[發(fā)明專利]版圖修正方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201910809085.0 | 申請(qǐng)日: | 2019-08-29 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN110515267B | 公開(kāi)(公告)日: | 2023-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 劉洋;劉建忠;顧曉敏 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 上海華力微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F1/72 | 分類號(hào): | G03F1/72;G03F1/36 |
| 代理公司: | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 曹廷廷 |
| 地址: | 201315*** | 國(guó)省代碼: | 上海;31 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 版圖 修正 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種版圖修正方法,包括:獲取原始版圖,原始版圖中包括至少兩個(gè)目標(biāo)圖案,目標(biāo)圖案中包括有第一圖形和第二圖形,第一圖形為條形結(jié)構(gòu),第一圖形和第二圖形連接,目標(biāo)圖案的第一圖形的一側(cè)或兩側(cè)設(shè)置有另一目標(biāo)圖案的第二圖形,并且,目標(biāo)圖案的第二圖形與另一目標(biāo)圖案的第二圖形間隔設(shè)置;在目標(biāo)圖案第一圖形靠近第二圖形的側(cè)邊上添加至少一個(gè)修正圖形,或者,在另一目標(biāo)圖案中與目標(biāo)圖案第一圖形所緊鄰的邊緣處,挖除至少一個(gè)圖形。采用本發(fā)明提供的版圖修正方法修正完成后,所制作出的掩膜版可以增加曝光的工藝窗口,有效地避免了斷線或粘連等工藝缺陷,從而確保了最終形成在基底上的實(shí)際圖案不會(huì)失真。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體制造技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種版圖修正方法。
背景技術(shù)
在半導(dǎo)體器件的制造過(guò)程中,通常會(huì)基于掩膜版對(duì)半導(dǎo)體基底進(jìn)行曝?光處理,從而將掩膜版上的圖案轉(zhuǎn)移到半導(dǎo)體基底上,以便后續(xù)通過(guò)對(duì)半?導(dǎo)體基底執(zhí)行顯影、刻蝕等步驟。
但是相關(guān)技術(shù)中,掩膜版上一般包括有多個(gè)目標(biāo)圖案,每個(gè)目標(biāo)圖案?具體包括兩個(gè)圖形,例如參考圖1中的目標(biāo)圖案A,包括有第一圖形A1?和第二圖形A2,所述第一圖形A1為長(zhǎng)條形,以及,所述第一圖形A1與?第二圖形A2連接,并且,第二圖形A2與第一圖形A1兩者的寬度相差較?大。與此同時(shí),所述目標(biāo)圖案A的第一圖形A1的一側(cè)相鄰設(shè)置有另一目?標(biāo)圖案B,并且,相鄰目標(biāo)圖案之間的間距較小,例如圖1中目標(biāo)圖案A?的第一圖形A1與相鄰的另一目標(biāo)圖案B的第二圖形B2相距較近。
則在此基礎(chǔ)上,基于所述掩膜版上的圖案對(duì)半導(dǎo)體基底進(jìn)行曝光時(shí),?由于每個(gè)目標(biāo)圖案的第一圖形的寬度較小,且與第二圖形的寬度相差較大,?則光線在第二圖形與第一圖形的連接處極易發(fā)生光學(xué)鄰近效應(yīng)(Optical?Proximity?Effect,OPE)而導(dǎo)致的光能分配不均的問(wèn)題,從而造成最終在基?底上形成的實(shí)際圖案中的第一圖形與第二圖形的連接處出現(xiàn)斷線現(xiàn)象;同?時(shí),由于目標(biāo)圖案A的第一圖形A1與另一目標(biāo)圖案B的第二圖形B2相距較近,則會(huì)導(dǎo)致最終形成在半導(dǎo)體基底上的實(shí)際圖案中第一圖形A1與?第二圖形B2黏連在一起,從而使得最終形成在半導(dǎo)體基底上的實(shí)際圖形嚴(yán)?重失真。
因此,亟需一種合適的版圖修正方法來(lái)對(duì)原始版圖進(jìn)行修正,補(bǔ)償失?真圖形的光強(qiáng),以便基于修正后的版圖曝光后可以有效避免斷線或粘連等?工藝問(wèn)題,同時(shí)改善目標(biāo)圖案的工藝窗口。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的在于提供一種版圖修正方法,以制造出可以補(bǔ)償失真圖?形的掩膜版。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本發(fā)明提供了一種版圖修正方法,所述方法包括:
獲取原始版圖,所述原始版圖中包括至少兩個(gè)目標(biāo)圖案,所述目標(biāo)圖?案中包括有第一圖形和第二圖形,第一圖形為條形結(jié)構(gòu),所述第一圖形和?所述第二圖形連接,所述目標(biāo)圖案的第一圖形的一側(cè)或兩側(cè)設(shè)置有另一目?標(biāo)圖案的第二圖形,并且,所述目標(biāo)圖案的第二圖形與所述另一目標(biāo)圖案?的第二圖形間隔設(shè)置;
在所述目標(biāo)圖案第一圖形靠近第二圖形的側(cè)邊上添加至少一個(gè)修正圖?形,以增加所述目標(biāo)圖案中第一圖形靠近所述第二圖形部分的寬度尺寸,?或者,在所述另一目標(biāo)圖案中與所述目標(biāo)圖案第一圖形所緊鄰的邊緣處,?挖除至少一個(gè)圖形,以增加所述另一目標(biāo)圖案與所述目標(biāo)圖案之間的間距。
可選的,所述第一圖形與所述第二圖形的連接處位于所述第二圖形的?邊緣部位,或者,位于所述第二圖形的非邊緣部位。
可選的,將所述第一圖形遠(yuǎn)離所述第二圖形一側(cè)的邊長(zhǎng)的延伸方向定?義為第一方向,以及,所述第二圖形在第一方向上的寬度尺寸與所述第一?圖形在第一方向上的寬度尺寸之比小于等于10,大于等于5。
可選的,將所述第一圖形遠(yuǎn)離所述第二圖形一側(cè)的邊長(zhǎng)的延伸方向定?義為第一方向,將所述第一圖形側(cè)邊的延伸方向定義為第二方向;
以及,在所述目標(biāo)圖案第一圖形靠近第二圖形的側(cè)邊上添加至少一個(gè)?修正圖形的方法包括:
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于上海華力微電子有限公司,未經(jīng)上海華力微電子有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/201910809085.0/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門(mén)適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過(guò)帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過(guò)電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過(guò)100nm或更短波長(zhǎng)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測(cè)試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備
- 相變存儲(chǔ)器芯片版圖結(jié)構(gòu)
- 一種溫度補(bǔ)償時(shí)鐘芯片的版圖結(jié)構(gòu)
- 一種溫度補(bǔ)償時(shí)鐘芯片的版圖結(jié)構(gòu)
- 一種采用PNP晶體管實(shí)現(xiàn)的高精度測(cè)溫芯片版圖結(jié)構(gòu)
- 光掩膜數(shù)據(jù)檢測(cè)方法、監(jiān)測(cè)結(jié)構(gòu)以及掩膜版
- 一種高速SPI接口安全芯片的版圖結(jié)構(gòu)
- 一種高靈敏度大容量射頻標(biāo)簽芯片的版圖結(jié)構(gòu)及射頻標(biāo)簽芯片
- 一種高靈敏度大容量射頻標(biāo)簽芯片的版圖結(jié)構(gòu)及射頻標(biāo)簽芯片
- 一種環(huán)形壓控振蕩器的版圖結(jié)構(gòu)
- 遮光帶版圖繪制方法、光罩版圖繪制方法及光罩版圖
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫(xiě)分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





