[發(fā)明專利]使用ADC檢測光耦方法、智能投影儀及相關(guān)產(chǎn)品有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201910937201.7 | 申請日: | 2019-09-29 |
| 公開(公告)號: | CN110849589B | 公開(公告)日: | 2021-02-26 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 潘志偉;胡震宇 | 申請(專利權(quán))人: | 深圳市火樂科技發(fā)展有限公司 |
| 主分類號: | G01M11/02 | 分類號: | G01M11/02 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利商標(biāo)代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強(qiáng) |
| 地址: | 518000 廣東省深圳市南山區(qū)科技*** | 國省代碼: | 廣東;44 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 使用 adc 檢測 方法 智能 投影儀 相關(guān) 產(chǎn)品 | ||
本申請實施例公開了一種使用ADC檢測光耦方法及相關(guān)產(chǎn)品,應(yīng)用于智能投影儀,所述方法包括:智能投影儀檢測ADC電壓值;智能投影儀依據(jù)該ADC電壓值計算得到光照強(qiáng)度值;智能投影儀依據(jù)該光照強(qiáng)度值推測發(fā)光部件與光敏電阻之間的阻擋等級,依據(jù)該阻擋等級控制智能投影儀的播放狀態(tài)。本申請?zhí)峁┑募夹g(shù)方案具有用戶體驗度高的優(yōu)點。
技術(shù)領(lǐng)域
本申請涉及電子技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種使用ADC檢測光耦方法、智能投影儀及相關(guān)產(chǎn)品。
背景技術(shù)
投影技術(shù)在人們?nèi)粘I钪械玫狡毡榈膽?yīng)用。無論在會議、教學(xué)或是娛樂場所都隨處可見投影系統(tǒng)的使用。在用光電耦合器做行程檢測的應(yīng)用上,傳統(tǒng)方法是用GPIO來檢測光源是否被阻擋,若全部被阻擋GPIO電壓為3.3V,檢測值為1,若完全未阻擋,GPIO電壓為0V,檢測值為0。但是實際使用過程中,會存在只有部分光線被阻擋的情況,此時,用GPIO來判斷狀態(tài)就會存在不確定性,如果在精度要求較高的場景下使用,無法滿足用戶的要求。
發(fā)明內(nèi)容
本申請實施例提供了一種使用ADC檢測光耦方法、智能投影儀及相關(guān)產(chǎn)品,能夠?qū)崿F(xiàn)高精度的要求,提升了用戶體驗。
第一方面,本申請實施例提供一種使用ADC檢測光耦方法,應(yīng)用于智能投影儀,所述方法包括:
智能投影儀檢測ADC電壓值;
智能投影儀依據(jù)該ADC電壓值計算得到光照強(qiáng)度值;
智能投影儀依據(jù)該光照強(qiáng)度值推測發(fā)光部件與光敏電阻之間的阻擋等級,依據(jù)該阻擋等級控制智能投影儀的播放狀態(tài)。
第二方面,提供一種使用ADC檢測光耦裝置,應(yīng)用于智能投影儀,所述裝置包括:
檢測單元,用于檢測ADC電壓值;
處理單元,用于依據(jù)該ADC電壓值計算得到光照強(qiáng)度值;依據(jù)該光照強(qiáng)度值推測發(fā)光部件與光敏電阻之間的阻擋等級,依據(jù)該阻擋等級控制智能投影儀的播放狀態(tài)。
第三方面,本申請實施例提供了一種智能投影儀,包括處理器、存儲器、通信接口以及一個或多個程序,其中,上述一個或多個程序被存儲在上述存儲器中,并且被配置由上述處理器執(zhí)行,上述程序包括用于執(zhí)行本申請實施例第一方面中的步驟的指令。
第四方面,本申請實施例提供了一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),其中,上述計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)存儲用于電子數(shù)據(jù)交換的計算機(jī)程序,其中,上述計算機(jī)程序使得計算機(jī)執(zhí)行如本申請實施例第一方面中所描述的部分或全部步驟。
第五方面,本申請實施例提供了一種計算機(jī)程序產(chǎn)品,其中,上述計算機(jī)程序產(chǎn)品包括存儲了計算機(jī)程序的非瞬時性計算機(jī)可讀存儲介質(zhì),上述計算機(jī)程序可操作來使計算機(jī)執(zhí)行如本申請實施例第一方面中所描述的部分或全部步驟。該計算機(jī)程序產(chǎn)品可以為一個軟件安裝包。
實施本申請實施例,具備如下有益效果:
可以看出,本申請的技術(shù)方案通過ADC來檢測光耦的狀態(tài),將光耦狀態(tài)從0與1兩種狀態(tài),提高到0~255種狀,大大提高檢測精度,最大限度消除誤差。
附圖說明
為了更清楚地說明本申請實施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案,下面將對實施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹,顯而易見地,下面描述中的附圖僅僅是本申請的一些實施例,對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講,在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下,還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。
圖1是本申請實施例提供的一種智能投影儀的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖1a是本申請?zhí)峁┑墓饷綦娮璧碾娐肥疽鈭D。
圖2是本申請實施例提供的一種使用ADC檢測光耦方法的流程示意圖。
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