[發(fā)明專利]一種磁電傳感器及其制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910938037.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-09-30 |
| 公開(公告)號(hào): | CN110635023A | 公開(公告)日: | 2019-12-31 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 門闊;朱婧;連紫薇;魏峰 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 有研工程技術(shù)研究院有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L41/08 | 分類號(hào): | H01L41/08;H01L41/12;H01L41/18;H01L41/20;H01L41/47 |
| 代理公司: | 11246 北京眾合誠(chéng)成知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人: | 陳波 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 磁電傳感器 單晶硅基片 單面拋光 沉積 制備 多層結(jié)構(gòu)薄膜 磁控濺射法 磁致伸縮層 磁電復(fù)合 機(jī)電耦合 電極層 隔離層 靈敏度 壓電層 清洗 | ||
本發(fā)明公開了一種磁電傳感器及其制備方法。所述磁電傳感器包括磁電復(fù)合薄膜,該薄膜包括依次沉積于單面拋光單晶硅基片上的Ti/Pt電極層、AlN壓電層、Ta隔離層和FeGaB磁致伸縮層。所述薄膜的制備方法為:清洗單面拋光單晶硅基片;在基片上采用磁控濺射法依次沉積Ti薄膜、Pt薄膜、AlN薄膜、Ta薄膜、FeGaB薄膜。本發(fā)明的磁電傳感器是包括FeGaB和AlN的多層結(jié)構(gòu)薄膜,具有靈敏度高、磁機(jī)電耦合性能優(yōu)良等優(yōu)點(diǎn)。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明屬于功能復(fù)合材料制備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種FeGaB與AlN復(fù)合磁電傳感器及其制備方法。
背景技術(shù)
多鐵性材料在數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、換能器、磁電傳感器等高科技領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用,因此近年來得到科研工作者的廣泛關(guān)注。在諸多種類多鐵性材料中,磁致伸縮/壓電復(fù)合薄膜由于具有高的居里溫度、高靈敏度和優(yōu)良的磁機(jī)電耦合性能、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單、成本低等優(yōu)點(diǎn)而受到重視。
磁電復(fù)合薄膜是由磁致伸縮薄膜/壓電薄膜疊加而成,兩層分別發(fā)生磁-機(jī)械、機(jī)械-電能量轉(zhuǎn)換,實(shí)現(xiàn)了應(yīng)力的有效傳遞并避免了磁致伸縮、壓電兩相之間的相反應(yīng)。然而,層疊磁電復(fù)合材料也存在一些缺點(diǎn),如:難于小型化以制備微型器件、兆赫茲條件下磁電耦合系數(shù)較低等問題。因此,克服層疊磁電復(fù)合材料的上述缺點(diǎn),并使其制備工藝盡可能與半導(dǎo)體工藝相兼容具有重要的工程意義。在以往的研究中,AlN材料本身具有壓電特性,又因AlN和Si具有較好的熱匹配度并且與MEMS加工工藝相兼容,越來越被人們所重視,尤其在1MHz-100MHz頻率范圍內(nèi),其性能達(dá)到最佳,同時(shí)考慮到振動(dòng)疲勞等因素,AlN在該頻段的器件中有絕對(duì)優(yōu)勢(shì)。在磁致伸縮層的選擇上,Terfenol-D(具有Laves相結(jié)構(gòu)的TbDyFe)具有很大磁致伸縮系數(shù),但Terfenol-D基磁電復(fù)合材料由于其相對(duì)較低的磁導(dǎo)率和高飽和磁場(chǎng)并不適合于低場(chǎng)中的應(yīng)用;非晶FeBSiC合金具有高達(dá)40000的磁導(dǎo)率,但其磁致伸縮系數(shù)相對(duì)較??;相比FeBSiC和Terfenol-D兩種材料,F(xiàn)eGaB材料兼?zhèn)淞硕叩膬?yōu)勢(shì),F(xiàn)eGaB薄膜低磁場(chǎng)響應(yīng)性能好于Terfenol-D薄膜,并且擁有比FeBSiC薄膜更大的磁致伸縮系數(shù)。更重要的是FeGaB/AlN這兩種材料的匹配程度較高。本發(fā)明制備了一種可以檢測(cè)微磁場(chǎng)的磁電傳感器。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種磁電傳感器,該傳感器在兆赫茲條件下磁電耦合系數(shù)高、靈敏度高。所述磁電傳感器包括復(fù)合磁電薄膜,所述薄膜包括依次沉積于單面拋光單晶硅基片上的Ti/Pt電極材料,AlN壓電材料,Ta隔離材料和FeGaB磁致伸縮材料。
一種所述磁電傳感器的制備方法,其中復(fù)合磁電薄膜的制備包括以下步驟:
(1)將單面拋光單晶硅基片用酒精和丙酮超聲清洗分別15-30min,然后用電吹風(fēng)吹干,清洗干凈后放入超高真空磁控濺射設(shè)備基片臺(tái)上,準(zhǔn)備鍍膜;
(2)在基片上采用磁控濺射法沉積Ti薄膜和Pt薄膜,其中,濺射靶材為Ti、Pt靶材,工作氣壓為0.1-0.4Pa,濺射功率為40-100W,保護(hù)氣體為惰性氣體;
(3)在Pt薄膜上采用磁控濺射法沉積AlN薄膜,其中,濺射靶材為Al靶材,并通入體積比為1:3的N2、Ar混合氣體,工作氣壓0.5-2Pa,濺射功率為40-160W,保護(hù)氣體為惰性氣體;
(4)在AlN薄膜上采用磁控濺射法沉積Ta薄膜,濺射靶材為Ta靶材,工作氣壓為0.1-0.4Pa,濺射功率為40-100W,保護(hù)氣體為惰性氣體;
(5)采用磁控濺射法在Ta薄膜上沉積FeGaB薄膜,濺射靶材為FeGa靶材和B靶材,濺射功率分別為60-80W和50-80W,濺射時(shí)間為30-120min。
在步驟(2)中,所述Ti靶的濺射時(shí)間為1-10min,Ti薄膜的厚度為5-30nm;Pt靶的濺射時(shí)間為1-15min,Pt薄膜的厚度為10-90nm。
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