[發明專利]陣列基板及其制備方法、顯示面板在審
| 申請號: | 201911031657.3 | 申請日: | 2019-10-28 |
| 公開(公告)號: | CN110867456A | 公開(公告)日: | 2020-03-06 |
| 發明(設計)人: | 奚蘇萍 | 申請(專利權)人: | 深圳市華星光電半導體顯示技術有限公司 |
| 主分類號: | H01L27/12 | 分類號: | H01L27/12;H01L21/77 |
| 代理公司: | 深圳紫藤知識產權代理有限公司 44570 | 代理人: | 黃靈飛 |
| 地址: | 518132 廣東省深*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 陣列 及其 制備 方法 顯示 面板 | ||
1.一種陣列基板,其特征在于,包括顯示區和GOA區,所述陣列基板包括:
襯底;
有源層,形成于所述襯底上,圖案化形成有源區;
源漏極層,形成于所述有源層上;
其中,位于所述顯示區內的有源區的厚度,大于位于所述GOA區內的有源區的厚度。
2.如權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述陣列基板還包括在所述襯底上層疊設置的柵極層、柵極絕緣層、刻蝕阻擋層、鈍化層、以及平坦化層,所述有源層位于所述柵極絕緣層和所述刻蝕阻擋層之間,所述源漏極層位于所述刻蝕阻擋層和所述鈍化層之間。
3.如權利要求2所述的陣列基板,其特征在于,所述陣列基板在顯示區內的厚度,和在GOA區內的厚度相同。
4.如權利要求3所述的陣列基板,其特征在于,位于所述顯示區內的鈍化層的厚度,小于位于所述GOA區內的鈍化層的厚度。
5.如權利要求3所述的陣列基板,其特征在于,位于所述顯示區內的平坦化層的厚度,小于位于所述GOA區內的平坦化層的厚度。
6.如權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,所述陣列基板還包括在所述襯底上層疊設置的柵極絕緣層、柵極層、層間絕緣層、鈍化層、以及平坦化層,所述有源層位于所述襯底和所述柵極絕緣層之間,所述源漏極層位于所述層間絕緣層和所述鈍化層之間。
7.如權利要求6所述的陣列基板,其特征在于,所述陣列基板在顯示區內的厚度,和在GOA區內的厚度相同。
8.如權利要求7所述的陣列基板,其特征在于,位于所述顯示區內的層間絕緣層的厚度,小于位于所述GOA區內的層間絕緣層的厚度。
9.如權利要求7所述的陣列基板,其特征在于,位于所述顯示區內的鈍化層的厚度,小于位于所述GOA區內的鈍化層的厚度。
10.如權利要求7所述的陣列基板,其特征在于,位于所述顯示區內的平坦化層的厚度,小于位于所述GOA區內的平坦化層的厚度。
11.如權利要求1所述的陣列基板,其特征在于,在所述GOA區內,所述陣列基板的有源層的材料為非晶硅或銦鎵鋅氧化合物。
12.一種陣列基板的制備方法,其特征在于,包括:
提供基板;
在所述基板上沉積一層半導體有源層;
圖案化處理所述半導體有源層,得到有源區,位于顯示區內的有源區的厚度,大于位于GOA區內的有源區的厚度。
13.如權利要求12所述的制備方法,其特征在于,所述圖案化處理所述半導體有源層的具體步驟包括:
采用半光罩掩膜技術,圖案化處理所述半導體有源層。
14.如權利要求12所述的制備方法,其特征在于,所述圖案化處理所述半導體有源層的具體步驟包括:
采用灰色調掩膜技術,圖案化處理所述半導體有源層。
15.一種顯示面板,其特征在于,所述顯示面板包括陣列基板,所述陣列基板包括顯示區和GOA區,位于所述顯示區內的有源層的厚度,大于位于所述GOA區內的有源層的厚度。
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H01L 半導體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L27-00 由在一個共用襯底內或其上形成的多個半導體或其他固態組件組成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共絕緣襯底上形成的無源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有專門適用于整流、振蕩、放大或切換的半導體組件并且至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的;包括至少有一個躍變勢壘或者表面勢壘的無源集成電路單元的
H01L27-14 . 包括有對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射或者微粒子輻射并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或適用于通過這樣的輻射控制電能的半導體組件的
H01L27-15 .包括專門適用于光發射并且包括至少有一個電位躍變勢壘或者表面勢壘的半導體組件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料結點的熱電元件的;包括有熱磁組件的





