[發明專利]X射線源陰極檢測方法、檢測系統及X射線成像系統

有效

• 申請號: 201911050792.2
• 申請日: 2019-10-31
• 公開（公告）號: CN110831310B
• 公開（公告）日: 2021-12-07
• 發明（設計）人: 唐華平;李科;董超;秦占峰;張慶輝
• 申請（專利權）人: 新鴻電子有限公司
• 主分類號: H05G1/26
• 分類號: H05G1/26;H05G1/54
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 張啟程

1.一種X射線源陰極檢測方法，包括以下步驟：

檢測X射線源陰極的工作狀況并獲得相應的工作參數；

獲得X射線源陰極的老化曲線數據，其中，所述老化曲線數據包括環境參數和/或陰極型號參數、批次參數；

根據獲得的工作參數和對應的老化曲線數據進行計算，其中，根據所述工作參數與具有同一陰極型號參數、同一陰極批次參數和環境參數的老化曲線數據進行計算；以及

根據計算的結果獲得檢測結果，所述檢測結果包括陰極的剩余使用壽命和/或故障概率，

其中，所述X射線源陰極為具有多個陰極的分布式的X射線源陰極，

根據所述計算結果，生成陰極使用列表，在發現高故障概率的情況下，調整陰極使用列表以從所述陰極使用列表中移除高故障概率的陰極。

2.根據權利要求1所述的X射線源陰極檢測方法，其中，所述獲得X射線源陰極的老化曲線數據的步驟在所述根據獲得的工作參數和對應的老化曲線數據進行計算的步驟之前。

3.根據權利要求1所述的X射線源陰極檢測方法，其中，所述根據獲得的工作參數和對應的老化曲線數據進行計算的步驟進一步包括：對所述工作參數進行加權處理，再進行計算得到使用環境下的陰極的剩余使用壽命和/或故障概率。

4.一種X射線源陰極檢測系統，包括：

檢測裝置，檢測X射線源陰極的工作狀況并獲得相應的工作參數和陰極的老化曲線數據，其中，所述老化曲線數據包括環境參數和/或陰極型號參數、批次參數；

數據存儲模塊，與所述檢測裝置電連接，用于接收并存儲來自檢測裝置的數據；以及

數據處理模塊，與所述檢測裝置和數據處理模塊電連接，用于將獲得的所述工作參數和對應的老化曲線數據進行計算，得到陰極的使用壽命和/或故障概率，

結果生成模塊，所述結果生成模塊與所述數據處理模塊電連接，用于確定陰極使用列表，并且在發現高故障概率的情況下，調整陰極使用列表以從所述陰極使用列表中移除高故障概率的陰極，

其中，所述X射線源陰極為具有多個陰極的分布式的X射線源陰極。

5.根據權利要求4所述的X射線源陰極檢測系統，其中，所述數據處理模塊用于將獲得的工作參數進行加權處理，再根據對應的所述老化曲線進行計算，以獲得陰極的剩余使用壽命和/或故障概率。

6.一種X射線成像系統，包括：

X射線源，用于產生覆蓋檢測區域的X射線；

探測器，位于所述檢測區域的不同于所述X射線源的另一側，用于接收X射線；

傳送裝置，位于所述X射線源與所述探測器之間，用于承載受檢測對象通過檢測區域；

如權利要求4-5中任一項所述的X射線源陰極檢測系統；

陰極狀態判斷模塊，根據所述X射線源陰極檢測系統的結果生成不同等級的X射線源陰極的使用列表；

曝光控制模塊，根據所述陰極狀態判斷模塊的結果，標記使用的曝光焦點，并按照X射線源陰極使用列表控制曝光順序；

數據處理器，接收并處理來自所述探測器接收到的X射線數據；

圖像處理器，接收來自所述數據處理器的數據并輸出對應的圖像。

7.根據權利要求6所述的X射線成像系統，其中，所述陰極狀態判斷模塊用于接收關于陰極的狀態、陰極的位置以及陰極的等級的數據。

8.根據權利要求6所述的X射線成像系統，其中，所述數據處理器包括：

數據采集模塊，所述數據采集模塊用于采集所述探測器接收的X射線數據，確定所述X射線數據與曝光焦點對應關系；

數據重整模塊，所述數據重整模塊用于將接收到的X射線數據按照曝光焦點對應關系進行重新排列；

數據預處理模塊，所述數據預處理模塊用于對X射線數據進行預處理。