[發明專利]自動切腳機

有效

• 申請號: 201910851025.5
• 申請日: 2019-09-10
• 公開（公告）號: CN112547989B
• 公開（公告）日: 2023-07-25
• 發明（設計）人: 楊進田;秦崇進;來建輝
• 申請（專利權）人: 億光電子(中國)有限公司
• 主分類號: B21F11/00
• 分類號: B21F11/00;B21F23/00;B21C51/00
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 王博

本發明提供了一種自動切腳機，用于切除一組電子元件的引腳，所述一組電子元件中各電子元件的一引腳連接至一支撐件，所述自動切腳機包括：上料機構，從多組電子元件中選取一組電子元件；夾持機構，夾持和移動一組電子元件；檢測機構，對所述夾持機構輸送來的一組電子元件進行檢測，并記錄一組電子元件中缺陷電子元件的位置；第一切除機構，根據所述檢測機構記錄的缺陷電子元件的位置，對所述夾持機構輸送來的缺陷電子元件的引腳進行切除；第二切除機構，對所述夾持機構輸送來的一組電子元件中經第一切除機構切除后剩余的電子元件進行引腳切除。

技術領域

本發明主要涉及電子元件制造領域，尤其涉及一種自動切腳機。

背景技術

在電子元件的制造過程中，往往是批量生產多個電子元件，再進行檢測、切割和分裝。對于具有多個引腳的一組電子元件來說，該多個電子元件的引腳中的一個或多個連接在同一個支撐件上，這樣可以利用測試機對該組電子元件同時進行檢測。測試機對電子元件的檢測包括檢測電子元件的各個引腳是否有虛焊、線路是否導通等。通常需要人工地將一組電子元件放置在測試機上，待檢測完畢之后再人工的將該組電子元件取下來，即進行人工上下料。當檢測到有不良的電子元件時，再對該不良電子元件進行手工剪切。這樣的操作過程具有以下缺點：

(1)采用人工對測試機進行上下料，速度慢，造成生成力低下；

(2)采用人工對測試機進行上下料，容易造成電子元件的定位不準，從而使測試機發生誤判，使良品率下降；

(3)采用人工對不良的電子元件進行手工剪切，剪切尺寸難以標準化，導致剪切尺寸差異大，造成電子元件的引腳長短不一，影響電子元件的規格；

(4)采用人工對不良的電子元件進行手工剪切，容易發生缺漏，造成產品的品質隱患。

(5)采用人工對測試機進行上下料、不良品剪切等，效率低下，浪費人工。

發明內容

本發明要解決的技術問題是提供一種可以連續自動化的檢測和切除電子元件引腳的自動切腳機。

為解決上述技術問題，本發明提供了一種自動切腳機，用于切除一組電子元件的引腳，所述一組電子元件中各電子元件的一引腳連接至一支撐件，所述自動切腳機包括：上料機構，從多組電子元件中選取一組電子元件；夾持機構，夾持和移動一組電子元件；檢測機構，對所述夾持機構輸送來的一組電子元件進行檢測，并記錄一組電子元件中缺陷電子元件的位置；第一切除機構，根據所述檢測機構記錄的缺陷電子元件的位置，對所述夾持機構輸送來的缺陷電子元件的引腳進行切除；以及第二切除機構，對所述夾持機構輸送來的一組電子元件中經第一切除機構切除后剩余的電子元件進行引腳切除。

在本發明的一實施例中，所述夾持機構具有多個，多個所述夾持機構間隔設置。

在本發明的一實施例中，多個所述夾持機構等間距間隔設置。

在本發明的一實施例中，所述檢測機構具有多個，各所述檢測機構適于對一組電子元件進行檢測。

在本發明的一實施例中，所述夾持機構包括多個夾爪和氣缸，所述氣缸適于驅動所述夾爪開閉。

在本發明的一實施例中，所述夾持機構包括絲桿，所述絲桿適于移動所述夾爪。

在本發明的一實施例中，所述檢測機構還包括可移動的支撐臺，所述支撐臺適于支撐待檢測的一組電子元件，并沿一方向帶動所述待檢測的一組電子元件移動。

在本發明的一實施例中，所述檢測機構還包括絲桿，所述絲桿適于移動所述支撐臺。

在本發明的一實施例中，所述上料機構包括推動器，所述推動器從放置有多組電子元件的儲料倉中推出一組電子元件。

在本發明的一實施例中，還包括一收料機構，所述收料機構用于接收經所述第二切除機構切除的電子元件。