[發明專利]一種星載單粒子鎖定檢測恢復電路

有效

• 申請號: 201910815543.1
• 申請日: 2019-08-30
• 公開（公告）號: CN110426551B
• 公開（公告）日: 2023-01-20
• 發明（設計）人: 郝廣凱;陸衛強;徐躍峰;華伊;陳劼;田瑞甫;雷鳴
• 申請（專利權）人: 上海航天測控通信研究所
• 主分類號: G01R19/165
• 分類號: G01R19/165;G01R19/25;G05B19/042
• 代理公司: 上海漢聲知識產權代理有限公司 31236
• 代理人: 胡晶

1.一種星載單粒子鎖定檢測恢復電路，其特征在于，包括電流檢測放大電路、ADC采集電路、MOSFET開關電路和鎖定判斷處理電路，其中，

所述電流檢測放大電路檢測若干路二次電源的電流，并將每路電流分別轉換為微弱的電壓值經放大后輸出；

所述ADC采集電路采集所述電流檢測放大電路輸出的若干路模擬電壓值，并將每路模擬電壓值分別轉換為相應的數字信號發送至所述鎖定判斷處理電路；

所述鎖定判斷處理電路分別根據每路數字信號判斷該路電路是否單粒子鎖定，并相應輸出MOSFET使能控制信號輸出至所述MOSFET開關電路；

所述MOSFET開關電路根據所述MOSFET使能控制信號控制二次電源的通斷，從而實現抗單粒子鎖定功能；

其中，所述鎖定判斷處理電路對所述數字信號求平均值，將所述平均值與對應工作模式下的單粒子鎖定電流閾值進行比較：如果所述平均值小于單粒子鎖定電流閾值，則判斷電路未發生單粒子鎖定現象，所述鎖定判斷處理電路輸出的MOSFET使能控制信號為低電平；如果所述平均值大于單粒子鎖定電流閾值，且持續時間超過電流閾值時間，則判斷電路發生單粒子鎖定現象，所述鎖定判斷處理電路輸出的MOSFET使能控制信號為高電平,以關斷二次電源輸出，并在一定時間后輸出的MOSFET使能控制信號為低電平，實現抗單粒子鎖定恢復功能；

所述鎖定判斷處理電路包括微處理器芯片D2；其中，

所述ADC采集電路的ADC采集芯片D1的使能信號1腳連接至所述微處理器芯片D2的輸出端；

所述ADC采集芯片D1的控制信號14腳連接至所述微處理器芯片D2的輸出端；

所述ADC采集芯片D1的時鐘信號16腳連接至所述微處理器芯片D2的輸出端；

所述ADC采集芯片D1的輸出信號15腳連接至所述微處理器芯片D2的輸入端；

所述微處理器芯片D2的若干路MOSFET使能控制信號標志輸出至相應的單機遙測處理模塊；

所述微處理器芯片D2的若干路所述MOSFET使能控制信號分別連接至所述MOSFET開關電路。

2.根據權利要求1所述的星載單粒子鎖定檢測恢復電路，其特征在于，所述電流檢測放大電路包括精密取樣電阻RC1*，分壓電阻R1*、R2*、R3*、R4*，濾波電容C1、C2，保護電阻R10、R12，二極管V2及放大器A1，其中，

所述精密取樣電阻RC1*串聯在二次電源輸入端與MOSFET開關電路之間，所述精密取樣電阻RC1*將流經其的電流值轉換為電壓值；

所述分壓電阻R1*兩端分別接精密取樣電阻RC1*的4端與所述放大器A1的同相輸入端；

所述分壓電阻R2*兩端分別接所述放大器A1的同相輸入端與GND；

所述分壓電阻R3*兩端分別接所述精密取樣電阻RC1*的3端與放大器A1的反相輸入端；

所述分壓電阻R4*兩端分別接所述放大器A1的反相輸入端與放大器A1的輸出端；

所述濾波電容C1兩端分別接放大器A1的同相輸入端與GND；

所述濾波電容C2兩端分別接放大器A1的反相輸入端與GND；

所述保護電阻R10兩端分別接放大器A1的輸出端與二極管V2的負端；

所述保護電阻R12兩端分別接二極管V2的負端與GND；

所述二極管V2的正端接GND。

3.根據權利要求2所述的星載單粒子鎖定檢測恢復電路，其特征在于，所述放大器A1選用OP400AY/QMLV。