[發(fā)明專利]一種掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法、裝置及設(shè)備

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201910838337.2
• 申請(qǐng)日: 2019-09-05
• 公開（公告）號(hào): CN110704255B
• 公開（公告）日: 2022-07-22
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉福東
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號(hào): G06F11/22
• 分類號(hào): G06F11/22;G01R31/00
• 代理公司: 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11227
• 代理人: 薛嬌

1.一種掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法，其特征在于，包括：

獲取固態(tài)硬盤SSD檢測(cè)自身的儲(chǔ)能電容所需的自檢時(shí)長(zhǎng)；

控制所述SSD的電源管理單元PMIC開始檢測(cè)所述儲(chǔ)能電容；

在所述儲(chǔ)能電容的檢測(cè)過程達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)時(shí)，切斷所述SSD的電源，以便觀察所述儲(chǔ)能電容的剩余電量是否能夠完成掉電保護(hù)；

其中，所述預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)不大于所述自檢時(shí)長(zhǎng)。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法，其特征在于，所述獲取固態(tài)硬盤SSD檢測(cè)自身的儲(chǔ)能電容所需的自檢時(shí)長(zhǎng)具體為：

控制SSD的所述PMIC檢測(cè)儲(chǔ)能電容并記錄檢測(cè)所用的單次測(cè)試時(shí)長(zhǎng)；

將第一檢測(cè)次數(shù)加1并判斷所述第一檢測(cè)次數(shù)是否達(dá)到第一預(yù)設(shè)閾值；

若是，則將所有的所述單次測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的平均值作為自檢時(shí)長(zhǎng)；

否則返回步驟：控制SSD的所述PMIC檢測(cè)儲(chǔ)能電容并記錄檢測(cè)所用的單次測(cè)試時(shí)長(zhǎng)。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法，其特征在于，所述第一檢測(cè)次數(shù)的初始值為0，所述第一預(yù)設(shè)閾值為50。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法，其特征在于，所述切斷所述SSD的電源之后，該掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法還包括：

將第二檢測(cè)次數(shù)加1并判斷所述第二檢測(cè)次數(shù)是否達(dá)到第二預(yù)設(shè)閾值：

若否，則返回步驟：控制所述SSD的電源管理單元PMIC開始檢測(cè)所述儲(chǔ)能電容。

5.根據(jù)權(quán)利要求1至4任一項(xiàng)所述的掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法，其特征在于，所述預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)等于所述自檢時(shí)長(zhǎng)。

6.一種掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)裝置，其特征在于，包括：

獲取模塊，用于獲取固態(tài)硬盤SSD檢測(cè)自身的儲(chǔ)能電容所需的自檢時(shí)長(zhǎng)；

控制模塊，用于控制所述SSD的電源管理單元PMIC開始檢測(cè)所述儲(chǔ)能電容；

切斷模塊，用于在所述儲(chǔ)能電容的檢測(cè)過程達(dá)到預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)時(shí)，切斷所述SSD的電源，以便觀察所述儲(chǔ)能電容的剩余電量是否能夠完成掉電保護(hù)；

其中，所述預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)不大于所述自檢時(shí)長(zhǎng)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述獲取模塊包括：

記錄模塊，用于控制SSD的所述PMIC檢測(cè)儲(chǔ)能電容并記錄檢測(cè)所用的單次測(cè)試時(shí)長(zhǎng)；

判斷模塊，用于將第一檢測(cè)次數(shù)加1并判斷所述第一檢測(cè)次數(shù)是否達(dá)到第一預(yù)設(shè)閾值，若是，則觸發(fā)確定模塊，否則觸發(fā)循環(huán)模塊；

所述確定模塊，用于將所有的所述單次測(cè)試時(shí)長(zhǎng)的平均值作為自檢時(shí)長(zhǎng)；

循環(huán)模塊，用于返回步驟：控制SSD的所述PMIC檢測(cè)儲(chǔ)能電容并記錄檢測(cè)所用的單次測(cè)試時(shí)長(zhǎng)。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述第一檢測(cè)次數(shù)的初始值為0，所述第一預(yù)設(shè)閾值為50。

9.根據(jù)權(quán)利要求7或8所述的掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)裝置，其特征在于，所述預(yù)設(shè)時(shí)長(zhǎng)等于所述自檢時(shí)長(zhǎng)。

10.一種掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)設(shè)備，其特征在于，包括：

存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)計(jì)算機(jī)程序；

處理器，用于執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)如權(quán)利要求1至5任一項(xiàng)所述掉電保護(hù)功能可靠性的檢測(cè)方法的步驟。