[發(fā)明專利]基于聯(lián)合歷史和時(shí)間序列分析的異常表征的系統(tǒng)和方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910931056.1 | 申請(qǐng)日: | 2019-09-27 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111103851B | 公開(kāi)(公告)日: | 2022-05-03 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 樸正淏;A·拉客阿凡;R·A·羅西;多鹿陽(yáng)介;嶺岸瞳;小掠哲羲 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 帕洛阿爾托研究中心公司;松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社 |
| 主分類號(hào): | G05B19/418 | 分類號(hào): | G05B19/418;G01D21/02 |
| 代理公司: | 中國(guó)專利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 劉春元 |
| 地址: | 美國(guó)加利*** | 國(guó)省代碼: | 暫無(wú)信息 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 基于 聯(lián)合 歷史 時(shí)間 序列 分析 異常 表征 系統(tǒng) 方法 | ||
1.一種用于促進(jìn)異常檢測(cè)和表征的計(jì)算機(jī)實(shí)現(xiàn)的方法,所述方法包括:
由計(jì)算設(shè)備確定包括多個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)的第一組測(cè)試數(shù)據(jù),其中所述第一組包括第一變量和一個(gè)或多個(gè)第二變量的數(shù)據(jù)序列,并且其中所述一個(gè)或多個(gè)第二變量取決于所述第一變量;
通過(guò)將所述第一組測(cè)試數(shù)據(jù)分成多個(gè)組并且對(duì)每個(gè)相應(yīng)組中的數(shù)據(jù)執(zhí)行四分位距分析來(lái)識(shí)別異常;
從所述第一組測(cè)試數(shù)據(jù)獲取第二組測(cè)試數(shù)據(jù),所述第二組測(cè)試數(shù)據(jù)包括來(lái)自在當(dāng)前時(shí)間之前小于預(yù)先確定的時(shí)間段處出現(xiàn)的最近時(shí)間段的數(shù)據(jù)序列,并且還包括來(lái)自所識(shí)別的異常的第一數(shù)據(jù)點(diǎn);以及
響應(yīng)于確定所述第二組測(cè)試數(shù)據(jù)的導(dǎo)數(shù)的量值大于第一預(yù)先確定的閾值而將所述第一數(shù)據(jù)點(diǎn)分類為第一類型的異常,其中所述第一類型的異常與以下中的一者或多者相關(guān)聯(lián):控制參數(shù)的浪涌;開(kāi)/關(guān)事件;和所述控制參數(shù)的突然瞬時(shí)變化,
從而基于對(duì)所述第一組測(cè)試數(shù)據(jù)的歷史分析和對(duì)所述第二組測(cè)試數(shù)據(jù)的最近時(shí)間序列分析來(lái)增強(qiáng)所述數(shù)據(jù)序列的數(shù)據(jù)挖掘和異常值檢測(cè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,其中所述第一變量或所述一個(gè)或多個(gè)第二變量為以下中的一者或多者:
參數(shù),所述參數(shù)與參與獲取所述第一組測(cè)試數(shù)據(jù)的物理設(shè)備相關(guān)聯(lián),
其中所述參數(shù)為以下中的一者或多者:
溫度值;
計(jì)數(shù)、數(shù)量或其他單位,所述計(jì)數(shù)、數(shù)量或其他單位用于測(cè)量生產(chǎn);
材料的流量單位或量度;
材料的壓力單位或量度;和
任何參數(shù),所述任何參數(shù)能夠在測(cè)量另一個(gè)參數(shù)時(shí)用作控制參數(shù)。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的方法,其中所述物理設(shè)備是傳感器、智能儀表、物聯(lián)網(wǎng)(IoT)設(shè)備和能夠測(cè)量所述參數(shù)的任何設(shè)備中的一者或多者。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括:
響應(yīng)于確定所述第二組測(cè)試數(shù)據(jù)的所述導(dǎo)數(shù)的所述量值不大于所述第一預(yù)先確定的閾值而將所述第一數(shù)據(jù)點(diǎn)分類為第二類型的異常。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的方法,
其中所述第二類型的異常與穩(wěn)態(tài)異常相關(guān)聯(lián)。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括:
通過(guò)確定被分類為異常并且能夠歸因于所述控制參數(shù)的浪涌、所述開(kāi)/關(guān)事件或所述控制參數(shù)的所述突然瞬時(shí)變化的第三組數(shù)據(jù)點(diǎn)來(lái)檢測(cè)指示與參與獲取所述第一組測(cè)試數(shù)據(jù)的物理設(shè)備相關(guān)聯(lián)的高浪涌的趨勢(shì)。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的方法,還包括:
響應(yīng)于確定所述趨勢(shì)不大于第二預(yù)先確定的閾值,確定所述物理設(shè)備正在經(jīng)歷正常操作;以及
響應(yīng)于確定所述趨勢(shì)大于所述第二預(yù)先確定的閾值,確定所述物理設(shè)備正在經(jīng)歷劣化。
8.根據(jù)權(quán)利要求1所述的方法,還包括:
由所述計(jì)算設(shè)備的用戶基于一組預(yù)先確定的條件將所述第一數(shù)據(jù)點(diǎn)分類為所述第一類型的異常;
由所述計(jì)算設(shè)備的所述用戶執(zhí)行處理所分類的異常的動(dòng)作,
其中所述動(dòng)作包括以下中的一者或多者:
補(bǔ)救或糾正動(dòng)作,用以確保所分類的異常不再發(fā)生;
調(diào)節(jié)影響所述第一變量或所述一個(gè)或多個(gè)第二變量的物理參數(shù);以及
調(diào)節(jié)從中獲取所述數(shù)據(jù)序列的設(shè)備的物理部件。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于帕洛阿爾托研究中心公司;松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社,未經(jīng)帕洛阿爾托研究中心公司;松下電器產(chǎn)業(yè)株式會(huì)社許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買(mǎi)此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
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