[發明專利]一種電子產品外殼絲印缺陷的檢測方法

有效

• 申請號: 201910829205.3
• 申請日: 2019-09-03
• 公開（公告）號: CN110533660B
• 公開（公告）日: 2023-05-30
• 發明（設計）人: 毛亮;張立興;孟春嬋
• 申請（專利權）人: 博科視（蘇州）技術有限公司
• 主分類號: G06T7/00
• 分類號: G06T7/00;G06T7/11;G06T7/136;G06T7/155;G06T7/62;G06T5/00
• 代理公司: 北京匯捷知識產權代理事務所(普通合伙) 11531
• 代理人: 馬金華

1.一種電子產品外殼絲印缺陷的檢測方法，其特征在于，包括如下步驟：

步驟S1：對絲印合格的電子產品外殼進行拍照，采集一張能作為絲印缺陷判定標準的模板圖像；

步驟S2：打開模板設置軟件進行設置，加載模板圖像進行處理并保存為模板文件；

步驟S3：對待檢測的電子產品外殼進行拍照，采集一張待檢測電子產品外殼的待檢圖像；

步驟S4：加載模板文件，根據模板文件保存的模板圖像對待檢圖像進行處理，提取待檢圖像絲印區域的連通域的特征；

步驟S5：將待檢圖像絲印區域的各個連通域分別和所對應的模板圖像絲印區域的各個連通域相互計算基于位置關系的歐式距離進行一對一匹配；

步驟S6：將模板圖像絲印區域的連通域與待檢圖像絲印區域的連通域進行逐一匹配配對，并檢測待檢圖像連通域所對應的絲印圖案是否存在絲印缺陷；

其中，在步驟S6中，與模板圖像絲印區域的連通域匹配成功的待檢圖像絲印區域的連通域，通過以下方法進行檢測的：

步驟S601：以待檢圖像連通域的中心點為區域中心、以待檢圖像連通域的長寬為區域基本長寬、在設定的步長和縮放倍數范圍內相對區域中心對區域進行縮放，每縮放一次就能得到一個候選比較區域；

步驟S602：分別找出各個候選比較區域在待檢圖像絲印區域灰度圖上所對應的區域圖像；

步驟S603：將各個區域圖像分別歸一化至相匹配的模板圖像連通域在模板圖像絲印區域灰度圖上所對應的圖像區域的大小并且歸一化后在與圖像區域內的圖像進行做差來得到差值圖；

步驟S604：以設定的最小差異閾值作為各個差值圖的二值化閾值對各個差值圖進行二值化運算來得到二值化圖；

步驟605：對計算得到的各個二值化圖進行前景總面積的統計，接著取前景總面積最小的二值化圖所對應的那個候選比較區域作為最佳配準位置，并且提取前景總面積最小的二值化圖的各個連通域，并計算各個連通域的特征；

步驟S606：判斷提取的各個連通域的特征中是否存在超過設定的最小絲印缺陷特征的對象；如果存在，將超過的各個連通域所對應的缺陷區域在待檢圖像連通域所對應的絲印圖案上標識出來。

2.根據權利要求1所述的電子產品外殼絲印缺陷的檢測方法，其特征在于，其特征在于，步驟S2具體包括如下步驟：

步驟S201：通過模板設置軟件對模板圖像中的絲印區域進行框選，將框選區域拷貝出來并轉變成為灰度圖；

步驟S202：對灰度圖進行二值化處理，通過調節二值化算法參數，得到符合要求的二值化圖；

步驟S203：對二值化圖進行形態學濾波去除二值化圖中的小塊噪聲；

步驟S204：提取二值化圖中的各個連通域，并且計算各個連通域的基本特征；

步驟S205：將對模板圖像處理的過程中涉及的步驟、參數、圖片、數據保存成模板文件。

3.根據權利要求2所述的電子產品外殼絲印缺陷的檢測方法，其特征在于，其特征在于，步驟S4具體包括如下步驟：

步驟S401：根據模板文件保存的模板圖像絲印區域的框選位置和范圍對待檢圖像中的絲印區域進行框選，

步驟S402：將待檢圖像的框選區域拷貝出來并轉變為灰度圖；

步驟S403：根據模板文件中的二值化參數對待檢圖像的灰度圖進行二值化并得到二值化圖；

步驟S404：根據模板文件中的形態學濾波參數對二值化圖進行形態學濾波去除二值化圖中的小塊噪聲；

步驟S405：提取二值化圖中的各個連通域，并且計算各個連通域的基本特征。