離子的精確質量。

6.根據權利要求1-4中任一項所述的方法，其中，所述確定包括進行表查找來確定具有所述靶同位素的所述多原子離子的精確質量。

7.根據權利要求1-6中任一項所述的方法，其進一步包括將質量偏差校正數據存儲在存儲器中，其中，所述質量偏差校正數據基于靶同位素和池氣體。

8.根據權利要求1-7中任一項所述的方法，其中，所述ICP-MS包括具有被控制用于過濾離子質量的第一質量分析器和第二質量分析器的三重四極ICP-MS，并且所述第一控制信號被輸出到所述第二質量分析器以控制施加到所述第二質量分析器的一個或多個電壓信號。

9.一種可配置用于在電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS)中使用的元素分析器系統，包括：

用戶接口，所述用戶接口使得用戶能夠輸入選擇以用于分析多原子離子中包含的靶同位素；以及

一個或多個處理器，所述一個或多個處理器耦合到所述用戶接口并被配置用于接收表示所述輸入選擇的數據，并且進一步被配置用于：

確定表示具有靶同位素的多原子離子的精確質量的多原子離子質量數據；

基于所確定的多原子離子質量數據生成第一控制信號；以及

發起將所述第一控制信號輸出到ICP-MS，以基于質量對通過所述ICP-MS的所述離子束中的所述多原子離子進行過濾。

10.一種元素分析器系統，包括：

電感耦合等離子體質譜儀；

耦合到所述電感耦合等離子體質譜儀的工作站，其中，所述工作站包括：用戶接口，所述用戶接口使得用戶能夠輸入選擇以用于分析多原子離子中包含的靶元素同位素；以及

一個或多個處理器，所述一個或多個處理器耦合到所述用戶接口并被配置用于接收表示所述輸入選擇的數據，并且進一步被配置用于：

確定所述靶元素同位素的第一精確質量(EM1)；

評估是否需要對所述多原子離子中包含的所述靶元素同位素的元素分析進行質量偏差校正；以及

當需要進行質量偏差校正時，根據與所述靶多原子離子相對應的質量數以及與反應池中的反應物相對應的質量偏差校正，確定所述目標元素同位素的第二精確質量(EM2)。