[發(fā)明專利]高硬度非金屬表面涂層質(zhì)量檢測方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 201911015655.5
• 申請日: 2019-10-24
• 公開（公告）號: CN110631913A
• 公開（公告）日: 2019-12-31
• 發(fā)明（設計）人: 陳建平;梁湘鵬;閆傳濱;馬巖;趙海軍;周增瑞
• 申請（專利權(quán)）人: 天津科技大學
• 主分類號: G01N3/08
• 分類號: G01N3/08;G01N3/06;G01B21/08
• 代理公司: 12107 天津市三利專利商標代理有限公司
• 代理人: 李文洋

本發(fā)明涉及涂層質(zhì)量檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種高硬度非金屬表面涂層質(zhì)量檢測方法，包括以下步驟：步驟一、設定壓力檢測的起始值和終止值，確定壓力區(qū)間。步驟二、持續(xù)對待測基體施加壓力，由適用的壓力傳感器檢測施壓過程的壓力變化；步驟三、檢測施加壓力所用的時間，由設定的壓力檢測起始值到達壓力檢測終止值的時間差來判斷涂層厚度的大小。本方法為無損檢測方法，即在不破壞涂層的情況下進行檢測，同時還能實現(xiàn)定量檢測，更加直觀的顯示被測涂層厚度，檢測方法簡單便捷，具有可靠的精確度并不會對設備造成損傷，同時為人員的安全提供了可靠的保障。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及涂層質(zhì)量檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種高硬度非金屬表面涂層質(zhì)量檢測方法。

背景技術(shù)

涂層整理是一個綜合性的加工，涂層噴涂過后，會有噴涂不均勻、干噴、真空、流掛、甚至剝落的情況，這會大大影響設備的使用性能，甚至會出現(xiàn)安全事故。為了解決這一問題，人們除了在噴涂的過程中避免這一情況外，對涂層質(zhì)量進行檢測，也是解決這一問題的主要方式之一。

目前，國內(nèi)外涂層質(zhì)量檢測方法主要有無損檢測和有損檢測的方法。

其中有損檢測主要有探針法、點滴法、液流法、輪廓法、干涉顯微鏡法等方法，這些方法對涂層有破壞性，檢測結(jié)果不明顯，精度低，檢測周期長，安全性差。

無損檢測有超聲波測厚法、光反射檢測法、X射線熒光測量法、磁性測厚法等，這些方法檢測涂層厚度質(zhì)量受環(huán)境影響較大，對涂層厚度范圍的要求較大，對于較小厚度的涂層質(zhì)量很難檢測，且對于磁性測厚法，只適用于磁性基體表面涂層質(zhì)量的檢測，局限性大。

以上所述方法，主要是針對金屬基體涂層的質(zhì)量檢測。對于非金屬基體表面涂層的質(zhì)量檢測，還有待發(fā)展，尤其是對于非金屬基體涂層質(zhì)量檢測的實用性技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于克服上述技術(shù)的不足，而提供一種高硬度非金屬表面涂層質(zhì)量檢測方法。

本發(fā)明為實現(xiàn)上述目的，采用以下技術(shù)方案：一種高硬度非金屬表面

涂層質(zhì)量檢測方法，其特征在于：包括以下步驟：

步驟一、設定壓力檢測的起始值和終止值，確定壓力區(qū)間。

步驟二、持續(xù)對待測基體施加壓力，由適用的壓力傳感器檢測施壓過程的

壓力變化；

步驟三、檢測施加壓力所用的時間，由設定的壓力檢測起始值到達壓力檢測終止值的時間差來判斷涂層厚度的大小。設定壓力區(qū)間，用相同的壓力對涂層進行施壓，涂層薄的從壓力起始值到達終止值所用的時間短，涂層厚的從壓力起始值到達終止值所用的時間長，根據(jù)施加壓力所用時間制定相應的涂層厚度標準，判斷涂層厚度，進而判斷涂層是否達到質(zhì)量標準。

優(yōu)選地，在步驟二中，對被檢測基體的不同特征面進行重復檢測；對同一特征面，求取多次檢測的平均值，并通過多次的實驗判定不同的時間差對應的涂層厚度的大小，并制定相應的涂層厚度檢測標準。

優(yōu)選地，所述基體為高硬度非金屬基體，所述涂層為低硬度非金屬基體。

優(yōu)選地，在步驟二中，使用相同的進給裝置對被測涂層表面施壓，由適用的壓力傳感器檢測施壓過程的壓力變化，并用適用軟件記錄收集施加壓力所用時間數(shù)據(jù)。

本發(fā)明的有益效果是:本方法為無損檢測方法，即在不破壞涂層的情況下進行檢測，同時還能實現(xiàn)定量檢測，更加直觀的顯示被測涂層厚度，檢測方法簡單便捷，具有可靠的精確度并不會對設備造成損傷，同時為人員的安全提供了可靠的保障。

附圖說明

圖1是本發(fā)明的原理圖。

具體實施方式